智慧財產法院行政判決

原告

久元電子股份有限公司

代表人

汪秉龍（董事長）

訴訟代理人

陳文郎律師（兼送達代收人）

訴訟代理人

張東揚律師

複代理人

孫德沛律師

被告

經濟部智慧財產局

代表人

洪淑敏（局長）住同上

訴訟代理人

謝文元

參加人

蔡明傑

上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國106 年11月30日經訴字第10606313150 號訴願決定，提起行政訴訟，並經本院裁定命參加人獨立參加被告之訴訟，本院判決如下：

主文

事實及理由

一、事實概要：原告前於民國100 年4 月27日以「發光元件檢測與分類裝置」向被告申請發明專利，經被告編為第100114670 號審查，准予專利（申請專利範圍共11項），發給發明第I412763 號專利證書。嗣參加人以該專利有違核准時即102 年6 月13日施行之專利法（下稱102 年專利法）第22條第2 項規定，不符發明專利要件，對之提起舉發。原告則於103 年6 月27日提出申請專利範圍更正本( 刪除原請求項1 至4 、6 至8 及更正請求項5 、9)，參加人於104 年9 月22日補充舉發理由，主張更正後請求項5 、9 至11仍有違前揭專利法規定，請求項5 、9 有違同法第26條第1 項規定。案經被告審查，准予更正，並認更正後專利違反前揭專利法第22條第2 項規定，以106 年6 月6 日（106 ）智專三（二）04178 字第10620600370 號專利舉發審定書為「103 年6 月27日之更正事項，准予更正。請求項5 、9 至11舉發成立，應予撤銷。請求項1 至4 、6 至8 舉發駁回」之處分（下稱原處分，另本件審理範圍乃更正後請求項，是以下所稱「系爭專利」指更正後專利）。原告不服，就舉發成立部分提起訴願，經經濟部以經訴字第10606313150 號決定駁回，遂向本院提起行政訴訟。本院因認本件訴訟之結果，倘認訴願決定及原處分應予撤銷，參加人之權利或法律上利益將受損害，乃依職權裁定命其獨立參加本件被告之訴訟。

二、原告主張：

㈠舉發證據無法證明系爭專利請求項5不具進步性：

⒈系爭專利請求項5 之極性測試單元6 包括至少兩個焊墊極性檢測探針60，位於容納在可旋轉轉盤11的容置部12內之發光二極體封裝晶片C 的下方，可一同上下移動，穿過承載底盤40的開口400 ，以電性接觸發光二極體封裝晶片C的正極焊墊C1與負極焊墊C2，進而檢測正極焊墊C1與負極焊墊C2的位置是否正確。而證據2 之極性測試裝置10組設於送料軌道202 的出料端2022與轉動盤204 之間，係藉由吸附式多頭捉取器103 先吸住抓取位於第一定位點A1的料件30，接著移動到第二定位點A2，然後向下移動將料件30置入極性檢測座101 的定位孔1011中，使料件30的各電極對準定位孔1011中的六個電性搭接電極，進而檢測電極的位置是否正確。由此可知，系爭專利請求項5 之極性測試單元6 與證據2 之極性測試裝置10的組成結構不同，其焊墊極性檢測探針60與證據2 之極性檢測座101 的構造也完全不同，另系爭專利請求項5 之極性測試單元6 與可旋轉轉盤11的元件相對結構特徵，和證據2 之極性測試裝置10與送料軌道202 所組成的元件相對結構亦不相同；又系爭專利請求項5 之焊墊極性檢測探針60與證據2 之極性檢測座101 ，兩者檢測發光二極體封裝晶片C 、表面黏著型發光二極體的電極位置是否正確的技術手段亦有差異，自無法認為證據2 已揭露系爭專利請求項5 之極性測試單元6之技術特徵。

⒉證據4 所揭露的極性檢測機15雖然具有檢測極性位置的功能，惟該極性檢測機15是採用何種技術手段來檢測晶片零件3 之極性，以及該極性檢測機15之結構為何，並未在證據4 之說明書及圖式揭露；將系爭專利請求項5 所界定之極性測試單元6 與證據4 之極性檢測機15進行比較，可知證據4 僅揭露極性檢測機15之位置以及功效而已，完全未揭露極性檢測機15之結構，以及檢測晶片零件3 之極性位置是否正確的技術手段。是以，即使在證據4 之基礎下，亦無法藉由參酌申請時之通常知識，直接且無歧異得知系爭專利之請求項5 所界定之極性測試單元6 的技術特徵。

⒊證據3 之電子元件雙軌檢測設備、證據6 所揭示之圓形外觀電子元件特性值檢測裝置，均未揭示類似系爭專利請求項5 之極性測試單元6 的極性測試裝置。證據7 之電性測定部35、證據8 之探針偵測器6 、證據9 之測定用探針20，作用均在於對工件W 進行電氣測定，與檢測工件W 之電極位置是否正確無關，自均未揭示系爭專利請求項5 極性測試單元6 的技術特徵，且證據7 、8 乃完整元件的測試機構，與系爭專利之極性測試單元為完整光學檢測前的測試步驟自有不同。

⒋原處分以拼湊方式作成不具進步性之結論，並未說明舉發證據何處教示組合之建議、提示或動機，顯有後見之明，且系爭專利請求項5 相較於上開舉發證據，顯然具備可以一次性完成對發光元件的數種檢測以及分類，同時可大幅減少檢測、分類時間，而可提高作業效率。是以，在所有的證據均未揭露系爭專利請求項5 所界定之極性測試單元6 的結構特徵，以及相較於各證據具有以上功效的情況下，依進步性判斷原則，組合證據2 至4 與6 至9 ，亦無法證明系爭專利請求項5 不具進步性。

㈡舉發證據無法證明系爭專利請求項9 不具進步性：系爭專利請求項9 所界定的極性測試單元6 與請求項5 所界定的極性測試單元6 具有相同的技術特徵，上開舉發證據均未揭示極性測試單元6 ，已如前述，又系爭專利請求項9 相較於各舉發證據也確實具備可以一次性完成對發光元件的數種檢測以及分類該無法預期的功效，在證據的組合並非可輕易完成，各證據又未具有以上功效的情況下，組合證據2 至4與6至9 ，亦無法證明系爭專利請求項9 不具進步性。

㈢系爭專利請求項10至11，應具有進步性：系爭專利請求項10直接依附於請求項9 ，請求項11依附於請求項10，皆具備請求項9 之全部技術特徵，既然系爭專利請求項9 具進步性，則系爭專利請求項10、11當然亦具有進步性。

㈣聲明求為判決：原處分有關「請求項5 、9 至11舉發成立，應予撤銷」部分與訴願決定均撤銷。

三、被告則以下列等語抗辯：

㈠系爭專利請求項5 不具進步性：證據2 為一種發光元件檢測裝置，證據2 圖1 之轉動盤204、光色檢測裝置203 、極性測試裝置10、定位承座2041、極性檢測座101 之電極1~5 等結構，及利用極性測試裝置10以檢測圖11之料件30之電極0~5 正負極焊墊位置是否正確之技術內容，已揭露系爭專利請求項5 利用旋轉單元、檢測單元、極性測試單元等元件，以檢測該發光二極體封裝晶片正負極焊墊位置是否正確之技術特徵。證據3 為一種電子元件檢測裝置，圖4 之分類裝置250 、旋轉裝置220 ，分別揭示系爭專利請求項5 之分類單元及旋轉單元。證據4 為一種發光元件檢測裝置，圖1 之測盤1 、容槽11、反轉軌道2 、極性測試機15、圖2 之氣道12，分別揭示系爭專利之可旋轉轉盤、容置部、迴轉通道或極性對調單元、鄰近輸送單元之極性測試單元及吸排氣兩用開口。證據8 為一種工件傳遞設備，圖1 、3 、6 之可旋轉轉台3 ，以及探針偵測器6 向上移動穿過底座4 的一開口，分別電性接觸工件w 等結構，已揭示系爭專利之可旋轉轉盤及兩個探針向上移動，且穿過承載底盤以分別接觸封裝晶片焊墊之技術特徵。系爭專利請求項5之技術特徵已分別為證據2 至4 或證據8 揭示，而證據2 至4 、6 至9 同為電子元件檢測技術領域，具有技術領域的關聯性，且均為在一可旋轉轉盤上進行電子元件之測試、極性對調、檢查、分類或搬運，具有功能或作用上的關聯性，彼此間並無難以結合之情形，所屬技術領域中具有通常知識者依證據2 至4 、8 之組合當可輕易完成系爭專利請求項5 之整體技術內容，則再與證據3 、6 、9 組合，當然亦足以證明系爭專利請求項5 不具進步性。

㈡系爭專利請求項9 之主要技術特徵已分別為證據2 至4 或證據8 所揭示，且各元件連接關係僅為鄰近可旋轉轉盤位置排列之簡單修飾，所屬技術領域中具有通常知識者依證據2 至4 、8 之組合當可輕易完成系爭專利請求項9 之整體技術內容，故該等證據再與證據6 、7 、9 組合後亦可證明系爭專利請求項9 不具進步性。

㈢並聲明求為判決：駁回原告之訴。

四、參加人除援引被告答辯外，並補充：舉發之初參加人只以4 件證據提出舉發，係因原告更正專利權範圍，將請求項合併，才又提了其他舉發證據等語為抗辯，並聲明：駁回原告之訴。

五、本院得心證之理由：

㈠按「發明專利權得提起舉發之情事，依其核准審定時之規定。」為現行專利法第71條第3 項本文所明定，其立法理由載稱：「核准發明專利權之要件係依核准審定時之規定辦理，其有無得提起舉發之情事，自應依審定時之規定辦理，始為一致，爰予明定。」查系爭專利申請日為100 年4 月27日，經被告審查後於102 年9 月5 日准予專利等情，有系爭專利之專利申請書及專利說明書附卷可參（參申請卷第1 至20頁），是系爭專利有無撤銷之原因，應以核准審定時之102 年專利法為斷。次按利用自然法則之技術思想之創作，且可供產業上利用者，得依法申請取得發明專利，102 年專利法第21條、第22條第1 項前段定有明文，但發明如係「為其所屬技術領域中具有通常知識者依申請前之先前技術所能輕易完成時」，仍不得取得發明專利，同法第22條第2 項亦有規定。而對於獲准專利權之發明，任何人認有違反前揭專利法之規定者，依同法第71條第1 項、第73條第1 項規定，得附具證據，向專利專責機關舉發之。從而，專利有無違反前揭專利法之情事而應撤銷其發明專利權，依法應由舉發人附具證據證明之。本件參加人於舉發階段所主張之舉發理由為102年專利法第26條第1 項、第22條第2 項，原告提出專利申請專利範圍更正本，被告審查後，准予更正，並認系爭專利並未違反102 年專利法第26條第1 項規定，然違反同法第22條第2 項規定，而為系爭專利請求項5 、9 至11舉發成立應予撤銷之審定，參加人於本件行政訴訟中對於102 年專利法第26條第1 項之舉發理由並未再為爭執，故102 年專利法第26條第1 項之舉發理由並不在本院審理範圍內（最高行政法院106 年度判字第5 號判決反面意旨參照），是本件爭點為：下列證據可否證明系爭專利請求項5 、9 至11違反102 年專利法第22條第2 項規定：⒈證據2 至4 與證據6 至9 之組合，可否證明系爭專利請求項5 、9 不具進步性？⒉證據2 至證據9 之組合，可否證明系爭專利請求項10、11不具進步性？

㈡系爭專利之技術分析（其示意圖如附圖一所示）：

⒈在半導體製程中，往往會因為一些無法避免的原因而生成細小的微粒或缺陷，而隨著半導體製程中元件尺寸的不斷縮小與電路密極度的不斷提高，這些極微小之缺陷或微粒對積體電路品質的影響也日趨嚴重，因此為維持產品品質的穩定，通常在進行各項半導體製程的同時，亦須針對所生產之半導體元件進行缺陷檢測，以根據檢測之結果來分析造成這些缺陷之根本原因，之後才能進一步藉由製程參數的對調來避免或減少缺陷的產生，以達到提升半導體製程良率以及可靠度之目的。系爭專利提出一種發光元件檢測與分類裝置，其包括：一用於輸送多個發光元件的旋轉單元、一檢測單元及一分類單元。旋轉單元包括至少一可旋轉轉盤、多個設置於可旋轉轉盤上的容置部、及多個分別設置於多個容置部內的吸排氣兩用開口。每一個容置部內可選擇性地容納多個發光元件中的至少一個，且每一個發光元件為一底部具有正極焊墊及負極焊墊的發光二極體封裝晶片。檢測單元包括至少一鄰近旋轉單元且用於檢測每一個發光元件之檢測模組。分類單元包括至少一鄰近旋轉單元且用於分類多個發光元件之分類模組。因此，本發明可透過旋轉單元、檢測單元與分類單元的配合，以檢測並分類發光二極體封裝晶片。

⒉系爭專利申請專利範圍：

⑴第5 項：一種發光元件檢測與分類裝置，其包括：一用於輸送多個發光元件的旋轉單元，其包括至少一鎖固在一承載底盤上的可旋轉轉盤、多個設置於上述至少一可旋轉轉盤上的容置部、及多個分別設置於上述多個容置部內的吸排氣兩用開口，其中每一個容置部內可選擇性地容納上述多個發光元件中的至少一個，且每一個發光元件為一底部具有一正極焊墊及一負極焊墊的發光二極體封裝晶片；一檢測單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且用於檢測每一個發光元件之檢測模組；一分類單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且用於分類上述多個經過上述至少一檢測模組檢測後的發光元件之分類模組；以及一極性對調單元，其包括一用於反轉該發光二極體封裝晶片的位置以對調該正極焊墊與該負極焊墊的位置之極性對調模組，其中該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴轉通道；一輸送單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且依據不同時序以依序對應每一個容置部之輸送元件；以及一極性測試單元，其鄰近該輸送單元與該旋轉單元，其中該極性測試單元包括至少兩個位於該發光二極體封裝晶片下方以用於檢測該發光二極體封裝晶片的正極焊墊與負極焊墊的位置是否正確之焊墊極性檢測探針；其中，該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊。

⑵第9 項：一種發光元件檢測與分類裝置，其包括：一用於輸送多個發光元件的旋轉單元，其包括至少一鎖固在一承載底盤上的可旋轉轉盤、多個設置於上述至少一可旋轉轉盤上的容置部、及多個分別設置於上述多個容置部內的吸排氣兩用開口，其中每一個容置部內可選擇性地容納上述多個發光元件中的至少一個，且每一個發光元件為一底部具有一正極焊墊及一負極焊墊的發光二極體封裝晶片；一極性測試單元，其鄰近該旋轉單元，其中該極性測試單元包括至少兩個位於該發光二極體封裝晶片下方以用於檢測該發光二極體封裝晶片的正極焊墊與負極焊墊的位置是否正確之焊墊極性檢測探針；其中，該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊；一極性對調單元，其包括一鄰近該極性測試單元且用於反轉該發光二極體封裝晶片的位置以對調該正極焊墊與該負極焊墊的位置之極性對調模組，其中該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴轉通道；一檢測單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元與該極性對調單元且用於檢測每一個發光二極體封裝晶片之檢測模組，其中該極性對調單元位於該極性測試單元與該檢測單元之間；一表面檢查單元，其鄰近該旋轉單元與該檢測單元，其中該表面檢查單元包括至少一位於該發光二極體封裝晶片上方之正面影像擷取元件；以及一分類單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且用於分類上述多個經過上述至少一檢測模組的檢測與上述至少一正面影像擷取元件的檢查後的發光元件之分類模組，其中該表面檢查單元位於該檢測單元與該分類單元之間。

⑶第10項：如申請專利範圍第9 項所述之發光元件檢測與分類裝置，其中上述至少一檢測模組包括一位於該發光二極體封裝晶片下方以用於供給該發光二極體封裝晶片所需電源之供電元件及一位於該發光二極體封裝晶片上方以判斷每一個發光二極體封裝晶片為發亮的發光二極體封裝晶片或非發亮的發光二極體封裝晶片之檢測元件。

⑷第11項：如申請專利範圍第10項所述之發光元件檢測與分類裝置，其中上述至少一分類模組包括至少一用於接收每一個發亮的發光二極體封裝晶片之第一通行部及至少一用於接收每一個非發亮的發光二極體封裝晶片之第二通行部。

㈢舉發證據說明：證據2 為99年7 月1 日公開之我國第201024758 號「表面黏著行發光二極體的極性測試方法及裝置」專利案（其示意圖如附圖二所示）；證據3 為100 年3 月1 日公告之我國第I338129 號「電子元件雙軌檢測設備及方法」專利案（其示意圖如附圖三所示）；證據4 為98年2 月21日公告之我國第M350807 號「測試包裝機之晶片極性反轉結構」專利案（其示意圖如附圖四所示）；證據5 為99年10月16日公開之我國第I409000 號「發光模組的檢測設備及檢測方法」專利案（其示意圖如附圖五所示）；證據6 為91年6 月11日公告之我國第467468號「圓型外觀之電子元件特性值檢測裝置」專利案（其示意圖如附圖六所示）；證據7 為98年10月1 日公告之我國第I315649 號「工件搬運系統」專利案（其示意圖如附圖七所示）；證據8 為92年3 月1 日公告之我國第522767號「工件傳遞設備」專利案（其示意圖如附圖八所示）；證據9 為92年11月11日公告之我國第5596657 號「測定用探針驅動裝置」專利案（其示意圖如附圖九所示）。上開舉發證據之公告日或公開日，均早於系爭專利申請日（100 年4 月27日），可為系爭專利之相關先前技術。

㈣證據2 至4 與證據6 至9 之組合，足以證明系爭專利請求項5 、9 不具進步性：

⒈關於系爭專利請求項5：

⑴經比對證據2 ：

①證據2 第1 圖揭示一種表面黏著型發光二極體的極性測試裝置10，其中之轉動盤204 、定位承座2041及定位承座內之氣管1021已分別對應揭示系爭專利之「旋轉單元」、「容置部」及其上之「吸排氣兩用開口」，且證據2 第1 圖定位承座可容納發光元件，揭示系爭專利「其中每一個容置部內可選擇性地容納上述多個發光元件中的至少一個」，證據2 第11圖及說明書第14頁至第15頁（見舉發卷第52背頁、51頁），揭示料件30為一種表面黏著型發光二極體，各電極係位於其底部平面，發光二極體具有六個電極（0~5 ），已揭示系爭專利「每一個發光元件為一底部具有一正極焊墊及一負極焊墊的發光二極體封裝晶片」（圖11之料件30之電極0 ~5）。

②證據2 第1 圖中之光色檢測裝置203 已對應揭示系爭專利請求項5 之「檢測單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且用於檢測每一個發光元件之檢測模組」。

③證據2[先前技術] 段揭示「藉由一電性裝置的兩支探針，分別接觸發光二極體的兩支針腳，以使其產生電性導通，進而使發光二極體受點亮，再以一光色偵測裝置擷取發光二極體發光時的光色，以偵測其光色的分佈情形，然後，再依偵測的結果，將各發光二極體分類」（見舉發卷第56至背頁），故於發光元件檢測後進行元件之分類為一習知技術，是證據2 已揭示系爭專利之一「分類單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且用於分類上述多個經過上述至少一檢測模組檢測後的發光元件之分類模組」。

④證據2 說明書第16頁第17至22行揭示「本發明利用一極性測試裝置，使待測的料件進料後，先進行電極位置的測試，以確認其電極位置是否符合預設位置，並搭配一旋轉座，以使電極位置不符的料件，經旋轉後，使電極位置轉至符合的位置，再進行相關的檢測」（見舉發卷第51背頁），已揭示系爭專利請求項5 之「一極性對調單元，其包括一用於反轉該發光二極體封裝晶片的位置以對調該正極焊墊與該負極焊墊的位置之極性對調模組」之技術特徵。

⑤證據2 第1 圖及說明書第8 至9 頁揭示「送料軌道202的一端為進料端2021，係組接於震動盤201 的出料端2011，用以承接由震動盤201 送出的料件30，又轉動盤204 ，則組設鄰近於送料軌道202 另一端的出料端2022」（見舉發卷第53背頁至54頁），是證據2 之送料軌道202 已對應揭示系爭專利請求項5 之「一輸送單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且依據不同時序以依序對應每一個容置部之輸送元件」。

⑥證據2 第1 圖及說明書第9 頁第7 至9 行揭示「一極性測試裝置10，係組設於送料軌道202 的出料端2022、與轉動盤204 之間」（見舉發卷第54頁），已對應揭示系爭專利之「一極性測試單元，其近該輸送單元與該旋轉單元」之技術特徵；又證據2 說明書第5 頁[ 先前技術] 段第7 至11行揭示「在進行光檢測時，需使發光二極體固定後，藉由一電性裝置的兩支探針，分別接觸發光二極體的兩支針腳，以使其產生電性導通，進而使發光二極體受點亮，再以一光色偵測裝置擷取發光二極體發光時的光色」（見舉發卷第56頁）及第6 頁第2 至7 行揭示「為使進行偵測的結果正確，發光二極體再進行檢測前，需使其兩支針腳，位置於預定的位置，亦即其P 極及N 極係有固定的方向性，如此當電性裝置的兩支探針與其接觸後，使發光二極體產生發光接受檢測」（見舉發卷第56背頁），可知以探針作為發光二極體之極性測試已為系爭專利申請前之習知技術，是證據2 已揭示系爭專利之「其中該極性測試單元包括至少兩個位於該發光二極體封裝晶片下方以用於檢測該發光二極體封裝晶片的正極焊墊與負極焊墊的位置是否正確之焊墊極性檢測探針」之技術特徵。

⑦據上，證據2 已揭露系爭專利請求項5 之大部分技術特徵，然證據2 揭示之極性對調單元，係當電極極性位置不符時，則以旋轉方式使發光二極體進行圓周式偏轉，以確保各待測的發光二極體於受測時其電極位置均呈一致，與系爭專利請求項5 之「該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴轉通道」之調整機制不同，且證據2 並未明確揭示系爭專利請求項5 之「該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊」之技術特徵。

⑵有關系爭專利請求項5 之「該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴轉通道」技術特徵部分，經比對證據4 ，其中證據4 第1 圖揭示一種測式包裝機之晶片極性反轉結構，其測盤係鎖固於一承載底盤上，說明書第6 頁[ 實施方式] 第4 行至第7 頁第19行揭示「本創作之測試包裝機之晶片極性反轉結構包括一測盤(1 ) 及一反轉軌道( 2)，該測盤( 1)係延著圓周開設有數個等距離之容槽( 11) ，並於每一容槽( 11) 之內側壁分別設置有一氣道( 12) …氣道( 12) 之下方接設有一管道（121 ），以連接至一高壓空氣源或一真空源而達到吸取或釋放該晶片零件( 3)之功能…於實施組裝時，請參閱第一圖至第三圖，其係將反轉軌道( 2)故設於測盤( 1)之旁側而位於進料軌道( 13) 與包裝帶裝填區( 14) 之間，且反轉軌道( 2)二端之入口( 21) 與出口( 22) 係分別與側盤( 1)上相鄰之二容槽( 11) 相對應，以供晶片零件( 3)改變方向而反轉極性」（見舉發卷第22背頁、第21頁），已揭示系爭專利請求項5 上開「該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴轉通道」之技術特徵。

⑶有關系爭專利請求項5 之「該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊」技術特徵，已為證據8 、或證據7 、或證據9 所分別揭露：

①證據7 為一種工件搬運系統，其說明書第17頁第3 行揭示「工件W 為LED 等，藉由一對探針35a ，35b 所構成的電性測定部35對於工件w 進行電性測定之期間，同時地對工件w 藉由光學測定部36進行光學性測定也可以」（見舉發卷第120 頁），且由第9 圖顯示探針35a ，35b 係穿過平台底座2 的開口而與供件W 之兩焊墊接觸（見舉發卷第114 背頁），已對應揭示系爭專利請求項5 上開「該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針…與該負極焊墊」之技術特徵。

②證據8 為一種工件傳遞設備，其說明書第9 頁第13至22行揭示「如圖1 及2 所示，轉台3 經由台驅動軸11而被控制馬達12驅動，以鄰近於絕緣劑材料5 的上方旋轉。當轉台3 在絕緣劑材料5 上方旋轉時，儲存在轉台3 的工件儲存凹袋2 中的工件W 在底座4 上方滑動而被傳遞至靠近探針偵測器6 的測量點。當工件W被傳遞至靠近探針偵測器6 的測量點時，已經從絕緣劑材料5 的上表面向下後退的探針偵測器6 向上移動，並且從絕緣劑材料5 的上表面向上凸出而與工件儲存凹袋2 中的工件W 接觸。工件W 的電特性如此地由探針偵測器6 測量」（見舉發卷第195 頁），同頁第1 至4 行揭示「探針偵測器6 被設置成為通過設置於構成底座4 的也作用成為導件的絕緣劑材料部分8 的孔部分7 。探針偵測器6 也通過絕緣劑材料固持部分9 的孔9a，使得探針偵測器6 不會與絕緣劑材料固持部分9 接觸」（見舉發卷第195 頁），故證據8 已對應揭示系爭專利請求項5 上開「該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針…與該負極焊墊」之技術特徵。

③證據9 為一種測定用探針驅動裝置，其第1 、3 、4圖及說明書第8 頁第1 至3 段內容，揭示探針20係可一同向上移動穿過探針導孔而可朝正上方上昇，以使得兩個探針分別電性接觸封裝晶片之焊墊（見舉發卷第185 背頁至186 頁、第189 背頁），故證據9 已對應揭示系爭專利請求項5 上開「該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針…與該負極焊墊」之技術特徵。

⑷據上，無論是證據2 、4 、8 之組合，或證據2 、4 、7 之組合，或證據2 、4 、9 之組合，均已揭露系爭專利請求項9 之所有技術特徵，又證據2 、4 、7 、8 、9 均為電子元件檢測技術領域，都是在進行電子元件之測試、檢查，具有技術領域的關聯性，證據2 與證據4均揭示在元件測試前進行電極極性檢測，當極性位置不符合時對於電極位置進行對調，以使電極位置正確，以利後續檢測之進行，故證據2 及證據4 之發明所欲解決問題具有共通性，又證據2 已揭示利用電性裝置之兩支探針結構與待測元件電極接觸進行元件之電性測試，證據7 、8 、9 亦揭示利用探針結構進行與工件W 接觸來進行工件W 的電性量測，證據2 與證據7 、8 、9 之探針結構就功能及作用而言具有共通性，故有組合動機，發明所屬技術領域中具通常知識者在依據證據2 所揭示之發光二極體之檢測及分類裝置，為了解決發光元件極性位置不符合預定位置時，來進行電極位置對調之問題，有合理動機會將證據2 之以旋轉方式進行電極位置對調，置換成以證據4 利用一反轉軌道來進行極性對調，再依據證據2 所揭示之以探針進行電極測試之結構，結合證據8(或證據7 或證據9)之兩個探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個探針分別電性接觸封裝晶片之焊墊之技術特徵，而完成系爭專利請求項5 之發明，因此，證據2 、4 、8 之組合，或證據2 、4 、7 之組合，或證據2 、4 、9 之組合，均已足以證明系爭專利請求項5 不具進步性。又因證據2 至4 、6至9 均為進行電子元件之測試、檢查之技術，具有技術領域的關聯性，而證據2 、4 、8 之組合，或證據2 、4 、7 之組合，或證據2 、4 、9 之組合，足以證明系爭專利請求項5 不具進步性，已如前述，則證據2 至4與6 至9 之組合，自當亦足以證明系爭專利請求項5 不具進步性。

⒉關於系爭專利請求項9：

⑴系爭專利請求項9 ，為一種發光元件檢測與分類裝置，與系爭專利請求項5 之差異在於請求項9 係增加「一表面檢查單元，其鄰近該旋轉單元與該檢測單元，其中該表面檢查單元包括至少一位於該發光二極體封裝晶片上方之面影像擷取元件」，及於分類單元中增加「與上述至少一正面影像擷取元件的檢查後的發光元件之分類模組，其中該表面檢查單元位於該檢測單元與該分類單元之間」。

⑵證據3 揭示一種電子元件檢測裝置（圖4 之電子元件雙軌檢測設備），第1 至4 圖中揭示於電子元件設備中包含有一旋轉裝置40、校正裝置50、拍攝裝置60及分類裝置250 ，其中，分類裝置係在檢測完的電子元件中，將位於最外側軌道中的電子元件分為合格品和不合格品(證據3 請求項1)，拍攝（照相機) 裝置60，用以拍攝由該校正裝置50調整的電子元件的各面形狀（說明書第6頁倒數第2 行，見舉發卷第36背頁) ，故證據3 已揭示系爭專利請求項9 之表面檢查單元及影像擷取元件。此外，依證據7 第9 、10圖及說明書第17頁第3 至15行所揭示之內容（參舉發卷第120 頁），其中畫像檢查部42及其攝影頭38已對應揭示系爭專利請求項9 之表面檢查單元及其影像擷取元件。因此，證據3 或證據7 ，均已揭示系爭專利請求項9 「一表面檢查單元，其鄰近該旋轉單元與該檢測單元，其中該表面檢查單元包括至少一位於該發光二極體封裝晶片上方之面影像擷取元件」及「與上述至少一正面影像擷取元件的檢查後的發光元件之分類模組，其中該表面檢查單元位於該檢測單元與該分類單元之間」之技術特徵。又證據2 至4 與6 至9 之組合可證明系爭專利請求項5 不具進步性，業如前述，而系爭專利請求項9 既包含請求項5 之技術特徵，則證據2 至4 與6 至9 之組合，當亦可證明系爭專利請求項9 不具進步性。

㈤證據2 至證據9 之組合足以證明系爭專利請求項10、11不具進步性：

⒈關於系爭專利請求項10：

⑴關於系爭專利請求項10係依附於系爭專利請求項9 之附屬項，其進一步界定「其中上述至少一檢測模組包括一位於該發光二極體封裝晶片下方以用於供給該發光二極體封裝晶片所需電源之供電元件及一位於該發光二極體封裝晶片上方以判斷每一個發光二極體封裝晶片為發亮的發光二極體封裝晶片或非發亮的發光二極體封裝晶片之檢測元件」。

⑵依證據7 第9 、10圖及說明書第17頁第3 至15行所揭示之內容（見舉發卷第120 頁），其中電性測定部35、及光學測定部36已對應揭示系爭專利請求項10之供電元件及檢測元件，另證據5 圖3 揭示至少一檢測模組（檢測設備10）包括一位於該發光二極體封裝晶片（81發光二極體）下方以用於供給該發光二極體封裝晶片所需電源之供電元件（電性導接機構50）及一位於該發光二極體封裝晶片上方以判斷每一個發光二極體封裝晶片為發亮的發光二極體封裝晶片或非發亮的發光二極體封裝晶片之檢測元件（積分檢測器10），亦已對應揭示系爭專利請求項10之供電元件及檢測元件，故證據5 或證據7 已對應揭示系爭專利請求項10之附屬技術特徵。因證據5與證據2 至4 、6 至9 均為電子元件檢測技術領域，均為進行電子元件之測試、檢查，具有技術領域的關聯性，且證據7 或證據5 均揭示於LED 發光元件檢查設備中同時設置供電元件及檢測元件，以進行發光元件之電性及光學檢測，故就解決問題、功能或作用上具有共通性，故兩者具組合的動機，而證據2 至4 與6 至9 之組合，可證明系爭專利請求項9 不具進步性，已如前述，則證據2 至9 之組合，亦足以證明系爭專利請求項10不具進步性。

⒉關於系爭專利請求項11：

⑴系爭專利請求項11係依附於系爭專利請求項10之附屬項，其進一步限縮「其中上述至少一分類模組包括至少一用於接收每一個發亮的發光二極體封裝晶片之第一通行部及至少一用於接收每一個非發亮的發光二極體封裝晶片之第二通行部」。

⑵證據2[先前技術] 段已揭示以一光色偵測裝置擷取發光二極體發光時的光色，以偵測其光色的分佈情形，再依據偵測的結果，將各發光二極體分類（見舉發卷第55至56頁），另證據7[先前技術] 段已揭示於發光元件進行電性檢測後依據偵測判斷良否被分類而收納，發明所屬技術領域中具通常知識者可依據上開證據之教示輕易思及將分類模組包括至少一用於接收每一個發亮的發光二極體封裝晶片之第一通行部及至少一用於接收每一個非發亮的發光二極體封裝晶片之第二通行部，以進行發光元件之分類（見舉發卷第127 背頁），故證據2 或證據7 已揭示系爭專利請求項11之附屬技術特徵，又證據2至9 之組合，可證明系爭專利請求項10不具進步性，已如前述，則證據2 至9 之組合，亦足以證明系爭專利請求項11不具進步性。

㈥原告主張不可採之理由：原告雖主張：證據2 極性測試裝置10之組成結構、技術手段與系爭專利請求項5 之極性測試單元6 完全不同，且極性測試裝置10與送料軌道202 所組成的元件相對結構亦與系爭專利不同，而證據4 僅揭露極性檢測機15之位置以及功效而已，完全未揭露極性檢測機15之結構，以及檢測晶片零件3 之極性位置是否正確的技術手段，無法由證據4 直接且無歧異得知系爭專利之請求項5 所界定之極性測試單元6 ；證據7、8 乃完整元件的測試機構，與系爭專利之極性測試單元為完整光學檢測前的測試步驟自有不同；原處分以拼湊方式作成系爭專利不具進步性之結論，並未說明舉發證據何處教示組合之建議、提示或動機，顯有後見之明；系爭專利相較於證據2 至4 、6 至9 ，顯然具備可以一次性完成對發光元件的數種檢測以及分類，同時可大幅減少檢測、分類時間，而可提高作業效率云云。惟查：

⒈本院並未認定單獨證據2 或證據4 即可揭露系爭專利請求項5 、9 之「極性測試單元」所有技術特徵，有關系爭專利請求項5 「極性測試單元」所進一步界定「該極性檢測單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊」之技術特徵係揭示於證據7 或證據8 或證據9 ，已如前述，又系爭專利之極性測試屬於電性測試之一種，既然證據7 、8 已揭示以探針與發光二極體之兩電性接腳接觸來進行電性測試，自已揭露系爭專利有關極性測試之技術特徵。再者，原告主張系爭專利請求項5 之極性測試單元6 與可旋轉轉盤11的元件相對結構特徵和證據2 之極性測試裝置10與送料軌道202 所組成的元件相對結構並不相同云云，惟查證據7 第9 圖、或證據8 之第3 及4 圖、或證據9 第1 至3 圖，已揭示極性測試單元包括至少兩個焊墊電極檢測探針（即證據7 之探針35a ,35b；證據8 之探針6 ；證據9 之探針20) ，位於容納在可旋轉盤（證據7 之平台底座2 、搬運平台3 ；證據8 之轉台3 ；證據9之旋轉台22）的容置部內之發光二極體封裝晶片W 的下方，故證據7 或證據8 或證據9 已揭示極性測試單元與可旋轉轉盤的元件相對應結構特徵。

⒉再者，雖證據4 並未明確揭示極性檢測之裝置結構，惟證據2 或證據4 均已揭示電子元件電性測試前需進行極性檢測之技術特徵，證據2 及4 亦均教示當極性位置不符預定位置時需對該元件進行位置調整（對調），且證據4 亦明確教示系爭專利之利用迴轉通道來進行元件電極對調之機制，是依據該教示有合理動機會組合證據7 或證據8 或證據9 之探針檢測結構來完成系爭專利之發明。此外，因證據2 已揭示系爭專利請求項5 之檢測單元、分類單元、極性對調單元、輸送單元及極性測試單元之各單元全部或部分技術特徵，故證據2 亦具有可以一次性完成對發光元件的數種檢測以及分類之功能，雖系爭專利請求項中所界定之部分單元之技術特徵與證據2 係藉由不同結構或技術手段達成，惟系爭專利與證據2 之差異之技術特徵亦已明確揭示於其他的證據，且經審酌證據2 至證據9 間技術領域之關連性，證據間之解決問題、功能及作用之共通性，經本院綜合考量後認為，證據2 至9 間具有組合的動機，且系爭專利之發明相較於舉發證據並未產生無法預期之功效，是系爭專利請求項5 、9 至11不具進步性，原告上開主張均無理由。

六、綜上所述，證據2 至4 與證據6 至9 之組合，可證明系爭專利請求項5 、9 不具進步性，證據2 至證據9 之組合，可證明系爭專利請求項10、11不具進步性，是系爭專利請求項5、9 至11違反102 年專利法第22條第2 項規定，因此，原處分所為系爭專利「請求項5 、9 至11舉發成立，應予撤銷」之審定，並無違誤，訴願決定予以維持，亦無不合，原告請求撤銷該部分之原處分及訴願決定，並無理由，應予駁回。

據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依智慧財產案件審理法第1 條，行政訴訟法第98條第1 項前段，判決如主文。

智慧財產法院第二庭