智慧財產法院行政判決

　　　　　　　　　　　　　　　　民國99年11月11日辯論終結

原告

萬潤科技股份有限公司

代表人

盧鏡來

訴訟代理人

邱基峻律師

訴訟代理人

黃致穎律師（兼送達代收人）

被告

經濟部智慧財產局

代表人

王美花（局長）住同上

訴訟代理人

莊榮昌

參加人

美商電子科學工業有限公司

代表人

謝章財

訴訟代理人

黃章典律師（兼送達代收人）

　　　　　　張哲倫律師

　　　　　　孫寶成專利師

上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國99年2 月9 日經訴字第09906051800 號訴願決定，提起行政訴訟，並經本院命參加人獨立參加被告之訴訟，本院判決如下︰

主文

事實及理由

一、事實概要：緣參加人美商ESI電子科技股份有限公司（原名：美商伊雷克托科學工業股份有限公司，民國92年11月17日變更公司名稱）前於85年4月30日以「電路元件裝卸裝置」向前中央標準局（88年1月26日改制為被告機關智慧財產局）申請發明專利，經被告編為第85105250號審查，准予專利，並於公告期滿後，發給發明第207469號專利證書（下稱系爭專利）。嗣參加人於93年9月9日申請更正系爭專利申請專利範圍，經被告核准後，於同年12月11日公告。嗣原告於94年11月18日以該專利有違核准時專利法第20條第2項之規定，不符發明專利要件，對之提起舉發。其間，原告曾多次提出舉發補充理由及證據，被告為釐清案情於95年11月6日、97年1月28日辦理面詢，並於96年10月8日至原告指定地點桃園縣楊梅鎮○○路820之1號年程科技股份有限公司現場勘驗機器，參加人復於96年8月15日提出系爭專利申請專利範圍更正本，原告依97年1月28日面詢時承審委員指示，於97年4月18日提出完整之爭點表及引用證據對照表。案經被告審查，以上開更正本與系爭專利93年12月11日之公告本比較，未變更實質內容等理由，准予更正，並依該更正本內容審查，核認系爭專利無違其核准時專利法第20條第2項規定，於97年8月12日以（97）智專三㈡04060字第09720420840號專利舉發審定書為「舉發不成立」之處分。原告不服，訴經經濟部以98年3月19日經訴字第09806109060號訴願決定，認被告就系爭專利96年8月15日申請專利範圍更正本多數請求項之審查有漏未審酌之瑕疵等理由，撤銷原處分。嗣被告乃依該訴願決定意旨重為審查，於98年7月22日以（98）智專三㈡04024字第09820445560號專利舉發審定書為「舉發不成立」之處分。原告不服，提起訴願，經遭駁回，遂向本院提起行政訴訟。

二、原告之主張：

㈠系爭專利於96年8月15日更正之申請專利範圍第1至17項之特徵技術均已揭示於相關之舉發證據或其組合，為該技術領域中具有通常知識者顯能輕易完成，足證系爭專利不具進步性。系爭專利各請求項內，均有共同之技術特徵a到h，且依原處分及訴願決定內容，均已明確表明前述8個技術特徵中，技術特徵(a)、(b)、(e)、(f)、(g)均已揭示於原告於舉發程序中所提證據而為習知技術，基此，可徵本件系爭專利有無進步性一事，事實上爭點在於技術特徵(c)、(d)、(h)，是否已被原告舉證內容所揭示，而屬習知技術。以下將就此3 個技術特徵，分別說明如下。

⒈就技術特徵(c)部分：

⑴被告及訴願機關均已肯認證據3、7之證據能力，參照被告所為原處分及訴願機關決定，亦未對證據3、7是否確實為CH-1200機器，及經濟部工業局所述CH-1200機台銷售日期二事，有何反對意見，更可證明證據3、7所示CH-1200 出現時點，應不晚於85年1月6日。參照證據3之照片8、9 ，可對照出載入架E的底面具有弧形凸緣11，該弧形凸緣11並對應於測試板之外緣12，藉此以承載元件，並將元件歸位於槽座中，參照參加人陳述系爭專利特徵，實可認定證據3已經明白揭示該承收、歸位功能。

⑵證據23中已見承收及歸位之技術特徵，即藉由該盤體59為緊鄰並沿著輪體25之凹槽53向外的板面而設，且輪體25呈傾斜設計並呈順時針旋轉，而有一元件流路67導向該輪體25，使元件載入於輪體25及盤體59間，藉以進行承收元件之動作，而透過元件隨機性翻滾並藉重力落入凹槽53中，以進行元件歸位之動作。參加人已自承舉發證據23之托盤59具有協助晶片置於凹槽53功能，而透過該輪盤25旋轉時藉由重力，使晶片翻滾並落入凹槽53中，其中，該托盤59具有協助晶片置於凹槽53功能即對應系爭專利之「承收元件」技術手段，而該輪盤25旋轉時藉由重力，使晶片翻滾並落入凹槽53中即對應系爭專利之「元件歸位」之技術手段，至於利用舉發證據23之托盤59的弧形壁依序向內複製多道弧形柵板為易於思及與簡單變更之手段，且在單一環座時，數弧形柵板實際上是毫無用處且多餘而無必要。因此，系爭專利要件(c)用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之坐入柵板確實為證據23所揭示。

⑶證據26於圖1、2、5及說明書第17頁第3-6行中便分別顯示出有一傾斜之送料圓盤(24)，而在送料圓盤(24)旋轉時元件流路倒向送料圓盤(24)上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入階梯槽(241)內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過送料圓盤(24)旋轉路徑圓弧上的空階梯槽(241)上方，該隨機性的翻滾導致元件落入階梯槽(241)中。換言之，證據26令元件由落料處落至盛料筒22，並由筒壁緊臨階梯槽承收，當盤旋轉時元件便能因重力而落入階梯槽中，而執行承收、歸位功能。因此，系爭專利要件(c)用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之坐入柵板確實為證據26所揭示。

⑷證據27於其所揭示之圖8及第3欄第50-57行中便顯示出有一傾斜之盤體(10)，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入袋下部(19a)內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過盤體(10)旋轉路徑圓弧上的空袋下部(19a)上方，該隨機性的翻滾導致元件落入袋下部(19a)中，以執行承收、歸位功能。因此，系爭專利要件(c)用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之坐入柵板確實為證據27所揭示。

⑸證據28於圖9、10及第2欄第24-35行中也顯示出晶片(1)隨機翻滾於元件定位裝置(4)且隨機性的落入容納部(7)中執行承收、歸位功能。因此，系爭專利要件(c)用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之坐入柵板確實為證據27所揭示。

⑹證據42在圖11中亦可見元件20隨機落入元件承載孔隙82中進行承收、歸位功能動作。顯見系爭專利之技術特徵(c)確實能輕易由上開證據之教示，簡單轉換達成，而不具進步性。

⒉就技術特徵(d)部分：

⑴證據3、7揭示了一真空吸板(M)，其上具有真空吸管(N)，且與槽座(A)之環座(B)同心緊臨，並可將真空源之吸力透過真空吸管(N)傳導至槽座(A)中，以將元件固持於槽座(A)中。因此，技術特徵c之真空吸板(9)、真空吸板上表面之整環的真空吸管(11)、低壓源及測試板底部之連結管道(13)結構，以及固持元件於特定位置之功能，均已被證據3、7所揭示。

⑵證據23之凹槽(53)相當於系爭專利之槽座，證據23之幅狀通道(77)相當於系爭專利之連結管道(13)，證據23之歧管(69)上之槽孔(73)相當於系爭專利之真空吸管(11)，基此，系爭專利之低壓源透過真空吸管(11)經連結管道( 13)將吸力傳輸至槽座中，以將元件固持於槽座中之技術手段，相當於證據23在部分真空從遠程來源，被抽引入該歧管(69)，該真空狀態可經由槽孔(73)、幅狀通道(77)及連結孔隙(79)被連通。因此，系爭專利要件(d)之技術手段確實為證據23所揭示，而不具進步性。又系爭專利之真空吸管，位在真空吸板的內部與底部，也僅是位置簡單的變化，而且參加人所稱，依證據23之技術難以改造成數個元件槽座的環座，而數個元件槽座的環座也僅是在請求項第11至17項所定，可見單一與數個為單純數量變更，並不具進步性。

⑶證據28於第9圖中亦可見在對應容納部(7)處具有吸力(10)，此吸力(10)可將晶片(1)固持於容納部(7)中；證據28的圖9、10及第2欄第24-35行亦可見複數個晶片首先隨機放置在裝置4裡，以前述之手段分別被嵌設在承座6之容接部7裡。其次，架體部件9被應用來避免晶片1從該裝置4掉落出來，之後，當透過該容接部7提供真空吸力給該方位通道5(參箭頭10所示)。由此可知，證據28必具有一真空源以產生吸力(10)，並有一真空吸管以將真空源之真空吸力(10)導引至容納部(7)，而此一技術手段，即相當於系爭專利之低壓源，透過真空吸管(11)經連結管道(13)，將吸力傳輸至槽座中，以將元件固持於槽座中之技術手段。基此，證據28確實揭示技術特徵(d)之半真空固持技術，而可認定技術特徵(d)不具進步性。

⑷證據30於圖3 及第3 欄45-62 行中，揭示一歧管室(36)，且該歧管室(36)藉一連接管(33)與孔洞(24)連接，以將空氣吸力由歧管室(36)，經連接管(33)導引至孔洞(24)。換言之，洞孔、連結管道、真空吸管等三物品相連結技術，已經於證據30中所見。此外，參加人雖稱連接管(33)與歧管室(36)在同一板，由圖3 可知並非如此( 剖面線不同)。參加人亦自承證據30之通道(33)與孔洞(24)、透過歧管室(36) 提 供至夾盤(14)。顯然系爭專利之低壓源，透過真空吸管(11)經連結管道(13)，將吸力傳輸至槽座中，以將元件固持於槽座中之技術手段，為證據30之簡單轉用，而不具進步性。

⑸證據42於圖11及第11欄第1-6行敘述，在料斗槽92中的元件，透過承載盤80上之元件承載孔隙82，承載入運送盤10的彈性層體22，元件承載會因為來源體96之震動及真空應用而變得容易。依此能證明，系爭專利之低壓源，透過真空吸管(11)經連結管道(13)，將吸力傳輸至槽座中，以將元件固持於槽座中之技術手段，為證據42之簡單轉用，而不具進步性。

⑹綜上，證據3、7已見1/3環之真空吸管、證據23已見1/2環之真空吸管，系爭專利之整環的真空吸管(11)為證據3、7之1/3環真空吸管與證據23之1/2環真空吸管的簡單延伸變更，故系爭專利之要件(d)為能輕易由證據3、7、23、28、30、42之任一簡單轉用而得，不具進步性。

⒊就技術特徵(h)部分：

⑴證據18揭示「故障排除裝置(80)」主要係用於偵測電子元件，經整列落料組後，未正確落於分料盤之置料槽內。相當於系爭專利技術手段(h)，以偵測裝置偵測槽座中是否存在元件之技術手段。故系爭專利技術手段h為證據18的簡單轉用，不具進步性。

⑵證據20之探測器(54)，主要係用於偵測轉盤置料孔(42)是否有卡料的情形，相當於技術手段(h) ，以偵測裝置偵測槽座中是否存在元件之技術手段。故技術手段(h) 為證據20的簡單轉用，不具進步性。

⑶證據23部分：

①證據23在其說明書第7 欄第24-33 行即明確表示：「元件(151) 包含一對光纖(153a/153b) ，該光纖具有分開配置之端部(155/157) ，而光纖端部在輪體(25)及承載帶驅動輪(159) 間的傳送輪周邊(101) 相對側彼此相對設置，由圖四可看出一光源體順著光纖(153a)發射光至光纖端部(155) ，於該處，光續射入傳送輪周邊(101)之偵測區(161) ，每一次光射作用時，一晶片(13)會被導引至該偵測區(161) 並於留置期間維持停留該處，而光線會被遮斷」，可知證據23乃是利用光傳輸的原理，作為偵測特定物品所在位置。

②此外，依證據23之第37-44行：「一旦晶片被導引入該偵測區(161)時而未出現於其該停留在傳送輪周邊(101)上之位置，則光源體(159)將會發射光線經過該偵測區(161)而進入光纖端部(157)，且將會透過導體(163a/163b)發送來自光源體(159)之命令於控制馬達(143)，以使浮凸物(7)之前進延遲，直到下一個被導引的晶片出現為止。」，更可見感應器是否感應到光線一事，將會左右其他零件運作，而與技術特徵h所強調，以光線感應與否，作為控制機台運作之原理，完全如出一轍。

③末查，自該證據23之一對光纖(153a/153b)，亦是設在檢查區域的兩側，可知與技術特徵h之光纖，亦採二端跨設方式之作法相同。該證據23所揭示之方式及技術手段，完全與系爭專利之技術特徵(h)如出一轍。因此，證據23可證系爭專利之技術特徵(h)不具進步性。

⑷證據25-1係使用光學感應器，感應光線是否被中斷，來偵測箝夾指體，是否位於適當位置。亦即，舉發證據25-1亦揭示一種光學式之感應器，而同樣以光束是否被中斷進行偵測。因此利用光線是否被遮斷的原理，來進行控制的手段，乃為業界所熟知慣用。證據25-1可證系爭專利技術特徵(h)所述，透過光發射導線(158)，以及其與該光纖導線(160) 間的光傳輸情形，作為偵測元件是否被噴出的技術手段，為證據25-1之簡單轉用，不具進步性。

⑸證據26之探測器(34)主要係用於偵測轉盤置料孔(432)是否有卡料的情形，相當於系爭專利技術特徵(h)，以偵測裝置偵測槽座中是否存在元件之技術手段。故技術特徵(h)為證據26的簡單轉用，不具進步性。

⑹綜上，證據18、20、23、25-1、26均已見偵測槽座中是否存在檢測元件之偵測裝置，尤其證據23在說明書第7欄第24-33行即指出，其偵測之手段，係採用二對光纖之間，有無光傳輸之方式，來達成偵測目的，與系爭專利如出一轍，而該證據26也同樣是採用光學元件，感應光束回歸與否，做為偵測元件是否存在槽座中之技術。因此系爭專利技術特徵(h)，為能輕易由證據18、20、23、25-1、26之任一簡單轉用而得，不具進步性。

㈡系爭專利申請專利範圍第2項部分，證據3、7同樣揭示有環座(B)以某角度傾斜而在環座(B)旋轉時元件流路倒向環座(B)上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座(A)內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座(B)旋轉路徑圓弧上的空槽座(A)上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座(A)中。而且證據19、20於其所揭示之圖式的圖1及其申請專利範圍第1項亦皆可見一斜置送料轉盤(4)【斜置轉盤(4)】。該證據23於其所揭示之圖式的第3、5圖及第4欄第58行-第5欄第7行【併參其部分中譯本】中同樣揭示了散裝晶片元件被維持在一盤體59上之承載源57，附設於一背盤61，以螺絲63從平面支撐體33向外固設。由於支撐體23之後向傾斜，盤體59與其垂直且完全支撐該承載源57。背盤61配置鄰近於後平面27b 以避免晶片元件在凹槽53中出入滑移，但與平面27有足夠的距離以允許輪體25無限制自由旋轉，該盤體59同樣緊密環繞該輪體周圍49之下部配置以幫助保留該晶片元件於凹槽53中，但與周圍49有足夠距離以允許輪體25無限制自由旋轉，當輪體25以箭頭方向(順時鐘方向) 旋轉時，揀選裝置51以一向上移動回覆路徑通過該承載源57。該舉發證據26於其所揭示之圖式的圖1 、2、5 及說明書第17頁第3-6 行中便分別顯示出有一傾斜之送料圓盤(24)，而在送料圓盤(24)旋轉時元件流路倒向送料圓盤(24)上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入階梯槽(241) 內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過送料圓盤(24)旋轉路徑圓弧上的空階梯槽(241) 上方，該隨機性的翻滾導致元件落入階梯槽(241)中。證據27於其所揭示之圖8 及第3 欄第50-57 行中便顯示出有一傾斜之盤體(10)，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入袋下部(19a) 內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過盤體(10)旋轉路徑圓弧上的空袋下部(19a) 上方，該隨機性的翻滾導致元件落入袋下部(19 a)中。證據28於圖9 、10及第2 欄第24-35 行中也顯示出晶片(1) 隨機翻滾於元件定位裝置(4) 且隨機性的落入容納部(7) 中。證據42在圖11中亦可見元件20隨機落入元件承載孔隙82中。系爭專利案在申請專利範圍第2 項所界定之「該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒向環座上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空槽座上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座中」的結構特徵為證據3 、7 、19、20、23、26、27、28、42 之 任一所揭示，且系爭專利申請專利範圍第2 項「該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒向環座上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空槽座上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座中」之特徵技術效果與證據3 、7、19、20、23、26、27、28、42之任一之技術效果相較後並無不同，因此系爭專利之申請專利範圍第2 項並未產生無法預期之功效，應認定系爭專利申請專利範圍第2 項之結構為該技術領域中具有通常知識者顯能輕易完成者，不具進步性，有違專利法第20條第2項 之規定。

㈢系爭專利申請專利範圍第5項部分，證據3、7揭示了一真空吸板(M)，其上具有真空吸管(N)，且與槽座(A)之環座(B)同心緊臨，並可將真空源之吸力透過真空吸管(N)傳導至槽座(A)中。舉發證據23圖6、7及第5欄第44-55行中便揭示了一第一中空環狀真空歧管(69)藉由螺絲(71)嵌設於平面支撐架(23)上、該輪盤(25)之後、鄰近該周緣部(49)之一部分且緊密接觸該輪後面(27b)，一槽孔(73)形成於該歧管(69)內，臨近該輪後側平面(27b)且連通一系列孔隙(75)，該些孔隙(75)係成形於該後表面(27b)裡且等距配置，該槽孔(73)連通幅狀通道(77)及連結孔隙(79)，該連結孔隙(79)形成於該每一凹槽(53)之基部(參圖7)。當部分真空從遠程來源被抽引入該歧管(69)，該真空狀態可經由槽孔(73)、孔隙(75)、幅狀通道(77)及連結孔隙(79)被連通。舉發證據28於第9圖中亦可見在對應容納部(7)處具有吸力(10)，此吸力(10)可將晶片(1)固持於容納部(7)中；由此可推論得知，其必具有一真空源以產生吸力(10)，並有一真空吸管以將真空源之真空吸力(10)導引至容納部(7)。證據28的圖9、10及第2欄第24-35行亦可見：複數個晶片首先隨機放置在裝置4裡，以前述之手段分別被嵌設在承座6之容接部7裡。這次，架體部件9被應用來避免晶片1從該裝置4掉落出來，之後，當透過該容接部7提供真空吸力給該方位通道5(參箭頭10所示)。證據30於圖3及第3欄45-62中便揭示一歧管室(36)且該歧管室(36)藉一連接管(33)與孔洞(24)連接，以將空氣吸力由歧管室(36)經連接管(33)導引至孔洞(24)。證據42於圖11及第11欄第1-6行在料斗槽92中的元件透過承載盤80上之元件承載孔隙82承載入運送盤10的彈性層體22，元件承載會因為來源體96之震動及真空應用而變得容易。系爭專利申請專利範圍第5項「該半真空吸引機構包括：(1) 一半真空源；(2) 一由固定盤所界定的真空吸管並連接至該半真空源，而真空吸管係與槽座之環座同心並緊鄰；以及(3) 數個由可旋轉盤所界定之連接管，每槽座各一，該連接管將半真空吸力由真空吸管傳導至其對應的槽座中」之特徵技術效果與舉發證據3 、7、23、28、30、42之任一之技術效果相較後並無不同，因此系爭專利之申請專利範圍第5 項並未產生無法預期之功效，應認定系爭專利申請專利範圍第5 項之結構為該技術領域中具有通常知識者顯能輕易完成者，不具進步性，有違專利法第20條第2 項之規定。

㈣系爭專利申請專利範圍第6項部分，證據3、7其環座(B)上之槽座(A)亦是呈等角間距設置，並採用步進馬達(D)間歇性傳動環座(B)旋轉。證據17之第三圖及申請專利範圍第1項揭示了「進料轉盤上以輻射狀方式等分設置置料穴」及「動力裝置傳遞著步進動力」之技術；證據18的第一圖及申請專利範圍第1項同樣揭示了「於分料盤盤緣等距分隔形成數多置料槽，且分料盤可被步進轉動」之設計；證據19在圖2及申請專利範圍第1項亦可見「斜置送料轉盤上具有等角間距之置料孔」，以及「在座板底面連設一步進迴轉動力裝置以傳動斜置送料轉盤」之技術。證據20的圖2及申請專利範圍第1項也揭示了「一步進動力裝置，以傳動斜置轉盤步進迴轉」與「斜置轉盤周緣延設一輸料環，輸料環上等份設置諸多置料孔」之手段。又證據25-1的圖5及圖8已見「在測試輪(32)周緣等份設置之承載部件(45)及步進帶動測試輪(32)之步進馬達(53)」，證據26在圖12、13及申請專利範圍第1項揭示有「基座底面固設一步進迴轉動力裝置，以傳動斜置送料轉盤，該斜置送料轉盤周緣的輸料環面上等距穿設諸多置料孔」。證據27在第5圖及第8圖也可見「在盤體(10)周緣等份設置之孔洞(19)及帶動盤體(10)之馬達(12)」。證據31係於圖3及第7欄第8-11行中便揭示指示輪35為藉由一指引馬達37呈預定角度環向旋轉且為具有複數個電阻容接座或搪孔38(可參圖3及5)，每一次，該輪體被指引過一距離，亦即：等同於相鄰搪孔38間之分開距離。舉發證據32於圖4及第6欄第72-73行中即可見一鼓形構件(22)的周邊具有數多等角間距設立之凹口(31)，且該鼓形構件(22)由一步進馬達(23)所傳動。證據33在圖3、圖4及說明書第5頁倒數第5行、第7頁倒數最後一行便分別接露並說明「通孔111-118以相等的角度分布在鼓形部件11b上」及「分度單元110可以是採用間歇裝置的分度盤」。系爭專利申請專利範圍第6項「環座中之槽座係以相同之角間距分佈，而環座以固定增量方式旋轉，該旋轉增量及相鄰槽座間的角間距。」之特徵技術效果與舉發證據3、7、17、18、19、20、25-1、26、27、31、32、33之任一之技術效果相較後並無不同，因此系爭專利之申請專利範圍第6項並未產生無法預期之功效，應認定系爭專利申請專利範圍第6項之結構為該技術領域中具有通常知識者顯能輕易完成者，故系爭專利之申請專利範圍第6項確實不具進步性，有違專利法第20條第2項之規定。

㈤系爭專利申請專利範圍第10項部分：

⒈證據3、7已見其環座(B)上之槽座(A)亦是呈等角間距設置，並採用步進馬達(D)間歇性傳動環座(B)旋轉。舉發證據17之圖3及申請專利範圍第1項揭示了「進料轉盤上以輻射狀方式等分設置置料穴」及「動力裝置傳遞著步進動力」之技術。證據18的圖1及申請專利範圍第1項同樣揭示了「於分料盤盤緣等距分隔形成數多置料槽，且分料盤可被步進轉動」之設計。舉發證據19在圖2及申請專利範圍第1項亦可見「斜置送料轉盤上具有等角間距之置料孔」，以及「在座板底面連設一步進迴轉動力裝置以傳動斜置送料轉盤」之技術。證據20的圖2及申請專利範圍第1項也揭示了「一步進動力裝置，以傳動斜置轉盤步進迴轉」與「斜置轉盤周緣延設一輸料環，輸料環上等份設置諸多置料孔」之手段。又證據25-1的圖5及圖8已見「在測試輪(32)周緣等份設置之承載部件(45)及步進帶動測試輪(32) 之步進馬達( 53) 」；證據26在圖12、13及申請專利範圍第1項揭示有「基座底面固設一步進迴轉動力裝置，以傳動斜置送料轉盤，該斜置送料轉盤周緣的輸料環面上等距穿設諸多置料孔」；舉發證據27在圖5及圖8【併參其部分中譯本】也可見「在盤體(10)周緣等份設置之孔洞(19)及帶動盤體(10)之馬達(12)」。證據31於圖3及第7欄第8-11行中便揭示指示輪35為藉由一指引馬達37呈預定角度環向旋轉且為具有複數個電阻容接座或搪孔38(可參圖3及5)，每一次，該輪體被指引過一距離，亦即:等同於相鄰搪孔38間之分開距離。證據32於圖4及第6欄第72-73行中即可見一鼓形構件(22)的周邊具有數多等角間距設立之凹口(31)，且該鼓形構件(22)由一步進馬達(23)所傳動。舉發證據33在圖3、圖4及說明書第5頁倒數第5行、第7頁倒數最後一行便分別接露並說明「通孔111-118以相等的角度分布在鼓形部件11b上」及「分度單元11o可以是採用間歇裝置的分度盤」。

⒉再者，證據3、7尚揭示一可將檢測完成之元件自槽座(A)中噴出至所選定的儲盒(I)之噴出機構(J)，其中該噴出機構(J)具設有數噴出孔(L)之真空吸板(M)、可將由噴出孔(L)噴出之元件導引至儲盒(I)中之噴出管(K)以及用以選擇性將空氣加諸於與噴出孔(L)對應的槽座(A)內，以將槽座(A )中之元件噴入對應之噴出管(K)中之觸動氣壓機構(O)。證據19、20在申請專利範圍第1項亦均揭示有數分類儲存容器、分類下料機構及其噴氣孔道，該分類下料機構係設置於斜置進料轉盤的置料孔步進定位點上，並藉由噴氣孔道以空氣將電子元件吹入分類儲存容器中。證據25-1第2欄第50-62 行揭示一連接於櫃體16另一部份之測試裝置之測試電路31輸入端子為鄰近裝置28。此測試電路31之詳細資料在圖11，其隨後會再描述。該承載裝置24、矯直機28及測試電路31接嵌設在基部15之環部，其亦支撐該測試輪32及複數個容器33，以容接該測試電晶體。一容槽34設於每一容器之上，其用來將所卸放之電晶體導入其相關聯之容器33內。該測試輪32，電晶體箝夾及一組卸放螺線管35皆被一平面保護套盤36覆蓋。證據26在其說明書第14、15頁即揭示。舉發證據31於其圖5及第8欄第25-28行中揭示。

㈥系爭專利申請專利範圍第11項部分：

⒈比對系爭專利2004年9月9日更正之申請專利範圍第12項與2007年8月15日更正後之申請專利範圍第11項二者之申請專利範圍，系爭專利在2007年8月15日更正後之申請專利範圍第11項之要件(a)至(g)與2004年12月11日公告之申請專利範圍第12項之要件(a)至(g)相同，其差異僅在2007年8月15日更正後之申請專利範圍第11項增加(h)要件：用以偵測未被噴出方式所噴出之元件的機構。

⒉惟查，(h)要件之技術手段如系爭專利申請專利範圍第5項第6-8段所述，已為前案所揭示，又系爭專利申請專利範圍第11項與申請專利範圍第1項間之差異僅在第11項中的環座具有數道同心環狀的槽座，然而此一部份除了僅是單純的數量增減技術手段而為熟習此項技術者易於思及之技術外，從原處分機關於2007年7月5日(96)智專三(二)04060字第09620375060號函認為申請專利範圍第1及12項已為前案所揭屬熟知該項技術者易於思及之作，乃要求專利權人刪除申請專利範圍第1及12項，且為專利權人所不爭執並將申請專利範圍第1及12項刪除且將其他附屬項再重新撰寫之事實，可知原處分機關亦認為「環座具有數道同心環狀的槽座」與「環座具有一道環狀的槽座」之技術與前揭證據相較均不具進步性，同時此亦為專利權人在提出申請專利範圍更正時所默認，更何況在舉發證據42中亦已揭示在圓形運送盤(10')上具有三環呈環狀排列之孔隙(24)；據此，數環之元件槽座的環座設計並不具進步性。

㈦系爭專利申請專利範圍第12項之特徵結構實際上係與申請專利範圍第2項相同，均是在「該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒向環座上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空槽座上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座中」。而就此一特徵結構已為舉發證據3、7、19、20、23、26、27、28、42之任一所揭示，因此，基於該系爭專利案之申請專利範圍第12中的(a)至(g)要件之技術手段亦均已見於證據23、證據8之任一組合證據17、18、19、20之任一，且「該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒向環座上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空槽座上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座中」之特徵結構又為證據3、7、19、20、23、26、27、28、42之任一所揭示，故系爭專利案之申請專利範圍第12確實不具進步性，並有違專利法第20條第2項之規定。

㈧系爭專利申請專利範圍第17項之結構特徵主要係在「(h)用以選擇性地將元件流路導引至各環座以坐落元件的機構」。而舉發證據18已見ㄧ整列落料組，係可接引自振動盤輸出整列之無導線電子元件；舉發證據26揭示該整列送料機構(2)整體能調整地撐設在該機體(1)上（如圖1所示），其貯料的盛料漏斗(21)出料口正下方設ㄧ槽盤(211)平常托止該盛料漏斗(21)落料，藉ㄧ電磁鐵(212)斷續地激磁該槽盤(211)之彈性支板(213)往復位移，以形成該槽盤(211)的角振動而推散盛料漏斗(21)出料口處之元件(R)落料。...該支板(213)激磁角振動時...傳動該導料盤(214)往復篩動，使所承接的落料加速順暢均勻地落入一斜置盛料筒(22)內；證據40揭示該傾斜部30以α角傾斜(此實施例α=35度)，其與容器卡盒21 之傾斜角度一樣，且具有複數個導軌31(本實施例為4個)對應各別之卡盒21；而證據41於圖3中揭示有一氣助式聚積傳遞單元，此裝置包含環繞一中心軸周圍嵌設之導道，且該導道從該水平面呈傾斜狀，以利用重力使電子元件在一圓柱體中從單元的突起端至底端縱向移動。因此，系爭專利申請專利範圍第17項所界定之(a)至(g)要件已見於證據23、證據8 之任一組合證據17、18、19、20之任一，且該系爭專利案在申請專利範圍第17在「(h)用以選擇性地將元件流路導引至各環座以坐落元件的機構」之結構特徵又見於證據18、26、40、41之任一，同時又未產生無法預期之功效，為熟知該項技術者易於思及達成之作，故系爭專利申請專利範圍第17項確實不具進步性，並有違專利法第20條第2項之規定。

㈨按專利法第67條第1項意旨，專利舉發係針對系爭專利之專利範圍中，具有不具進步性或新穎性情形，卻由行政機關給予專利一事，以行政救濟途徑予以修正或撤銷。換言之，專利舉發之對象，乃是系爭專利保護範圍中，不具進步性或新穎性之部分。參加人雖主張系爭專利請求項中，具有多種技術特徵，而原告僅對「個別技術特徵」加以舉證，而未對「技術特徵間之結合」有所舉證，顯有未盡舉證之責云云，指責原告舉發方式錯誤，亦即參加人係以原告「未考量到技術特徵間結合之進步性」，主張原告舉證方法有所欠缺而不可採。然細查系爭專利內容中，對於各請求項係採取「技術特徵表列」之方式，來說明請求項之範圍。參加人所主張「技術特徵間之結合」部分，卻完全未置一詞，可見系爭專利於申請時，即未對技術特徵間之「結合方式」加以請求保護，從而原告亦無需於討論「系爭專利有無進步性」時，對於「不屬於系爭專利保護範圍」之內容舉證說明。基此，今參加人以原告未對「不屬於系爭專利」之部分加以證明云云，主張原告舉發方式錯誤，顯有混淆視聽之虞。

㈩參加人主張系爭專利因具有半真空吸引機構，而可達到系統產量增加，以及減少元件掉落數量，屬於新的功效而具進步性；且原告所提之舉發證據，均未對此部份加以說明云云，主張因有該新功效之存在，而可推論系爭專利具進步性。惟細查系爭專利對半真空吸引機構之敘述，以真空吸管提供吸力之方式，原告於舉發證據3、7、23中，均係採取相同方式。所差別者僅為真空吸管分布範圍之多寡。參照「以真空吸管提供吸力」之方式，已為舉發證據所揭示之前提下，所謂分布範圍之多寡，均是以相同方式製作，而無任何特殊性。因此系爭專利與舉發證據3、7、23間之差別，僅在於製作時間之長短，而無所謂進步性可言。並聲明：⒈訴願決定及原處分均撤銷；⒉中華民國發明證書號第207469號「電路元件裝卸裝置」專利應予撤銷；⒊訴訟費用由被告負擔。

三、被告之答辯：

㈠系爭專利之申請專利範圍的解讀為功能手段用語，係專利權人提出，再由被告確認，並請原告表示意見，原告於97年4月18日之申請函中並未提出系爭專利之申請專利範圍非為功能手段用語的疑問，故被告認為系爭專利申請專利範圍係採手段功能用語之撰寫模式之審定並無違法。

㈡系爭專利之申請專利範圍更正本並未更改原文字記載型式，只是純粹地合併附屬項及獨立項，並非起訴理由所稱將申請專利範圍由採具體結構特徵方式界定更正為採手段功能用語模式表示之情形，而一般申請專利範圍之認定，原則上應以每一申請專利範圍中所記載之文字意義及該文字在相關技術中通常所總括的範圍，予以認定，即以手段功能用語界定之範圍應比較小，並無導致實質擴大專利範圍，原告亦有所誤解。

㈢起訴理由稱系爭專利於96年8 月15日更正之申請專利範圍之特徵技術已見於相關之舉發證據。惟專利舉發案件之審查係以系爭專利之申請專利範圍所載之內容與舉發證據比較，若舉發證據已揭示系爭專利之技術內容，則審定舉發成立，否則就審查舉發不成立，且係以申請專利範圍每一項之技術內容來與舉發證據比較，並非以每項中之單一結構特徵做為比較基準。至於舉發證據與系爭專利之各項申請專利範圍之比較，並無法證明系爭專利不具進步性，敬請參酌本件專利舉發審定書。

㈣並聲明：⒈駁回原告之訴；⒉訴訟費用由原告負擔。

四、參加人之答辯：

㈠原告準備狀雖就系爭專利之各特定請求項下，針對各技術特徵引用多份引證文件，但其並未針對一請求項之整體，將該等引證文件加以組合，顯然並非「以每一請求項中所載之發明的整體為對象」，且並未就各該組合是否明顯提出說明，故原告此等提出引證爭執系爭專利進步性之方式，顯然並未符合專利審查基準之規定。原告就單一請求項下之各技術特徵，雖提出數個引證內容，然其並未就該請求項之整體，提出引證文件之組合，而依據原告準備狀所列引用證據，各請求項下所可能組合之證據至多可能達56個，加總後之證據組合高達230組，任何人均無從由原告可能欲主張230組證據組合中，決定何一組合屬明顯之證據組合，故各該組合顯然非屬明顯之證據組合。

㈡依據系爭專利核准時專利審查基準第1-2-21頁之規定，系爭專利具有「突出的技術特徵」及「顯然的進步」，自屬具有進步性：

⒈依據原處分第13-15、18-20頁及系爭訴願決定第16、18、19及23頁）及下述說明，可知原告所提之舉發證據，均未揭露系爭專利申請專利範圍第1、2、5、6、10-12及17及其附屬請求項之技術特徵(c)（承收及歸位機構）及技術特徵(d)（半真空吸引機構）、第11至17項之技術特徵(a)（複數個元件槽坐的同心環座）、第1及11項之技術特徵(h)（偵測機構）、第17項之技術特徵(h)（選擇性導引機構，亦即附屬請求項15之附屬技術特徵）、第2及12項以及其附屬請求項所載之侷限機構（包含於請求項2及12所記載之最後一項技術特徵中：「其中…」）。原告所提證據中，均未揭示上述技術特徵。且以先前技術為基礎，仍不易由邏輯分析、推理或試驗而得出上述技術特徵。準此，熟習所屬技術領域具有通常知識者，並無法以原告所提證據為基礎，輕易完成系爭專利各請求項所載之發明，故系爭專利各請求項具進步性。系爭專利獨立請求項因包含上述未被揭示之技術特徵而具進步性，其附屬請求項第3、4、7至9項及第13至16項當然亦具進步性。

⒉系爭專利各請求項所載發明之各技術特徵組合，以整體觀之，可產生新的功效(synergistic effects)，該新的功效克服先前技術中存在的問題點或困難點，故具顯然的進步。謹分述如下：

⑴技術特徵(d)（半真空吸引機構）、技術特徵(e)（電氣接觸及測試裝置）及技術特徵(g)（噴出機構）之組合使得A.元件被該電氣接觸及測試裝置測試之同時，半真空吸引力仍可施加於位於元件槽座(10)中之元件；及B.元件被該噴出機構噴出之同時，半真空吸引力仍可施加於位於元件槽座(10)中之元件。準此，前述所產生之新的功效，可「增加系統之產量」以及「減少元件自元件槽座掉落之數量」，因此相對於原告所提證據所揭示的技術，自屬具有顯然的進步。

⑵系爭專利申請專利範圍第11至17項所載之複數個元件槽坐的同心環座（技術特徵(a)），相對於單一元件槽坐的同心環座，因為前者允許更多的元件可以同時被測試及分類，並可藉此「增加系統之產量」，自屬具有顯然的進步。

⑶此外，根據系爭專利核准時之「專利審查基準」第1-2-20頁之規定，組合所需之文獻為不同的文獻者，其組合之數量愈多，通常視為「非能輕易完成」。原告以多達20多種不同之證據之各種不同之組合，欲證明系爭專利不具進步性，事實上反而突顯系爭專利具進步性。

㈢原告所提證據3及證據7均欠缺證據能力，自無從成為認定系爭專利進步性之基礎，證據3及證據7的照片有可能是在系爭專利申請日以後所拍攝，原告亦無法證明照片中的機器與其他證據之間的關聯性，原告無法證明證據2、5及6為真正，故證據2、5及6實不具證據能力。原告亦無法證明證據3及證據7中之機器與證據2、證據5及證據6所列CH-1200機器為同一機器，任何人無法判斷證據2、證據5及證據6所列CH-1200機器，是否與證據3及證據7中的機器具有完全相同的結構。即使考量證據2、證據5及證據6，原告仍無法證明證據3及證據7照片所示之機器，在系爭專利申請日前已公開使用或公開銷售。

㈣原告之證據未揭示系爭專利各獨立項之技術特徵(c)，該技術特徵具有進步性：

⒈證據3及7：證據3及7照片中之CH-1200機器，並不具有與系爭專利坐入柵板相同或均等之結構。該蓋板及其弧形凸緣最多僅得藉由防止元件由測試板飛出，而間接地促使元件歸位至槽座；由於該半圓形之蓋板並無系爭專利獨立請求項所述之執行承收及歸位功能（技術特徵(c) 所界定），故未揭示系爭專利獨立請求項中之技術特徵(c) 。參酌專利法施行細則第18條第8 項及專利審查基準有關手段功能用語界定申請專利範圍相關規定，CH-1200 機器（證據3 及7 ）並未涵蓋且未揭示技術特徵(c) 之「承收及歸位機構」。

⒉證據23：並未揭示技術特徵(c)所載之功能，亦未揭示「承收一元件流路」之功能。證據23完全未敘及一元件流路(動態) 加諸於證據23之裝卸裝置(handler) ，因此並未揭示承收一元件流路的功能。證據23亦未揭示「坐入柵板」，因此托盤(59)並未揭示承收一元件流路的功能。證據23之托盤(59) 與系爭專利之弧形柵板(108a-108d) 不實質相同，故系爭專利之弧形柵板(108a-108d) 無法輕易被證據23之托盤(59)所取代。證據23相關的結構因此與系爭專利柵板的對應結構並不實質相同，兩者無法輕易置換。

⒊證據26：並未教示系爭專利技術特徵(c)之功能：「承收一元件流路並使元件歸位於槽座」，可見兩者相差甚多。原告並未明確指出證據26執行技術特徵(c)柵板之承收及歸位功能的結構為何，證據26亦未揭示弧形柵板或其均等物。證據26之盛料筒(22)及筒壁(223) 與坐入柵板，並不實質相同，且熟習所屬技術領域人士無法輕易將兩者相互置換。

⒋證據27：未揭示相同或均等於系爭專利複數個弧形坐入柵板之結構。原告並未明確指出證據27的何一結構可實現如系爭專利得以執行技術特徵(c)之柵板所具有的「承收」及「歸位」功能，並且如何與該柵板相同或均等。鑑於證據27之錐狀壁與系爭專利之弧形坐入柵板顯著不同，二者並非實質相同，且錐狀壁並無法輕易取代系爭專利之弧形坐入柵板。

⒌證據28：原告並未明確指出證據28的何一結構可實現如系爭專利得以執行技術特徵(c)的柵板所具有的承收及歸位功能，並且如何與該柵板相同或均等。

⒍證據42：圖11中亦可見元件20隨機落入元件承載孔隙82中因此證據42的元件承載孔隙82教示技術特徵(c)。然而，原告並未明確指出證據42之何一結構可實現如系爭專利得以執行技術特徵(c)的柵板所具有的承收及歸位功能並且與該柵板相同或均等。

㈤原告之證據未揭示系爭專利各獨立項之技術特徵(d)，該技術特徵具有進步性：

⒈證據3及7：CH-1200機器並未揭示相同或均等於系爭專利真空吸管的結構。由於該CH-1200機器之結構無法使元件被測試或被噴出之同時施予元件一真空，CH-1200機器之真空結構與系爭專利之元件係無法互換。

⒉證據23：真空結構與系爭專利的真空結構有顯著之不同，證據23無法在元件規劃在槽座中的整個行程中直到元件被噴出提供真空給凹陷(53)。系爭專利之裝卸裝置，實具有顯著之優點。其真空結構，與系爭專利獨立請求項1、2、6、10 、11、12及17所載技術特徵(d)「半真空吸引機構」的對應結構，有極大的差異。

⒊證據28：未揭示執行技術特徵(d)用以將元件固持於其槽座中功能的結構，缺乏真空吸管及連結管道，亦未包含任何由此環狀結構連通一真空至元件槽座之連結管道。

⒋證據30：未揭示系爭專利其他獨立請求項之技術特徵(d)，其與系爭專利的技術領域不同，所欲解決的問題亦不相同。且未教示功能手段語言技術特徵(d)之功能，其裝置並不具有元件槽座，因此無法將元件固持於槽座中。並未揭示手段語言技術特徵(d)於說明書之對應結構(或請求項5所載之結構)。因此熟習該項技術者，並無法輕易以證據30之真空結構，替換系爭專利之真空結構。

⒌證據42：所描述的系統與證據28的系統幾乎相同。因此，基於與證據28相同或相似的理由，證據42並未揭示系爭專利技術特徵(d)。

㈥原告之證據未揭示系爭專利申請專利範圍第1及11項之元件(h)，該等獨立項及元件具有進步性：

⒈證據18所稱的「故障排除裝置(80)」，與系爭專利偵測機構完全不同。系爭專利偵測機構的結構與證據18的故障排除裝置功能不同，系爭專利偵測機構無法由證據18的故障排除裝置所輕易置換。

⒉證據20所涉裝置與系爭專利的「偵測機構」兩者功能不同。且其設置之位置如證據20所示與系爭專利之偵測機構的設置位置明顯不同。

⒊證據23並未揭示具有與手段功能用語元件(h) 相同功能之結構。其系統中，沒有任何元件被噴出，因此也就沒有所謂未噴出之元件。其光纖(153a, 153b)，與系爭專利獨立項1 及11之手段功能用語元件(h) 之說明書中的對應結構不同。而其光纖(153a, 153b)與系爭專利具有二腳的U 型阻塞感應橋並不實質相同。

⒋證據25-1之光學感應器(26)與系爭專利之偵測機構截然不同。系爭專利之阻塞感應器經由光纖以及光感應器間之光傳輸是否中斷，以判斷是否存在未被噴出元件，而證據25之光學感應器(26)當其偵測到自夾指反射的光時，光學感應器(26)認定該夾指位於適當之位置。

⒌若比較證據20圖3 所示探針(54)與證據26圖11所示探針(34)，不難發現：證據26之探針(34)與證據20之探針(54)相同。因此，參加人上述「證據20之探針(54)無法取代或置換系爭專利之偵測機構」的答辯，亦適用於證據26之探針(34) 。

㈦系爭專利獨立請求項之技術特徵(d)、(e)及(g)相互作用，使得半真空即便在元件測試及噴出的過程中，仍施加位於環座中之元件。系爭專利申請專利之發明，能產生新的功效之原因之一，在於其真空吸管(11)，並未如習知技術與環座(10)對齊。相反地，系爭專利申請專利之發明的真空吸管(11)，鄰近並與環座(10)同心；真空吸管(11)透過連接管道(13)與環座(10)接通。藉此，即使當環座(10)與端子模組(24)及下方端子(23)(測試機構)對齊時，連接管道(13)可使得半真空繼續施加於元件。基於類似的理由，當界定於真空吸板(9)的開孔(92)與環座(10)對齊時，當噴出空氣驅使元件進入噴出管(84)的同時，半真空可藉由與真空吸管(11)相連之連接管道(13)繼續施加於元件。如上所述，系爭專利申請專利之發明，具有在元件測試及噴出或鄰近元件被噴出的過程中，仍能施加半真空位於環座中之元件的新功效，相對於習知技術具有顯著之進步。

㈧系爭專利之所有獨立請求項第1、2、5、6、10、11、12及17項均具進步性，系爭專利之所有附屬請求項第3、4、7至9及13至16項，亦均具可專利性。由於證據3 、7 、23、26及29並未揭示請求項第3 及13項的附屬元件，請求項第3 及13項的元件，與原告所引用的證據組合，在本質上無法相切合，請求項第3 及13項應視為具有進步性。

㈨系爭專利申請專利範圍第11至17項，相對於原告所提證據，更進一步具有可專利性：

⒈系爭專利申請專利範圍第11至17項，除了前述第1至10項亦包含的技術特徵(c)、(d)及(h)等元件外，均包含「數個元件槽座的同心環座」之元件。原告所提證據1至證據42，並無一包含此一元件。因此，相較於第1至10項，第11至17項相對於原告所提證據，更進一步具有可專利性。

⒉原告主張證據42揭示「數個元件槽座的同心環座」之元件，惟查，證據42的圖8只不過顯示一圓形的載料板(10)，方型的載料版(10)，則顯示於圖10（圖8僅顯示在載料板上眾多孔洞(24)的一小部分，使其看起來像），圖10及11顯示如何利用水平震動，將一批元件(20)載入載料板(10)的孔洞(24)中（證據42第10欄第62行至第11欄第6行）。載料板(10)僅在於握持元件。載料板(10)並不旋轉，也不作為測試機之一部分用來測試元件，證據42因此並未導引如何設計一具有複數個元件槽座的環座之測試機。

⒊系爭專利申請專利範圍第11至17項之「數個元件槽座的同心環座」元件，並非如原告所稱可輕易完成。把習知具有「單一」環座之元件裝卸裝置修改成「數個」環座之元件裝卸裝置且可運作，是非常困難的。除了改變先前技術之測試板之外，亦需要修改先前技術之承收及歸位機構以及測試機構，以使得具有「數個」環座之元件裝卸裝置可以使用。換言之，即使將證據3及7之CH-1200機器修改成包含數個環座，若無將整個系統作重大之改變，元件僅會歸位於測試板鄰近於去角邊緣之最外側環座，亦無法使得元件歸位於環座中。基於類似的理由，CH-1200機器之測試機構，無法測試數個環座之元件，除非將CH-1200機器之測試機構改變成包含數個端子模組與下方端子。CH-1200機器之開口漏斗(進料機構)亦須重新設計，以使得其能選擇性地將元件流路導引至各環座，否則元件只能被導引至最外側環座，其他證據之機器，亦需作類似重大之改變，方能包含數個環座且可運作。「數個元件槽座的同心環座」元件，相對於習知技術具有突出之進步，因為該元件，可使得更多的元件同時被測試以及分類，進而大量增加產量。因此，系爭專利申請專利範圍第11至17相對於原告所提證據更具有進步性。

⒋系爭專利申請專利範圍第17項之元件(h)，及第15項之附屬元件，採手段功能語言形式撰寫，前述元件中之選擇性導引機構，在於導引元件至最需元件的空隙(介於柵板間)（參系爭專利說明書第20頁倒數第6-8行）。系爭專利說明書中，對應於選擇性導引機構的結構，係定位漏斗(114)、微處理器以及定位漏斗(114)之臂桿(134)。然，證據40未揭示獨立請求項17之元件(h)相同或均等結構；證據40的導引軌(31)無法移動且無法導引元件至所選定的位置。此外，證據40的系統並未包含數個元件槽坐的同心環座。因此，導引軌(31)當然無法實行將元件導引至特定環座的功能。同理，證據41的結構與系爭專利的對應結構不同，亦無法實行將元件導引至特定環座的功能。由於證據40及41並未揭示獨立請求項17之元件(h)及附屬請求項15的附屬元件，因此獨立請求項17及附屬請求項15的元件，與證據40及41與原告主張之其它證據之組合，在本質上無法相切合，請求項17及15應視為具有進步性。

㈩參加人依系爭專利製得之型號33XX機器，取得商業上之成功，所造成產能上的增加及所產生重要影響，可見如西元2008年MLCC電容專家報告第41頁之圖表所示，多層陶瓷片式電容(MLCC Capacitor)，自西元1994年至今產量大幅度增加。電容元件產量大量的增加，歸功於在無需使用大樓板面積、大量電能，及大量機器操作員的情況下，仍可以大量的測試電容元件的機器，此可以由西元2004年MLCC電容專家報告第48頁所示：電容元件的單價自西元1994年以來逐漸下降，可以得到佐證。參加人依系爭專利製得之型號33XX(包含3340)機器，取得商業上之成功，即可佐證系爭專利各請求項所載之發明具進步性。並聲明：⒈原告之訴駁回；⒉訴訟費用由原告負擔。

五、系爭專利申請日為85年4月30日，經被告審查後，於89年11月11日核准審定准予專利，是以系爭專利是否有應撤銷之原因，自應以核准審定時所適用之83年1月21日修正公布之專利法（下稱核准時專利法）為斷。其次，參加人於96年8 月15 日 更正申請專利範圍，經被告審查認為該更正本與93年12月11日之公告本比較，為申請專利範圍減縮之更正，並未超出申請時原說明書或圖式所揭示之範圍，且未實質擴大或變更申請專利範圍，符合現行專利法第64條第1 項第1 款及第2 項之規定准予更正，原告就此亦未爭執，是以本件自應就96年8 月15日更正並公告之申請專利範圍予以審究，合先敘明。

六、按發明，係指利用自然法則之技術思想之高度創作，核准時專利法第19條定有明文。又發明係運用申請前既有之技術或知識，而為熟習該項技術者所能輕易完成時，不得依專利法申請取得發明專利，同法第20條第2項亦有明文。而發明有違反第20條第2項規定之情事者，任何人得附具證據，向專利專責機關提起舉發（同法第71條第1項第1款、第72條第1項規定參照）。準此，系爭專利有無違反核准時專利法第20條第2項所定情事而應撤銷其發明專利權，依法應由原告即舉發人附具證據證明之，倘其證據足以證明系爭專利有違前揭專利法之規定，自應為舉發成立之處分。

㈠原告依前開規定提出舉發，案經被告審查，於97年8月12日以（97）智專三（二）04060字第09720420840號專利舉發審定書為「舉發不成立」之處分。被告不服，訴經經濟部以98年3月19日經訴字第09806109060號訴願決定撤銷原處分，被告乃依該訴願決定意旨重為審定。經審定認：「舉發證據17至20之任一證據組合證據23或證據8、23、30之任一證據組合證據26或證據3、7之任一證據組合證據18、20、25-1及26之任一證據無法證明系爭專利申請專利範圍第1項不具進步性；證據17至20之任一證據組合證據23或證據8、23、30之任一證據組合證據26或證據3、7之任一證據無法證明系爭專利申請專利範圍第2、5、6、10項不具進步性；證據17至20之任一證據組合證據23及42或證據8、23、30之任一證據組合證據26及42或證據3、7之任一證據組合證據18、20、25-1及26之任一證據及證據42，無法證明系爭專利申請專利範圍第11項不具進步性；證據17至20之任一證據組合證據23及42或證據8、23、30之任一證據組合證據26及42或證據3、7之任一證據組合證據42，無法證明系爭專利申請專利範圍第12項不具進步性；及證據17至20之任一證據組合證據23、26及40至42或證據8、23、30之任一證據組合證據26及40至42或證據3、7之任一證據組合證據18、20、25 -1、26之任一證據及證據40至42，無法證明系爭專利申請專利範圍第17項不具進步性。另系爭專利申請專利範圍上揭各獨立項既具進步性，而系爭專利申請專利範圍第3、4項、第7至9項及第13至16項等附屬項，係包括前揭各獨立項之技術內容並做進一步之限縮，故系爭專利申請專利範圍上揭各附屬項亦具進步性」為由乃為原告舉發不成立之處分。嗣原告向本院提起訴訟後，已當庭表示對於系爭專利各該請求項部分係以手段功能用語方式撰寫（詳如參證7）之事實已不再爭執（見本院卷㈡第157頁），並同意減縮系爭專利不具進步性之主張為如附表所示之證據組合（見本院卷㈡第47頁），是以本件主要爭點為：如附表所示之證據3、7、17、18、19、20、23、25-1、26、27、28、29、30、31、32、33、34、39、40、41、42 等之個別組合態樣，是否可證明系爭專利申請專利範圍第1項至第17項不具進步性？

㈡系爭專利申請專利範圍第1項具進步性：

⒈系爭專利申請專利範圍第1項揭示：「一種元件裝卸裝置，其包含:(a)一元件槽座的環座，其包括定義在一具有一中心之板的多個孔，該等孔係垂直於該板子的平面，該環座的中心與該板的中心係同心的；(b)藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構；(c)在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)在環座旋轉所經的路徑中，用以充份地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構；(f)複數個儲盒；(g)在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的一儲盒之機構；以及(h)用以偵測未被噴出方式所噴出之元件的機構。」

⒉依據參證7號，其中技術特徵 (b)、(c)、(d)、(e)、(g)及(h)為手段功能用語，所以依照專利法施行細則第18條第8項之規定，前揭技術特徵於解釋其範圍時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，故技術特徵 (b)之範圍應解釋僅能包含有說明書第9頁第2-4行、第10頁第18-21行以及圖1及圖3；技術特徵 (c)之範圍應解釋僅能包含有說明書第19頁第4行至第20頁第1行以及圖1、3、10、10a及14；技術特徵 (d)之範圍應解釋僅能包含有說明書第9頁第18行至第10頁第13行以及圖5、6及16；技術特徵 (e)之範圍應解釋僅能包含有說明書第11頁第14行至第15頁第5行以及圖7-9；技術特徵(g)之範圍應解釋僅能包含有說明書第16頁第6行至第17頁第14行以及圖3、11及12；技術特徵(h)之範圍應解釋僅能包含有說明書第22頁第13行至第23頁第7行以及圖3、3a及3b。

⒊原告主張系爭專利申請專利範圍第1項不具進步性之引證證據，其中技術特徵(c)部分為證據3、7、23、26、27、28、42 ，技術特徵(d)部分為證據3、7、23、28、30、42，技術特徵(h)要件為證據18、20、23、25-1、26，上開證據經分別與系爭專利申請專利範圍第1項之技術特徵(c)、(d)、(h)比較如下：

⑴系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(c)未揭示於前揭證據：

①證據3為CH-1200測試分類機之實物照片，該照片未有拍照日期，但依據證據2之「經濟部工業局民營製造業及技術服務業購置設備或技術投資抵減證明申請書」正本可知，其載明申請日期85年1月6日及經濟部工業局發文日期85年1月11日，故應可確認該CH-1200測試分類機之銷售日期早於系爭專利申請日85年4月30日。惟參照證據7相同型號之CH-1200測試分類機，兩者照片顯示有多處差異，例如：入料機構於證據3為圓形漏斗狀，於證據7則為方形漏斗狀，證據3控制面板具有警報器按鈕，證據7則無，故CH-1200測試分類機之組成構件顯然可以替換變更，所以雖然證據2可以佐證證據3型號CH-1200測試分類機之銷售日期早於系爭專利申請日，惟證據3之照片未有拍照日期，即難認定該照片中所顯示之CH-1200測試分類機之各構件是否於系爭專利申請日85年4月30日前即已裝設使用，而無證據能力。至證據7為證據5、6之CH-1200測試分類機之實物照片，查該照片並未有拍照日期，證據5雖顯示於西元1995(84)年1月9日有相同型號CH-1200之訂購單，證據6係84年10月13日之驗收報告，惟其並未有型號CH-1200分類機之記載，承前所述，證據3與證據7雖均顯示相同型號之CH-1200測試分類機，惟兩者照片有多處差異，證據7之照片亦未有拍照日期，亦難以確認該照片中所顯示之CH-1200測試分類機之各構件是否於系爭專利申請日85年4月30日前即已裝設使用，而無證據能力。

②證據23於其圖式的第3圖、第5圖及說明書第4欄第58行至第5欄第7行係揭示散裝晶片元件(即承載源57)被維持在一盤體59與輪體25所界定之空間中，盤體59附設於一背盤61，並以螺絲63從平面支撐體33向外固設。由於支撐體23之後向傾斜，盤體59與支撐體23垂直且完全支撐該承載源57。背盤61配置鄰近於後平面27 b以避免晶片元件在凹槽53中出入滑移，但與平面27有足夠的距離以允許輪體25無限制自由旋轉，該盤體59同樣緊密環繞該輪體周圍49之下部配置以幫助保留該晶片元件於凹槽53中，但與周圍49有足夠距離以允許輪體25無限制自由旋轉，當輪體25以箭頭方向(順時鐘方向)旋轉時，揀選裝置51以一向上移動回覆路徑通過該承載源57。

③證據26於其圖式第1圖、第2圖、第5圖及說明書第17頁第3行至第6行揭示有一考量機體(1)操作、整料裝置設置等因素，以及元件入料機構(3)、分類下料機構(6)之元件最佳落下角度，而使圓形送料轉盤(24)具有一傾斜角度。在送料轉盤(24)旋轉時元件流倒向送料轉盤(24)上，使倒入且尚未落入階梯槽(241)內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過送料圓盤(24)旋轉路徑圓弧上的空階梯槽(241)上方，該隨機性的翻滾導致元件落入階梯槽(241)。

④證據27於其圖式第7圖、第8圖及說明書第3欄第50行至第57行係揭示一傾斜之盤體(10)，藉由傾斜盤體(10)之旋轉帶動尚未落入袋下部(19a)內的元件隨機翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過盤體(10)旋轉路徑圓弧上的空帶下部(19a)上方，該隨機性的翻滾導致元件落入袋下部(19a)。

⑤證據28於其圖式第9圖、第10圖及說明書第2欄第24行至第35行係揭示晶片(1)隨機翻滾於元件定位裝置(4)且隨機性的落入容納部(7)。

⑥證據42於其圖式第11圖揭示元件20隨機落入元件承載孔隙(82)。

⑦前揭證據雖部分已揭示系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(c)所述之功能亦即「在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構」，惟該技術特徵(c)係一手段功能用語，其範圍應解釋僅能包含有說明書第19頁第4行至第20頁第1行以及圖1、3、10、10a及14所對應之結構、材料及其均等範圍，已如前述，然查，至少包含有與元件環座數目配合之數個坐入柵板(108a-108d )、柵板自測試板約九點鐘的位置延伸至約五點鐘的位置、在載入架之九點鐘位置端，柵板間的空隙係為空隙中元件的進入開口等結構與連結關係均未揭示於前揭證據。

⑵系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(d)未揭示於前揭證據：

①證據3與證據7並無證據能力，而非為適格之舉發證據，業如前述。

②證據23於其第6圖、第7圖及第5欄第44行至第55行中，揭示有一第一中空環狀真空歧管(69)藉由螺絲(71)嵌設於平面支撐架(23)上，該輪盤(25)之後，鄰近該周緣部(49)之一部分且緊密接觸該輪後面(27b)，一槽孔(73)形成於該歧管(69)內，臨近該輪後側平面(27b)且連通一系列孔隙(75)，該些孔隙(75)係成形於該後表面(27b)裡且等距配置，該槽孔(73)連通幅狀通道(77)及連結孔隙(79)，該連結孔隙(79)形成於該每一凹槽(53)之基部。當部分真空從遠程來源被抽引入該歧管(69)，該真空狀態可經由槽孔(73)，幅狀通道(77)及連結孔隙(79)被連通。

③證據28於其圖式第9圖揭示在對應容納部(7)處具有吸力(10)，此吸力(10)可將晶片(1)固持於容納部(7)，證據28之第9圖、第10圖及說明書第2欄第24行至第35行亦揭示有複數個晶片首先隨機放置在裝置4中，以前述之手段分別被嵌設在承座6之容接部7。其次，架體部件9被應用來避免晶片1從該裝置4掉落出來，其後，當透過該容接部7提供真空吸力給該方位通道5。

④證據30於其圖式第3圖及說明書第3欄第45行至第62行揭示一歧管室(36)，且該歧管室(36)藉一連接管(33)與孔洞(24)連接，以將空氣吸力由歧管室(36)，經連接管(33)導引至孔洞(24)。

⑤證據42於其圖式第11圖及說明書第11欄第1行至第6行敘述，在料斗槽92中的元件，透過承載盤80上之元件承載孔隙82，承載入運送盤10的彈性層體22，元件承載會因為來源體96之震動及真空應用而變得容易。

⑥前揭證據雖部分已揭示系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(d)所述之功能即「用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構」，惟該技術特徵(d)係一手段功能用語，其範圍應解釋僅能包含有說明書第9頁第18行至第10頁第13行以及圖5、6及16所對應之結構、材料及其均等範圍，已如前述，然查，至少包含有真空吸板(9)、界定於真空吸板(9)上表面之數個環狀真空吸管(11)、低壓源、及界定於測試板(8)底部之連結管道(13)等結構與連結關係均未揭示於前揭證據。

⑶系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(h)未揭示於前揭證據：

①證據18揭示故障排除裝置(80)主要係用於偵測電子元件，經整列落料組後，未正確落於分料盤之置料槽內。

②證據20揭示探測器(54)，主要係用於偵測轉盤置料孔(42)是否有卡料的情形。

③證據23於其說明書第7欄第24行至第33行揭示有元件(151)包含一對光纖(153a/153b)，該光纖具有分開配置之端部(155/157)，而光纖端部在輪體(25)及承載帶驅動輪(159)間的傳送輪周邊(101)相對側彼此相對設置，由第4圖可見一光源體順著光纖(153a)發射光至光纖端部(155)，於該處光續射入傳送輪周邊(101)之偵測區(161)，每一次光射作用時，一晶片(13)會被導引至該偵測區(161)並於留置期間維持停留該處，而光線會被遮斷。此外，說明書第37行至第44行亦揭示一旦晶片被導引入該偵測區(161)而未出現於其該停留之傳送輪周邊(101)上之位置時，則光源體(159)將會發射光線經過該偵測區(161)而進入光纖端部(157)，且將會透過導體(163a/163b)發送來自光源體(159)之命令於控制馬達(143)，以使浮凸物(7)之前進延遲，直到下一個被導引的晶片出現為止。

④證據25-1係揭示使用光學感應器，感應光線是否被中斷，用以偵測箝夾指體是否位於適當位置。

⑤證據26探測器(34)主要係用於偵測轉盤置料孔(432)是否有卡料的情形。

⑥前揭證據雖部分已揭示系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(h)所述之功能即「用以偵測未被噴出方式所噴出之元件的機構」，惟該技術特徵(h)係一手段功能用語，其範圍應解釋僅能包含有說明書第22頁第13行至第23頁第7行以及圖3、3a及3b所對應之結構、材料及其均等範圍，已如前述，然查，至少包含有具有光發射導線(158)、光纖導線(160)之二腳(152、154)的U型阻塞感應架等結構與連結關係均未揭示於前揭證據。

⑷綜上，系爭專利申請專利範圍第1項之技術特徵(c)、(d)、(h)係皆為手段功能用語，前揭證據部分或已達成前揭技術特徵所述之個別功能，惟並未揭示前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，且系爭專利申請專利範圍第1項所揭示之技術特徵已達成較習知之裝卸裝置在單位時間內能裝卸更大量的元件並提供阻塞元件之偵測機制等整體之功效增進，至於原告主張系爭專利申請專利範圍第1項中之個別技術特徵(c)、(d )、(h)分別被個別的舉發證據所揭示而不具進步性，此亦有違進步性之審查應以每一請求項中所載之發明的整體為對象之原則，故如附表項次1所示證據組合之擇一均難以證明系爭專利申請專利範圍第1項不具進步性。

㈢系爭專利申請專利範圍第2 項、第3 項、第4 項、第5 項、第6 項、第7 項、第8 項、第9 項、第10項具進步性：

⒈系爭專利申請專利範圍第2項揭示：「一種元件裝卸裝置，其包含:(a)一元件槽座的環座，其包括定義在一具有一中心之板的多個孔，該等孔係垂直於該板子的平面，該環座的中心與該板的中心係同心的；(b)藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構；(c)在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)在環座旋轉所經的路徑中，用以充份地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構；(f)複數個儲盒；以及(g)在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的一儲盒之機構；其中該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒向環座上，且其中用以承收及歸位元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座內的元件隨機地翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空槽座上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座中。」

⒉系爭專利申請專利範圍第5項揭示：「一種元件裝卸裝置，其包含:(a)一由一可旋轉盤所界定之元件槽座的環座，其包括定義在一具有一中心之板的多個孔，該等孔係垂直於該板子的平面，該環座的中心與該板的中心係同心的；(b)藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構；(c)在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構，其包括:⑴一半真空源；

⑵一由固定盤所界定的真空吸管並連接至該半真空源，而真空吸管係與槽座之環座同心並緊鄰；以及

⑶數個由可旋轉盤所界定之連接管，每槽座各一，該連接管將半真空吸力由真空吸管傳導至其對應的槽座中；(e)在環座旋轉所經的路徑中，用以充份地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構；(f)複數個儲盒；以及(g)在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的一儲盒之機構。」

⒊系爭專利申請專利範圍第6項揭示：「一種元件裝卸裝置，其包含:(a)一元件槽座的環座，其包括定義在一具有一中心之板的多個孔，該等孔係垂直於該板子的平面，該環座的中心與該板的中心係同心的；(b)藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構；(c)在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構，其中環座中之槽座係以相同的角間距分佈，而環座以固定增量方式旋轉，該旋轉增量即相鄰槽座間的角間距；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)在環座旋轉所經的路徑中，用以充份地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構；(f)複數個儲盒；以及(g)在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的一儲盒之機構。」

⒋系爭專利申請專利範圍第10項揭示：「一種元件裝卸裝置，其包含:(a)一元件槽座的環座，其包括定義在一具有一中心之板的多個孔，該等孔係垂直於該板子的平面，該環座的中心與該板的中心係同心的；(b)藉旋轉該板而使環座繞其中心旋轉的機構，其中環座中之槽座係以相同的角間距分佈，而環座以固定增量方式旋轉，該旋轉增量即相鄰槽座間的角間距；(c)在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件歸位於槽座中之機構；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)在環座旋轉所經的路徑中，用以充份地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試之機構；(f)複數個儲盒；以及(g)在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至數個儲盒中選定的一儲盒之機構，其包括：

⑴一界定數個噴出孔的噴出歧管板，該噴出孔各與環座每旋轉一增量時之一個元件槽座對齊配合；

⑵數個伴隨的管件連接至噴出孔，該管件將其中被噴出的元件導引至儲盒中；以及

⑶數個伴隨的選擇性觸動氣壓機構用以將空氣壓力加諸與噴出孔對齊配合的槽座內，而將槽座內的元件噴入對應的管件中。」

⒌經查，系爭專利申請專利範圍第2項、第5項、第6項、第10項等獨立項，分別係就系爭專利申請專利範圍第1項之技術特徵(c)、(d)、(b)、(g)進一步界定技術特徵，而皆具有與第1項相同之技術特徵(c)、(d)，另分別附屬於前揭獨立項之第3項、第4項、第7項、第8項、第9項等附屬項當然亦具有相同之技術特徵(c)、(d)，而原告就上開請求項之技術特徵(c)之舉發證據皆為證據3、7、23、26、27、28、42，技術特徵(d)之舉發證據皆為證據3、7、23、28、30、42，而系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(c)、(d)係皆為手段功能用語，上開證據均未揭示前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，據此，如附表項次2至10所示證據組合之擇一均難以證明系爭專利申請專利範圍第2項至10項不具進步性。

㈣系爭專利申請專利範圍第11項具進步性：

⒈系爭專利申請專利範圍第11項揭示：「一種元件裝卸裝置，其包含:(a)數個元件槽坐的同心環座；(b)使環座繞其中心旋轉的機構；(c)承收機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件坐落於槽座中；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)接觸機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以有效地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試；(f)複數個儲盒；(g)噴出機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至複數個儲盒中選定的一儲盒；以及(h)用以偵測出未被噴出方式所噴出之元件的機構。」

⒉依據參證7號，技術特徵(b)、(c)、(d)、(e)、(g)及(h)為手段功能用語，所以依照專利法施行細則第18條第8項之規定，前揭技術特徵於解釋其範圍時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍。

⒊原告主張系爭專利申請專利範圍第11項不具進步性之引證證據，其中技術特徵(a)部分為證據42，技術特徵(c)部分為證據3、7、23、26、27、28、42，技術特徵(d)部分為證據3、7、23、28、30、42，技術特徵(h)部分為證據18、20、23、25-1、26，上開證據經分別與系爭專利申請專利範圍第11項之技術特徵(a)、(c)、(d)、(h)比較如下：

⑴查證據42之圖式第8圖已揭示一圓形的載料板(10)，該載料板(10)上具有複數個同心圓排列之孔洞(24)，該孔洞可以握持元件，故已揭露系爭專利申請專利範圍第11項技術特徵(a)：「數個元件槽坐的同心環座」。參加人雖主張載料板(10)並不旋轉，也不作為測試機之ㄧ部分用來測試元件；證據42因此並未導引如何設計一具有複數個元件槽座之測試機；請求項第11至17項所載之複數個元件槽座的同心環座(技術特徵(a))，相對於單一元件槽座的同心環座，因為前者允許更多的元件可以同時被測試及分類，並可藉此增加系統之產量，自屬具有顯然的進步云云，惟參加人前述之主張並未揭露於系爭專利申請專利範圍第11項技術特徵(a)，故參加人此部分之主張並不可採。

⑵原告對於系爭專利各請求項之技術特徵(c)、(d)之引證證據皆相同，而技術特徵(c)、(d)係皆為手段功能用語，引證之證據均未揭露前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，業如前述。

⑶系爭專利申請專利範圍第11項技術特徵(h)與系爭專利申請專利範圍第1項技術特徵(h)相同，故證據18、20、23、25-1、26雖部分已揭示系爭專利申請專利範圍第11項技術特徵(h)所述之功能即「用以偵測未被噴出方式所噴出之元件的機構」，惟該技術特徵(h)係一手段功能用語，其範圍應解釋僅能包含有說明書第22頁第13行至第23頁第7行以及圖3、3a及3b所對應之結構、材料及其均等範圍，已如前述，然查，至少包含有具有光發射導線(158)、光纖導線(160)之二腳(152、154)的U型阻塞感應架等結構與連結關係均未揭示於前揭證據，業如前述。

⑷綜上，系爭專利申請專利範圍第11項技術特徵(c)、(d)、(h)皆為手段功能用語，上開證據均未揭示前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，據此，如附表項次11所示證據組合之擇一均難以證明系爭專利申請專利範圍第11項不具進步性。

㈤系爭專利申請專利範圍第12至16項具進步性：

⒈系爭專利申請專利範圍第12項揭示：「一種元件裝卸裝置，包括：(a)數個元件槽坐的同心環座；(b)使環座繞其中心旋轉的機構；(c)承收機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件坐落於槽座中；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)接觸機構，在環座旋轉一所經的路徑中，用以有效地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試；(f)複數個儲盒；以及(g)噴出機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至複數個儲盒中選定的一儲盒；其中該環座以某角度傾斜而在環座旋轉時元件流路倒向環座上，且其中用以承收及坐落元件的機構包括侷限並促使倒入且尚未落入槽座內的元件隨機地翻滾，而藉重力作用，翻滾於經過環座旋轉路徑圓弧上的空槽座上方，該隨機性的翻滾導致元件落入槽座中。」

⒉依據參證7號，系爭專利申請專利範圍第12項之技術特徵(b)、(c)、(d)、(e)及(g)為手段功能用語，所以依照專利法施行細則第18條第8項之規定，前揭技術特徵於解釋其範圍時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍。

⒊原告主張系爭專利申請專利範圍第12項不具進步性之引證證據，其中技術特徵(a)部分為證據42，技術特徵(c)部分為證據3、7、23、26、27、28、42，技術特徵(d)部分為證據3、7、23、28、30、42，上開證據經分別與系爭專利申請專利範圍第12項之技術特徵(a)、(c)、(d)比較如下：

⑴查證據42之圖式第8圖已揭示一圓形的載料板(10)，該載料板(10)上具有複數個同心圓排列之孔洞(24)，該孔洞可以握持元件，故已揭露系爭專利申請專利範圍第12項技術特徵(a)：「數個元件槽坐的同心環座」。

⑵原告對於系爭專利各請求項之技術特徵(c)、(d)之引證證據皆相同，而技術特徵(c)、(d)係皆為手段功能用語，引證之證據均未揭露前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，業如前述。

⑶綜上，系爭專利申請專利範圍第12項技術特徵(c)、(d)皆為手段功能用語，上開證據均未揭示前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，據此，如附表項次12所示證據組合之擇一均難以證明系爭專利申請專利範圍第12項不具進步性。

⒋系爭專利申請專利範圍第13項、第14項、第15項、第16項直接或間接依附於前揭第12項獨立項，而如前揭所述，上開證據已難以證明系爭專利申請專利範圍第12項不具進步性，故如附表項次13至16所示證據組合之擇一均難以證明系爭專利申請專利範圍第13至16項不具進步性。

㈥系爭專利申請專利範圍第17項具進步性：

⒈系爭專利申請專利範圍第17項揭示：「一種元件裝卸裝置，包括:(a)數個元件槽坐的同心環座；(b)使環座繞其中心旋轉的機構；(c)承收機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以承收一元件流路並使元件坐落於槽座中；(d)用以將元件固持於其槽座中的半真空吸引機構；(e)接觸機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以有效地將槽座內元件電氣接觸以對元件進行測試；(f)複數個儲盒；(g)噴出機構，在環座旋轉所經的路徑中，用以將各測試後的元件自其槽座中噴出並將元件導引至複數個儲盒中選定的一儲盒；以及(h)用以選擇性地將元件流路導引至各環座以坐落元件的機構。」

⒉依據參證7號，系爭專利申請專利範圍第17項技術特徵(b)、(c) 、(d) 、(e) 、(g) 、(h)為手段功能用語，所以依照專利法施行細則第18條第8項之規定，前揭技術特徵於解釋其範圍時，應包含發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍。

⒊原告主張系爭專利申請專利範圍第17項不具進步性之引證證據，其中技術特徵(a)部分為證據42，技術特徵(c)部分為證據3、7、23、26、27、28、42，技術特徵(d)部分為證據3、7、23、28、30、42，技術特徵(h)部分為證據40、41，上開證據經分別與系爭專利申請專利範圍第17項之技術特徵(a)、(c)、(d)、(h)比較如下：

⑴查證據42之圖式第8圖已揭示一圓形的載料板(10)，該載料板(10)上具有複數個同心圓排列之孔洞(24)，該孔洞可以握持元件，故已揭露系爭專利申請專利範圍第17項技術特徵(a)：「數個元件槽坐的同心環座」。

⑵原告對於系爭專利各請求項之技術特徵(c)、(d)之引證證據皆相同，而技術特徵(c)、(d)係皆為手段功能用語，引證之證據均未揭露前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，業如前述。

⑶查系爭專利申請專利範圍第17項技術特徵(h)：「用以選擇性地將元件流路導引至各環座以坐落元件的機構」，為一手段功能用語，所以依照專利法施行細則第18條第8項之規定，解釋其範圍時，應包含說明書第20頁第2行至第21頁第17行以及圖1、13及14所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍。比較證據40、證據41與系爭專利申請專利範圍第17項技術特徵(h)，證據40的導引軌(31)無法移動，證據41的導引軌(32)亦未明確顯示可移動，故兩者皆未揭露系爭專利申請專利範圍第17項技術特徵(h)對應於說明書第21頁第6行至第17行所揭露之：「……微處理器將隨後觸動一馬達，該馬達帶動一臂桿134以將漏斗之嘴部移至需要補充元件的空隙上方……」結構。

⑷綜上，系爭專利申請專利範圍第17項技術特徵(c) 、(d)、(h)皆為手段功能用語，上開證據均未揭示前揭技術特徵於解釋其範圍時應包含於發明說明中所敘述對應於該功能之結構、材料及其均等範圍，據此，如附表項次17所示證據組合之擇一均難以證明系爭專利申請專利範圍第17項不具進步性。

七、綜上所述，系爭專利申請專利範圍第1至17項之技術內容與原告所提出舉發證據之差異並非為運用申請前既有之技術或知識，而為熟習該項技術者所能輕易完成，故系爭專利申請專利範圍第1至17項均具進步性。被告所為之處分，於法並無不合，訴願決定予以維持，亦無違誤，原告徒執前詞，訴請撤銷訴願決定及原處分，核無理由，應予駁回。

八、兩造其餘攻擊防禦方法均與本件判決結果不生影響，故不逐一論述，併此敘明。

據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依行政訴訟法第98條第1項前段，判決如主文。

智慧財產法院第一庭