晶圓及IC測試非屬保稅倉庫設立及管理辦法之檢驗測試範疇

發文機關財政部發文日期 92 年 06 月 13 日

要旨

晶圓及IC測試業務，在目前已成為一專門行業，係半導體產製過程之一部分，非屬「保稅倉庫設立及管理辦法」第36條（編者註：現行辦法第34條）第1項第1款之檢驗、測試範疇。（財政部92/06/13台財關字第0920550401號函）

歷年版本彙編；出現版本:關稅法/一一一年版、關稅法/一Ｏ七年版、關稅法/一Ｏ三年版、關稅法/九十九年版、關稅法/九十五年版；則次:4 款類次:0 章節:第3章稅款之優待

事實摘要

以下各句為自含語境之客觀事實描述；引用請以司法院法令判解系統為準。

晶圓及IC測試非屬保稅倉庫設立及管理辦法之檢驗測試範疇由財政部於民國 92 年 06 月 13 日發布，要旨：晶圓及IC測試非屬保稅倉庫設立及管理辦法之檢驗測試範疇，全文收錄於法律人 LawPlayer（以司法院法令判解系統為準）。