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積體電路製程技術考古題|歷屆國考試題彙整

橫跨多種國家考試的積體電路製程技術歷屆試題(選擇題 + 申論題)

歷屆考卷1 種考試・本頁 10

本科目全站收錄 10 題,本頁列出其中前 10 題,依考試與年份分組。整卷題目與答案請點各卷連結。

考試電子工程10
  1. 1申論題

    描述並繪出微影(Lithography)技術中,使用正光阻(Positive Photoresist)及負 光阻(Negative Photoresist)於曝光、顯影蝕刻後薄膜形成之圖案,假設結構層為: 光阻(Photoresist)/薄膜(Film)/基板(Substrate)。同時比較兩種光阻在解析 度(Resolution)、對比(Contrast)、線幅(Line Width)之結果。並説明在多少 相對濕度環境下會有較好的黏附(Adhesion)。(20 分)

  2. 2申論題

    敘述鎢金屬化學氣相沉積(Chemical Vapor Deposition, CVD-W)技術在極大型 積體電路 (ULSI) 應用上,氣相預清潔(Vapor Phase Precleaning)技術在沉積 速率(Deposition Rate)、選擇率(Selectivity)、矽耗(Si Consumption)、黏附 (Adhesion)之影響特性。並説明上述結果與傳統 RCA 清潔(RCA Cleaning) 技術之比較。( 20 分)

  3. 3申論題

    説明電子迴旋共振化學氣相沉積(Electron Cyclotron Resonance, ECR-CVD)技 術之優點。描述ECR二氧化矽(SiO2)之氧化機構(Oxidation Mechanism)。 並説明與高溫爐乾/濕式(Furnace Dry/Wet)氧化機構之差異。( 20 分)

  4. 4申論題

    討論從半導體元件物理觀點,如何製造一個好的歐姆接觸(Ohmic Contact)? ( 20 分)

  5. 5申論題

    説明在砷化鎵(GaAs)中,什麼是點缺陷(Point Defect)?為什麼可以容易製 造半絕緣砷化鎵材料?( 20 分)

  1. 1申論題

    說明從天然矽砂到形成矽晶圓的基本步驟。(20 分)

  2. 2申論題

    在半導體的摻雜製程中,試說明離子佈植法(Ion Implantation)優於熱擴 散法(Thermal Diffusion)之處。又,為何晶圓在離子佈植後需要熱退火 (Annealing)處理?(20 分)

  3. 3申論題

    何謂電漿(Plasma)?列出在化學氣相沉積(Chemical Vapor Deposition, CVD)和蝕刻製程中使用電漿的好處。(20 分)

  4. 4申論題

    在金屬化製程中,形成金屬連線的元素種類眾多,為何目前一般製程較 傾向使用銅製程甚於鋁製程,試說明之。 在金屬連線製程中,可以藉由 化學氣相沉積(CVD)與物理氣相沉積(PVD)製程方法來沉積金屬。若 要填充高深寬比之金屬栓塞(Plug),試問何種金屬及何種製程方法較適 合?(20 分)

  5. 5申論題

    半導體製程中,為何需要平坦化製程(Planarization Process)?並說明化 學機械研磨法(Chemical-Mechanical Polishing, CMP)之原理及影響此平 坦化技術的主要製程參數為何。(20 分)

資料來源:考選部歷屆試題。