臺灣臺北地方法院103年度重訴字第486號

臺灣臺北地方法院民事判決　　　　　　103年度重訴字第486號

原告

即反訴被告

矽格股份有限公司

法定代理人

黃興陽

訴訟代理人

郭旭東

訴訟代理人

吳敏弘

訴訟代理人

蘇文浩

訴訟代理人

林珍珠

訴訟代理人

邱雅文律師

複代理人

許正欣律師

複代理人

黃郁炘律師

訴訟代理人

葉大慧律師

複代理人

黃姿裴律師

參加人

蔚華科技股份有限公司

法定代理人

許宗賢

訴訟代理人

曾能煜律師

訴訟代理人

任君逸律師

訴訟代理人

陳又寧律師

被告

即反訴原告

威盛電子股份有限公司

法定代理人

陳文琦

訴訟代理人

蕭富山律師

　　　　　　黃鈺如律師

　　　　　　陳冠廷

　　　　　　楊德娟

上列當事人間請求給付報酬事件，本院於民國106 年7 月24日言詞辯論終結，判決如下：

主文

事實及理由

壹、程序部分：

一、按被告於言詞辯論終結前，得在本訴繫屬之法院，對於原告及就訴訟標的必須合一確定之人提起反訴；反訴之標的，如專屬他法院管轄，或與本訴之標的及其防禦方法不相牽連者，不得提起，民事訴訟法第259 條、第260 條第1 項分別定有明文。而所謂反訴之標的與本訴之標的及其防禦方法有牽連關係者，乃指反訴標的之法律關係與本訴標的之法律關係兩者之間，或反訴標的之法律關係與本訴被告作為防禦方法所主張之法律關係兩者之間，有牽連關係而言。即舉凡本訴標的之法律關係或作為防禦方法所主張之法律關係，與反訴標的之法律關係同一，或當事人雙方所主張之權利，由同一法律關係發生，或本訴標的之法律關係發生之原因，與反訴標的之法律關係發生之原因，其主要部分相同，均可認兩者間有牽連關係。經查，本件原告即反訴被告（下稱原告）主張其依被告即反訴原告（下稱被告）之訂單指示，完成民國102 年7 月至同年12月份之IC測試工作，被告應依約給付各月份測試工作之報酬，因被告未給付系爭測試工作之報酬總計新臺幣（下同）10,394,635元，故依兩造間契約之約定，請求被告給付之；被告則於本件言詞辯論終結前之103 年12月4 日，主張其因原告施作前開測試工作有瑕疵致被告受有損害等情事，故請求原告賠償成本、銷量減少之損失等損害。經核，本件反訴與本訴均係基於兩造間系爭IC測試工作契約關係所生之爭執，堪認反訴訴訟標的之法律關係與本訴訴訟標的之法律關係相牽連，揆諸上開說明，本件被告提起反訴自合於民事訴訟法第259 條、第260 條第1 項之規定。

二、再按就兩造之訴訟有法律上利害關係之第三人，為輔助一造起見，於該訴訟繫屬中，得為參加，民事訴訟法第58條第1項定有明文。而所謂「法律上利害關係」，係指第三人在私法上之地位，因其所輔助之當事人一造敗訴，將受直接或間接之不利益；惟若該當事人獲勝訴判決，則可免受不利益之情形而言。經查，本件原告用以施作IC測試工作，所使用之Diamond 10測試機臺係由美商LTX-Credence製造，委託參加人蔚華科技股份有限公司在臺灣代理銷售，原告於98年間向參加人購買該機臺數臺，該等機臺中序號為10-PP00240者即係原告內部編號之SD10-21 機臺（下稱系爭機臺），被告爭執在本件兩造間系爭IC測試工作契約中未能依約正常測試運作致被告受有損害，故本件訴訟判決結果將認定參加人所銷售予原告之系爭機臺是否能依約正常運作，有無造成兩造受有損害，可認參加人對於本件訴訟有法律上之利害關係，揆之上開規定及說明，參加人為輔助原告而聲請參加訴訟，自應准許。

貳、實體方面：

一、本訴部分兩造之聲明及陳述：

㈠、原告起訴主張：被告為積體電路產品設計暨銷售之科技公司，原告則為積體電路代為檢測試產品良率之公司。被告於102 年5 月間，以電子郵件方式委託原告代為測試被告所生產之積體電路產品（下稱系爭IC），原告則於102 年5 月6 日回覆允諾之。兩造成立「WM8880積體電路測試」契約（下稱系爭契約），工作內容為被告於102 年4 月30日提供產品測試程式規格表，載明被告提供之測試程式（Test Program及QA Program），並安裝於被告指定並由原告採購之測試主機中，另外由被告提供載板後，由原告提供檢測系爭IC之勞務，且由原告依照被告每次貨批之指示完成測試工作及交付。並基於被告付款之會計作業程序考量，雙方約定之付款期限為交貨月結60天之次月10日付款。而原告依約所應盡之義務，僅有提供具有專業技術之專業人員，而被告則應提供正確之測試程式，再由上開專業人員經由測試程式進行系爭IC測試之判讀。故如測試程式無法正確判讀系爭IC瑕疵與否，甚而造成系爭IC燒錄之狀況，顯均與原告全然無涉，況原告受被告委託進行檢測時，測試機臺依照被告設計之檢測程式所顯示之檢測結果良率均為90％以上，此一結果均符合兩造間系爭契約之約定，且原告依照系爭契約所負之勞務僅為依被告所提供之測試程式，就測試程式顯示之檢測結果予以判讀並加以分類。因此，原告就系爭契約須依照被告提供之測試程式（即被告所為之指示）提供勞務，原告就該部分契約之履行，並不具有獨立性，應屬具有民法上「委任契約」之性質。退步言之，縱如被告主張兩造間之契約性質具有民法上承攬契約之性質，惟按民法第496 條規定，被告所提供之測試程式、載板（即指示有瑕疵），原告仍不負瑕疵擔保責任。申言之，原告所提供之工作，僅為依照被告所提供之測試程式，就測試程式顯示之檢測結果予以判讀並加以分類，並不涉及IC之製造或生產等項目。而民法承攬契約中所謂「一方為他方完成一定之工作」，就本件委託測試契約之履行而言，原告依約所完成之「一定之工作」，僅為「就測試程式顯示之檢測結果予以判讀並加以分類的勞務給付」。被告既於102 年7 月至12月間陸續將待測試之系爭IC交付予原告進行測試，原告亦如期完成測試工作。故被告自應於102 年10月10日、11月10日、12月10日、103 年1 月10日、2 月10日及3 月10日分別給付報酬予原告，102 年7 月之報酬金額38,371元及應自102 年10月10日起算遲延利息；102 年8 月之報酬金額4,457,904 元及應自102 年11月10日起算遲延利息；102 年9 月之報酬金額1,891,398 元及應自102 年12月10日起算遲延利息；102 年10月之報酬金額1,425,921 元及應自103 年1 月10日起算遲延利息；102 年11月之報酬金額617,974 元及應自103 年2 月10日起算遲延利息；102 年12月之報酬金額4,496 元及應自103 年3 月10日起算遲延利息（計算式：38,371＋4,457,904 ＋1,891,398 ＋1,425,921 ＋617,974 ＋4,496 ＝8,436,064 ），詎被告迄今仍未給付上開報酬及遲延利息。又原告於完成測試系爭IC之工作後，被告仍以電子郵件方式告知並提供原告新版測試程式，指示原告以此程式再就同一批系爭IC進行測試，顯係要求原告進行非原契約約定範圍之額外測試工作，而此項額外工作之費用並不包含於系爭契約價金內，原告須額外提供檢測勞務以完成重新測試1,461,451 片晶片之工作，故被告自有給付原告重新檢測所生之費用即1,958,571 元之契約義務存在。又被告固辯稱系爭IC的E-FUSE燒錄應歸責於原告，惟原告之測試代工（提供依檢測結果之撿選分類）完全遵照被告當初設定的要求和規格，系爭IC的E-FUSE燒錄係因被告設計之測試程式有燒錄指令，且被告設計之測試程式指示輸送2.5V電壓，乃因被告設計之載板具有設計瑕疵，系爭IC燒錄之原因，乃被告提供之測試程式中ATPG所致，且被告亦無於測試程式中加入檢測燒錄與否之判定機制，致其受有其所稱之損害，顯不可歸責於原告至明，即被告設計之測試程式未有確認E-FUSE的功能檢驗機制存在，違反一般設計常規，導致測試程式就完全沒有認定受測IC有任何瑕疵，故系爭機臺沒有顯示異常情況。另系爭IC燒錄之結果，究其緣由乃因被告提供之測試程式執行燒錄功能，且無法正確判讀系爭IC是否為良品，原告應負之契約義務僅有提供專業人員就系爭IC通過測試程式之判讀而已，至電壓輸送之情形，亦與系爭IC燒錄結果毫無因果關係，益證本件系爭IC燒錄之結果，並非可歸責原告之原因甚明，故本件被告請求原告負損害賠償責任，實屬無稽。再被告所提供之測試程式，其測試程式設計者之設計不符合設計常規至少計有：⒈測試機臺之電子零件有一定之使用周期，電子零件失去正常效用為一般測試程式設計者可預見之情況，此一情況需藉由測試程式的OPEN/SHORT測試（或稱為continuitytest) 作為檢測機制。⒉本案測試程式對於系爭DPIN_S2_P4並未檢測OPEN /SHORT 測試，然此PIN 之腳位係用於控制E-FUSE的電壓。藉由檢視測試程式可知，該測試程式對此PIN之宣告為「DONOT CARE」（未註記），此即代表任何電壓均通過，因此，如該PIN 輸出-34mV 電壓時，測試程式依設計常規有針對此PIN 設計檢測機制，即可防止此一情形。又單憑E-FUSE電壓之輸送並無法造成E-FUSE燒錄之結果，被告所提供之測試程式於ATPG項目中常態性啟動E-FUSE燒錄程序，測試程式卻無任何檢測E-FUSE之機制，被告所提供之測試程式實有違反E- FUSE 設計應用之設計常規。⒊被告之測試程式無法檢測出E-FUSE被燒錄之積體電路，故系爭IC產品依照被告原先所提供之程式檢測後，該複驗結果仍顯示為良品。原告依據被告所提供之測試程式的結果，提供生產分類之勞務，原告依照被告之指示並無任何瑕疵存在。是被告以「改版後的測試程式」指控原告依據「改版前的測試程式」所為提供之勞務有瑕疵存在，實屬不合理。復由卷附工業技術研究院（下稱工研院）於105 年7 月29日所出具之技術意見書可知，本件應係被告設計之測試程式造成燒錄，工研院明確指出本件被告設計程式之錯誤「若不欲達到E-FUSE燒錄之結果，就不應該設計啟動E-FUSE燒錄程式，同時亦得以其他方式避免燒錄的發生。」，被告主張不欲達到E-FUSE燒錄之結果，即不應該設計啟動E-FUSE燒錄程式，同時亦得以其他方式避免燒錄的發生，然被告不但有啟動E-FUSE燒錄程式，同時毫無以其他方式避免燒錄的發生。被告卻遲於被告客戶退貨後，方修正測試程式再委請請原告重測時，才額外增加了檢驗E-FUSE之測試。又被告設計之測試程式指示輸送2.5V電壓，本件由參加人的實驗報告可知，燒錄時間點是在測試程式啟動後才產生，而工研院鑑定意見表示倘若燒錄是在測試程式啟動之後，測試機臺是受測試程式控制，遵循測試程式之指令來啟動或配送2.5V電壓，由此可知本案確係由測試程式啟動控制2.5V電壓。另被告設計之載板具有設計瑕疵，工研院明確指出本件被告設計載板電路之瑕疵，被告沒有將DPIN_S2_P4輸入設定在高電位（邏輯的壹值）或高阻抗，而是設計成do not care 。被告在事後修正時，也如工研院所指出之方式修正，將載板上相關電路移除，切斷E-FUSE供給之電源，得佐證工研院之指正之修改設計方屬正確。且被告設計之測試程式未有確認E- FUSE 的功能檢驗機制存在，違反一般設計常規，一般測試程式應該做每個PIN 腳「測輸出/輸入（I/O ）的檢測」，工研院亦具體指明此為一般設計常規。被告的測試程式並未照設計規範針對每個PIN 腳做輸出/ 輸入（I/O ）的檢測而導致問題發生，被告甚至在問題釐清後仍無測試程式設計常規之正確認知，顯為可歸責於被告自身專業能力不足之過失導致被告自己之損害。末由卷附臺大嚴慶齡工業研究中心104 年12月22日工研字第0000000 號技術鑑定報告並不能直接證明本件系爭IC發生燒錄可歸責於任一方，然從該報告內容已可證明本案測試程式是否應加以測試IC是否經燒錄，判斷義務乃在測試程式設計者被告身上，被告因自己之疏失，未設計該測試項目而造成測試結果不如預期，其責任顯不可歸責於原告。爰依兩造間系爭契約之法律關係請求被告給付報酬。並聲明：㈠、被告應給付原告10,394,635元，其中38,371元自102 年10月10日起、4,457,904 元自102 年11月10日起、1,891,398 元自102 年12月10日起、1,425,921 元自103 年1 月10日起、617,974 元自103 年2 月10日起、4,496 元自103 年3 月10日起、1,958,571 元自起訴繕本送達被告之翌日起，均至清償日止，按年息百分之五計算之利息；㈡、如受有利之判決，原告願以現金供擔保請准假執行。

㈡、被告則以：被告委託原告測試系爭IC晶片，雖未簽署書面協議，惟兩造間就委託測試晶片之交易存有系爭契約關係，原告就系爭契約關係之內容，表明「系爭契約約定，原告將積體電路測試完成，並交付被告後，經原告結算該月份總共測試報酬數額後，被告於該月份後3 個月內為給付」等語，可見本件系爭契約係「原告為被告完成一定之測試工作」，「被告俟測試工作完成給付報酬」，即為民法第490 條第1 項定之承攬契約，故本件兩造間系爭契約應係屬承攬契約，至為明確。而本件系爭契約兩造約定之契約義務為：被告提供測試程式及系爭IC晶片給原告，原告提供測試機臺，載入測試程式後，測試系爭IC。測試程式及測試項目業經原告驗證通過。測試項目則為：「Bandgap ,clktst 」、「Ntree , ATPG」、「O/ S , Power Short」、「Usb , ADC , HDMI」及「mbist」等五項；「E-FUSE」不在委託測試之範圍內。又系爭遭毀損之IC，皆由原告內部編號SD10-21 之系爭機臺所測試，係因系爭機臺本身之DPIN異常，誤送電壓輸入系爭IC，而於執行ATPG檢測時，因2.5V電源開關導通，致未受控制之電流進入系爭IC之E-FUSE，而寫入不正確之資料，導致部分系爭IC毀損，本件原告以E-FUSE遭燒毀而推論系爭測試程式中含有E-FUSE燒錄程式，並以此歸咎於被告，實屬謬誤，蓋測試程式不含燒錄E- FUSE 之程式乙節，原告知之甚詳，設若系爭測試程式有燒錄程式存在，則所有經測試之晶片勢必全部燒毀E-FUSE，惟事實上，全部經測試之晶片共計4,890,794 顆，E-FUSE遭燒毀之晶片僅251,209 顆，且完全集中在原告用以測試系爭IC5 臺測試機臺中編號SD10-21 之系爭機臺1 臺而已。甚者，自102 年5 月起即有系爭IC晶片經系爭機臺測試，全部受測晶片共計1,583,105 顆，但迨至102 年7 月11日以後經此系爭機臺測試之系爭IC晶片，其E-FUSE始遭燒毀，其前之測試產品均無問題。以上事實，有原告自行提出之產品測試良率表，記載「2013/5/20 左右SD10-21 加入生產（藍色線）良率也都在91% 以上」、「即使在威信公司宣稱SD10-21 因機臺異常造成高達50% 不良率時，在當時的生產良率仍大於90% ……」、「7 月份有SD10-61 及SD10-45 路續加入生產，生產良率也無異常」等語可證，此外，工研院之技術意見曾指出：「本案測試程式的驗證與電性抽測並無法針對燒錄E-FUSE所需之供給電源做檢測。」，蓋若於Correlation （驗證）及EQC （電性抽測）中指定作燒錄結果之檢驗，則係針對「晶片」為之；對於「供給電源」則無法檢驗燒錄結果。因此，系爭機臺的DPIN損壞，打開2.5V開關，使電壓進入而燒毀E-FUSE；此一供電過程並無法利用Correlation 及EQC 加以檢驗，亦即非被告之測試程式所能檢測，即不能將系爭IC燒毀歸責於被告之測試程式，反之，原告應就其測試機臺瑕疵導致晶片毀損負責。且由卷附工研院技術意見書略謂「要不要有E-FUSE的功能是由晶片設計者決定」，及「若軟體測試程式設計者已經被明確告知需驗證E-FUSE的功能，則軟體測試程式設計者應編寫相關測試程式以驗證E-FUSE的功能」等語，即可得知不需要有E-FUSE的功能者，即不需要有驗證E-FUSE的程式設計。查本件系爭IC並不需要燒錄，即不需要有E-FUSE的功能，故系爭測試程式即無必要設有驗證E-FUSE的程式，原告一再主張被告所提供之測試程式應有驗證E-FUSE程式的設計云云，實有違誤。又工研院之鑑定技術意見書稱「每一DPIN均應被檢測」，則因「DPIN係測試機臺之一部分」之事實，即可推論因測試機臺係由原告提供，則DPIN應由原告檢測，然原告未設檢測機制，導致DPIN漏電而開啟2.5V電源開關，終致部分系爭IC之E-FUSE燒毀，責任自在原告。又本件原告自承系爭機臺「當DPIN損壞時電子開關導通」、「可能造成開關導通的原因：……3.機臺送出零（或接近零）電壓- 此次發生問題的原因，因SD10-21 損壞」、「原告之SD10-21 測試機臺發出微量電壓（接近於零），致開關（FET switch）導通」、「FET switch失效或打穿，…導致2.5V通過到達devicepin 造成device efuse被誤寫入」等情，而由卷附工研院鑑定技術意見可知因測試機臺內電路板是測試機臺的一部分，而系爭機臺損壞的DPIN即為該電路板，故被告測試晶片之測試程式對原告之機臺電路板進行檢測，並非設計常規，反之，原告對自己之機臺電路板進行檢測，方屬設計常規。又依卷附工研院之鑑定意見已表示「若不欲達到E-FUSE燒錄之結果，就不應該設計啟動E-FUSE燒錄程式，同時亦得以其他方式避免燒錄的發生。例如，以切斷E-FUSE供給電源之方式達到避免燒錄的發生結果，亦即需要將DPIN_S 2_P4 輸入設定在高電位（邏輯的壹值）或高阻抗，不可為低電位（邏輯的零值）」等語，惟本件被告之測試程式並無任何燒錄程式，且DPIN亦係設定在高電位，因此2.5V電源開關係屬關閉狀態，即已切斷E-FUSE供給電源，故由工研院之鑑定意見可知被告已盡避免損害之義務，工研院技術意見又稱「在測試程式啟動之前，測試機臺啟動或配送2.5V的電壓；在測試程式啟動之後，測試機臺遵循測試程式之指令來配送2.5V的電壓」，此即為原告歷次書狀所陳稱「由FET switch的導通與否來控制2.5V電壓到達Devicepin 」、「測試機臺中的DPIN發生異常，致其產生電壓並誤送至電路板」、「造成開關導通的原因：3.機臺送出零（或接近零）電壓- 此次發生問題的原因，因SD10-21 損壞」、「當DPIN損壞時電子開關導通」、「SD10-21 測試機臺發出微量電壓，致開關（FE T switch ）導通」、「開關一旦打開，讓電壓通過到達IC，IC就會處於可以燒錄的狀態」、「電子開關功能失效而將電壓2.5V輸入至IC」、「E-FUSE是在執行完測試程式中之ATPG項目後才被燒錄」、「FET switch失效或打穿，導致2.5V通過到達devicepin 造成device-efuse 被誤寫入」、「電子開關正常時因為2.5V電壓被阻斷，即使ATPG執行燒錄，但電壓未供給，所以燒錄不成功」之情形，足見系爭IC遭燒毀，係因原告之系爭機臺誤送電壓所致，至為明確。末卷附工研院鑑定意見已載明「E-FUSE的燒錄是一次性，不可回復的行為」，則E-FUSE被燒錄之系爭IC自無可能回復未燒錄之狀態，故該等系爭IC已成無價值之廢品甚明。復原告對其測試機臺之瑕疵應負責，蓋原告共使用4 臺測試機臺測試被告交付測試之系爭IC，然其中僅有編號SD10-21 之系爭機臺，因DPIN發生異常，導致電壓誤送至受測之系爭IC產品上而燒毀部分系爭IC，故該等系爭IC產品之毀損乃完全起因於原告所操作之系爭機臺之故障所致。再原告以其實施非系爭契約原約定範圍之額外測試工作為由，主張被告應給付原告重工報酬1,958,571 元云云，惟因該等系爭IC產品毀損，致遭被告之客戶整批退貨，則為篩選並確認退貨中遭原告測試機臺燒毀之產品及其數量，即須進行重測，此一重測工作自屬原告加害給付之結果，則其所生之費用，自應由原告負擔，故原告請求被告給付重工報酬1,958,571 元，即屬無據。末該等遭毀損系爭IC之價格已遠遠超過原告請求之測試費用，被告僅依該等系爭IC之成本初步估算，損失即已高達約3,000 萬元，遑論其餘因該等系爭IC毀損造成之損失，而被告已依民法第334 條第1 項之規定，於102年11月15寄發存證信函向原告表示以受測試系爭IC產品燒毀之損害賠償債權與本件原告之報酬請求權互為抵銷，故原告對被告已無任何債權得請求，本件原告請求被告給付其訴之聲明之金額，應無理由等語資為抗辯。並答辯聲明：㈠、原告之訴駁回；㈡、如受不利判決，願供擔保請准宣告免為假執行。

二、反訴部分兩造之聲明及陳述：

㈠、被告反訴起訴主張：原告提出之「系爭產品明細」雖記載遭毀損之系爭IC僅249,909 件，但尚有1,300 件前已送達被告之客戶端後，遭客戶以該等IC晶片有毀損而退回，故全部遭毀損之系爭IC晶片確為251,209 件（計算式：249,909 ＋1,300 ＝251,209 ）。而原告亦已自承「E-FUSE燒錄導至E-FUSE功能不正常而需報廢」、「E-FUSE的改變會影響device行為，而且是不可回復的」、「E-FUSE燒錄為破壞性燒錄，誤動作後無法回復」、「E-FUSE燒毀的IC無法進入開機程序變成損毀廢品」等語，且亦請求鑑定「E-Fuse有無法重複寫入之特性」，則原告顯已明知且自承遭燒毀之系爭IC完全不能修補，故遭毀損之系爭IC晶片已屬廢品而無價值，被告係依系爭IC產品所需之製程而投入成本，被告就系爭IC產品自晶圓購入、背面研磨、晶片封裝及晶片測試之實際支出成本總額，為109,213,679元（計算式：購入該批晶圓支出79,036,210＋每片晶圓背面研磨支出201,900 ＋晶圓封裝費用支出28,523,898＋晶圓測試費用1,451,671 ＝109,213,679 ）。再於總成本109,213,679 元中，經測試後為良品（即「Pass」）而得出貨者為1,021,664 顆，故每顆晶片之成本為106.9 元（計算式：109,213,679 ÷1,021,664 ＝106.89，四捨五入為106.9 ）。本件經燒毀251,209 顆晶片之實際支出成本，即為26,854,242元（計算式：106.9 ×251,209 ＝26,854,242）。又因系爭IC晶片E-FUSE毀損事件，導致被告下令停止出貨，以待確認燒毀原因，避免損害擴大，而未能即時出貨以滿足客戶之需求，導致客戶減少對被告之訂單，轉向其他公司購買，被告因而受有銷量減少之損失。此部分被告自102 年7 、8 月間遭遇系爭IC燒毀晶片之事件後，因抑制及停止出貨，不及市場旺季，以致銷量大幅減少，如與前一年（101 年）相比，絕對減少數量高達1,029,160 顆（計算式：2,031,000 －1,001,840 ＝1,029,160 ）。以系爭IC產品平均淨獲利為每件美金1.1079元，及103 年12月3 日臺灣銀行新臺幣對美金之現金買入匯率31.292計算，損失金額為與前一年相比，被告銷量減少之損失為35,679,338元，且如以市場預估量計算，被告銷量減少之損失為65,230,687元，另如以預估需求量計算，被告銷量減少之損失為39,804,878元，本件被告確有因系爭IC晶片E-FUSE毀損事件而受有銷量減少之損失分別為35,679,338元或65,230,687元或39,804,878元，而跌價之損失則為29,813,448元，惟被告僅反訴請求原告給付35,000,000元及14,000,000元。上述原告履行系爭契約對被告所為之加害給付，所造成被告受有前開損害，被告得依民法債務不履行不完全給付損害賠償責任之法律關係請求原告負損害賠償責任，即被告得反訴請求原告賠償之金額，為：⑴系爭IC燒毀產品之成本26,854,242元；⑵銷量減少之損失35,679,338元或65,230,687元或39,804,878元；⑶跌價損失29,813,448元。被告茲依民事訴訟法第244 條第4 項之規定，就銷量減少之損失僅請求35,000,000元，就跌價損失請求14,000,000元，故合計以上被告反訴請求原告賠償之金額為75,854,242元（計算式：26,854,242＋35,000,000＋14,000,000＝75,854,242）。另原告於本訴中請求被告給付全部報酬總計金額10,394,635元，該金額包含重新測試之報酬1,958,571 元。惟原告重新測試係為篩選並確認遭其燒毀之產品及數量，乃係原告加害給付之結果，其所生之費用自不應由被告負擔，應予扣除，故扣除後，本件原告本訴得請求之測試報酬僅有8,436,064 元（計算式：10,394,635－1,958,571 ＝8,436,064 ）。以本件被告對原告債務不履行不完全給付之損害賠償債權75,854,242元與本訴原告之報酬請求權8,436,064 元在本訴互為抵銷後，原告尚應賠償被告67,418,178元（計算式：75,854,242－8,436,064 ＝67,418,178）。爰依民法債務不履行不完全給付損害賠償之法律關係提起本件反訴。並反訴訴之聲明：㈠、反訴被告應給付反訴原告67,591,512元及自反訴起訴狀繕本送達翌日起至清償日止，按週年利率百分之五計算之利息。㈡、反訴原告願供擔保，請准宣告假執行。

㈡、原告對反訴之答辯則以：測試廠商乃依照IC設計公司設計及交付之測試程式、載板及測試標準執行測試工作，因此在IC產業，測試廠商對於每片晶片之檢測費用僅收取IC設計公司極微薄的費用，在本案約為0.045 美元，而被告提出之資料則顯示每片之售價最高可達5.91美元。兩者相距一百多倍，其緣由即在IC設計公司應具有對IC多項設計及測試程式的Know-how，僅有IC設計公司知悉IC的編寫內容及相對應的測試程式內容，此屬IC設計公司重要之營業秘密，測試廠商不可能得知。而從事後結果看來，可知本件IC測試程式中的ATPG有啟動燒錄功能，而被告漏未編寫檢測此部分的IC功能是否符合預期的設定，亦屬其測試程式之設計瑕疵。又被告迄今未舉證證明其所主張之損害存在，由卷附工研院技術意見報告書第15頁：「E-FUSE的設置有『電路修補』、『電路調整』、『晶片識別』或『功能特色客製化』等不同的目的。燒錄行為是否會造成IC的損毀則必須由完整的功能測試結果決定，功能完整與否是市場價值的判斷依據。由於目前提供的資料並未說明e-fuse的設置目的、數目及其燒錄後的影響程度，因此無法判定是否尚有市場價值」可知，工研院就被告於訴訟中所提資料都無法判斷，遑論原告要如何判斷反訴原告所稱損害。退步言之，縱有損害發生，損害發生之原因乃可歸責於被告就其IC設計及測試程式設計、載板設計有重大瑕疵，而不可歸責於原告，此有IBM 之應用技術文件、工研院技術意見書足證。再本件被告反訴一再空言主張其有「銷售數量減少」云云，惟被告就此全然未提出客觀上之損害事證與因果關係之證明，且被告在102 年8 月後仍可正常供貨，實際上被告於102 年8月之庫存數量足供實際出貨數量至102 年11月。退步言之，縱被告本件反訴所提之事證可採信，然由被告所提「反訴原證12號」的內容指出「同時儘快抽後面的生批號上系統版快速驗證」可知，被告另有庫存品可供其正常出貨，此亦由被告所提供之「反訴原證11號」可佐，且原告於102 年8 月已完成檢測之測試良品數量為1068k ，然被告之實際出貨數量僅僅只有236k，足佐被告在102 年8 月後仍可正常供貨，實際上被告之庫存數量足供實際出貨數量至102 年11月。本件被告謊稱因系爭IC燒錄事件發生而有不能出貨之情況云云，顯與實際情況不符。另證人翁楓嵐證述反訴原證9 號乃臨訟後為因應訴訟製作，更不可採作客觀證據，且銷售數量減少之原因並非單一，而可能包含市場波動因素、產品市佔率、國際銷售環境、銷售能力及其與客戶間締約、議價等等因素影響，本件被告並未舉證以實其說。復被告一再泛言主張其有「銷售價格下跌」之跌價損失云云，惟被告就此全然未提出客觀上之損害事證與因果關係之證明，且從被告過去銷售WM8850T 產品，單價跌價幅度高達百分之32.5，可知單價跌價乃正常現象，另從被告過去銷售WM8850T 產品，同一客戶、同一張訂單（日期) 、同一產品，單價相差0.615 美元，跌價幅度達百分之14，且被告過去銷售WM8880T 產品短短一周單價降價0.2 美元，從被告過去銷售WM8880T 產品，同一客戶、同一產品，單價相差0.462 美元，跌價幅度達百分之10，亦可證明。況本件證人翁楓嵐亦證述「不同下游客戶他的出貨價格會是不一樣的」可見價格之變動原因多樣，價格變動並不能證明為因本案所致跌價損失。復觀本件系爭IC經燒錄後仍有市售價值，故被告主張之賠償應僅為跌價的損失，被告以系爭IC產品成本計算後再加上跌價之損失之計算，顯係重複計算損失而有錯誤。又被告反訴主張經燒錄之系爭IC產品成本共計27,027,576元，然102 年7 月15日晶圓廠台積電出口報單所載每塊12吋晶圓價格為72,306元（計算式：3,615,295 ÷50＝72,306），折算當時1 美元兌換新臺幣之匯率約為1 ：30，約為美元2,410 元，與被告提示之發票價格美元3,920 元差距高達美元1,510 元，可知被告所提之晶圓價格與市場價格悖離甚鉅。末本件反訴原告於102 年8 月7 日提出其修改之測試程式，該版本增加E- FUSE 功能檢測項目，與被告原本交付之測試內容並不相同，被告交付前揭新的測試程式後，於102 年8 月10日開始陸續發函請原告以新的測試程式進行測試工作，至102 年9 月6 日止共重新測試1,461,451 件系爭IC晶片，而重測費用總額合計為1,958,571 元，原告並未曾表示重新測試系爭IC測試不收取費用，本案重新測試系爭IC，乃因被告原先提供之測試程式未設計E-FUSE部分之檢測，被告在重新測試時的測試程式才加入此E-FUSE功能檢測項目，故本案重新測試乃因被告原先交付之測試程式及指示之分類方式並無檢驗及區分E-FUSE部分，故被告主張重新測試不計費用顯無理由。綜上，被告就其主張之損害賠償，未能舉證證明有實際損害若干、可歸責性及因果關係，就損害賠償金額計算之主張，被告亦未提出事證證明其主張數額之合理性，其所主張所失利益之數據與其損害毫無關聯，且主張所受損害亦與市場實情有明顯差距，實屬無據等語資為抗辯。並反訴答辯聲明：㈠、反訴原告之訴駁回。㈡、如受不利之判決，反訴被告願供擔保請准免予假執行。

三、參加人蔚華科技股份有限公司輔助原告陳述略以：本件系爭機臺即Diamond 10測試機臺係由美商LTX-Credence製造，委託參加人在臺代理銷售，原告於98年12月29日依被告指定向參加人購買新機臺數臺，其中機臺序號為10-PP00240者即係原告內部編號SD10-21 之系爭機臺，而原廠設計製造之系爭機臺，其PIN 腳數量眾多，在測試不同規格之IC時，需使用之PIN 腳不同，故原廠在製造機器時，自毋需設計機臺即時檢測PIN 腳功能，而係委由個別IC測試程式自行檢查，此乃業界檢測慣例。被告為測試系爭IC之各項功能，自行編寫測試程式（Test Program），並自行提供載板予原告，故被告在測試系爭IC之前，已知原告將使用系爭機臺測試系爭IC，並明瞭系爭機臺之各項功能後，撰寫符合系爭機臺功能及系爭IC應測鑑之測試程式，且被告對於系爭機臺內部之PIN 腳損壞時，機臺本身不會有即時顯示功能乙事，亦知之綦詳，故被告於撰寫測試程式時，在測試每個IC之前，即應先就短、開路進行測試，據以確定測試環境正常無誤。再本次測試之系爭IC並非直接連結到系爭機臺，而是先由系爭機臺連接到載板後，再由載板再連結到系爭IC進行測試，系爭載板係被告所委託製造及提供，該載板有連接系爭機臺上之DPIN_S2_P4腳，此事實亦為被告所明知，故被告對於自己設計之測試程式應針對DPIN _S2_P4 進行檢測，不得諉為不知，惟被告卻怠於檢測DPIN_S 2_P4 ，導致系爭機臺在測試每顆系爭IC前，未能發現DPIN_S2_P4發生短路，況被告依設計常規應檢查DPIN_S2_P4之短、開路，但被告於本案設計之測試程式並未檢查PIN 腳之短開路，已與設計常規有違。又E-FUSE之燒錄係屬一種創造性的工作，除有供給之電源進入外，尚須同時啟動程式內的燒錄指令，方會產生燒錄之結果（不論燒錄正確與否），此乃工研院之專業意見，本件係因被告的測試程式中含有「未經驗證或除去」之燒錄程序，外加配送燒錄E-FUSE所需之供給電源（2.5V電壓），方產生燒錄結果，進入E-FUSE，就會產生燒錄結果。而被告雖否認測試程式中含有E-FUSE燒錄指令，惟參加人已透過實驗方式發現「E-FUSE是在執行完測試程式中之APTG項目後才被燒錄」等情，況燒錄E-FUSE是一種創造性的工作，若無測試程式中具有燒錄功能之設計，系爭機臺縱輸出2.5V電壓，也不可能自動去燒錄E-FUSE，故被告所辯皆顯無理由。況本件鑑定意見亦稱「不應該設計啟動E-FUSE燒錄程式」，即知燒錄的指令是來自於被告撰寫的測式程式，絕非內含於測試機臺，否則不會有所謂「以程式設計者而言…不應該設計啟動燒錄程式…」等語，足證本件系爭IC因繼續測試並誤燒20餘萬片之結果，應係可歸責於被告。

四、兩造不爭執之事項：被告為積體電路產品（即IC晶片）設計暨銷售之科技公司，原告則為積體電路代為檢測試產品良率之公司。而本件測試系爭IC所用之測試機臺係由參加人所代理銷售。被告因係IC設計公司，其自行設計並委託其他廠商製造、封裝系爭IC後，委託原告代工測試系爭IC之功能是否正常，並自行編寫測試程序（Test Program），及提供測試電路板（Load Board；下稱載板），搭配原告提供之系爭機臺及測試環境、配置之員工進行系爭IC之測試工作。嗣被告於102 年5 月間委託原告代為測試被告WM3498專案之WM8880積體電路產品即系爭IC，由原告依被告提供之測試程式，安裝於原告測試機臺中，由原告測試系爭IC有無瑕疵，被告並於102 年7 月至12月陸續將待測試之系爭IC交付原告進行測試，各期測試報酬合計為8,436,064 元。而本件原告共使用機臺編號分別為SD10-21 （即系爭機臺）、SD10-35 、SD10-45 及SD10-61 等機臺用以測試被告所提出之系爭IC。102 年7 、8 月間，系爭機臺之DPIN發生異常，發生電壓誤送至受測試之系爭IC產品之情形，導致部分系爭IC發生E-FUSE燒毀等情，此有被告公司基本資料、102 年5 月6 日雙方對於測試產品驗證往來電子郵件、被告公司發出之WM 8880產品測試完成文件（Production Test Program Release Form）、系爭契約應收帳款明細表等件在卷可參（見本院卷一第20頁至24頁、第47頁至63頁），且為兩造所不爭執，此部分事實，應堪信為真實。

五、本案兩造所爭執之事項，應為：

㈠、本訴部分：原告主張其已依系爭契約之約定完成系爭IC晶片之檢測工作，且被告所辯稱部分系爭IC產品E-FUSE錯誤燒錄之情形，非可歸責於原告，而被告尚未付清報酬，爰依兩造系爭契約之契約關係，請求被告給付102 年7 月至12月間原告測試工作之報酬總計8,436,064 元，及部分系爭IC重新測試之費用共計1,958,571 元等語，惟為被告所否認，並以前詞置辯。是本訴爭點厥為：１、本件被告將系爭IC產品交由原告完成測試工作，雙方間系爭契約之契約性質為何？２、被告是否應給付原告102 年7 月至12月間原告測試系爭IC工作之報酬總計8,436,064 元？部分系爭IC重新檢測報酬費用1,958,571元，被告應否給付與原告？３、102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，原因為何？是否可歸責於原告？４、本件原告履行系爭契約，有無不完全給付之情形？被告抗辯以其對原告債務不履行不完全給付之損害賠償債權與本訴原告之報酬請求權在本訴互為抵銷後，被告毋庸給付原告金額，有無理由？茲分述如下：

１、本件被告將系爭IC產品交由原告完成測試工作，雙方間系爭契約之契約性質為何？按稱承攬者，謂當事人約定，一方為他方完成一定之工作，他方俟工作完成，給付報酬之契約，約定由承攬人供給材料者，其材料之價額，推定為報酬之一部；稱委任者，謂當事人約定，一方委託他方處理事務，他方允為處理之契約。民法第490 條、第528 條分別定有明文。委任與承攬之不同，在於承攬係以工作之完成為要件，亦即須有一定之結果，而委任則祗須處理事務，至完成與否則非所問，亦即不以一定結果為必要。又解釋契約、適用法律為法院之職權，本件兩造間系爭契約之法律關係究係民法第490 條規定之承攬，抑係同法第528 條規定之委任，及應適用何法律，法院應依職權解釋及適用法律。觀諸兩造間系爭契約係約定由被告將其所設計之系爭IC及自行編寫之測試程式交給原告，由原告所有之測試機臺搭配原告工廠之測試環境、配置員工進行系爭IC之測試工作，待完成系爭IC良率之測試工作，將系爭IC返還被告及提供被告系爭IC良率測試結果等情，為兩造所不爭執（見本院卷一第6 頁、卷八第47頁），足見兩造間系爭契約之約定內容為「原告為被告完成一定之測試工作」，而「被告俟原告測試工作完成後給付原告報酬」，故系爭契約性質上為承攬契約，此與委任契約之受任人於受委託事務處理完畢，不論有無結果，均得請求報酬之情形不同。是本件兩造間系爭契約法律關係請求，應適用民法關於承攬之相關規定，應堪認定。

２、被告是否應給付原告102 年7 月至12月間原告測試系爭IC工作之報酬總計8,436,064 元？部分系爭IC重新檢測報酬費用1,958,571 元，被告應否給付與原告？

⑴、按稱承攬者，謂當事人約定，一方為他方完成一定之工作，他方俟工作完成，給付報酬之契約；報酬應於工作交付時給付之，無須交付者，應於工作完成時給付之，民法第490 條第1 項、第505 條第1 項分別定有明文。

⑵、經查，兩造於102 年5 月間成立系爭契約，兩造約定由原告代為測試被告公司WM3498專案之WM8880積體電路產品即系爭IC，由原告依被告提供之測試程式，安裝於原告測試機臺中，由原告測試系爭IC之良率，被告並於102 年7 月至12月陸續將待測試之系爭IC交付原告進行測試，原告業已將該等系爭IC及被告所提供之測試程式以原告之測試機臺完成測試系爭IC良率之工作，而102 年7 月之工作報酬金額應為38,371元、102 年8 月之工作報酬金額應為4,457,904 元、102 年9 月之工作報酬金額應為1,891,398 元、102 年10月之工作報酬金額應為1,425,921 元、102 年11月之工作報酬應為金額617,974 元、102 年12月之工作報酬金額應為4,496 元，上開各期測試工作報酬合計為8,436,064 元（計算式：38,371＋4,457,904 ＋1,891,398 ＋1,425,921 ＋617,974 ＋4,496 ＝8,436,064 ）等情為兩造所不爭執，並有應收帳款明細在卷可參（見本院卷一第7 頁至第10頁、第47頁至第49頁，本院卷八第46頁）。則本件原告既已依系爭契約完成上開各期系爭IC之測試工作，則其依系爭契約承攬契約之法律關係，請求被告給付上開各期測試工作報酬合計8,436,064 元之承攬報酬，於法自屬有據。

⑶、本件因102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，於102 年8 月4 日被告接獲客戶通知部分系爭IC有錯誤訊息之問題（見本院卷八第48頁背面、第114 頁背面），被告乃於102 年8 月13日以電子郵件方式通知原告將部分系爭IC重新測試並提供原告新版測試程式乙情，亦有電子郵件往來紀錄在卷可參（見本院卷一第44頁至第46頁），此部分重新測試之費用應為1,958,571元，則有對帳單在卷可參（見本院卷八第128 頁背面）。因被告於102 年8 月4 日甫接獲其客戶反應該批系爭IC有部分無法依照被告與其客戶間的契約進行應用的情形，而於事發之初，應尚無法立即正確判斷原因，被告乃針對其客戶反應之問題修正其測試程式後將原告原已依約完成測試工作之系爭IC，另以新版測試程式要求原告進行測試，即非上開第一次測試工作報酬8,436,064 元所包含之測試工作，故原告應被告之要求為該等重新測試之工作，原告主張被告應依約支付重新測試1,461,451 片系爭IC工作之報酬1,958,571 元，應有理由，尚難認此部分工作本應由原告無償提供。至被告辯稱會要進行該等重新測試工作，係因原告履行系爭契約不完全給付所致，然縱使因原告履行系爭契約，有不完全給付之情形，致原告需支出該等重新測試工作之報酬，亦屬計算被告對原告債務不履行不完全給付損害賠償請求權之範圍，非得直接據為否認兩造就此重新測試工作有承攬契約關係存在，而被告無庸給付該部分測試報酬之理由，故被告此部分辯稱該重新測試報酬為加害給付之結果，應由原告自行負擔云云，尚非可採。

⑷、綜上，本件原告依兩造間測試系爭IC承攬契約之契約關係，請求被告給付上開測試工作報酬總計10,394,635元（計算式：8,436,064 元＋1,958,571 元＝10,394,635元），尚屬有據。

３、102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，原因為何？是否可歸責於原告？

⑴、經查，於102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，被告始於102 年8 月4日接獲客戶通知部分系爭IC有錯誤訊息之問題（見本院卷一第146 頁、本院卷八第48頁背面、第114 頁背面），而原告自陳「本件發生爭議之系爭機臺（編號：SD10-2）：102 年7 月10日至102 年8 月7 日期間、投入測試數量508,164 顆、良品數472,174 顆（其中E-FUSE經燒錄者，為251,209 顆）、不良品數35,990顆；機臺編號SD10-35 之機臺：102 年7 月30至102 年8 月7 日期間、投入數量253,684 顆、良品數236,890 顆、不良品數16,794顆；機臺編號SD10-45 之機臺：102 年7 月26日至102 年8 月4 日期間、投入數量242,954 顆、良品數226,782 顆、不良品數16,172顆；機臺編號SD10-61 之機臺、102 年7 月23日至102 年8 月7 日期間、投入數量568,647 顆、良品數530,006 顆、不良品數38,641顆」（見本院卷一第150 頁至第152 頁），足見本件原告用以測試系爭IC之數臺測試機臺，僅有經系爭機臺測試之部分系爭IC有E-FUSE經錯誤燒錄之情形，並非於102 年5 月兩造成立系爭契約原告開始履行測試義務後，即立刻發生系爭IC有E-FUSE經錯誤燒錄之情形，且102 年7 、8 月間開始發生系爭IC有E-FUSE經錯誤燒錄之情形時，亦非全部之測試機臺所測試之系爭IC皆有E-FUSE經錯誤燒錄之情形發生，且亦非經系爭機臺測試之系爭IC全部皆發生E-FUSE經錯誤燒錄之情形，應堪認定。則設若如原告所稱上開系爭IC的E-FUSE燒錄係因被告設計之測試程式有燒錄指令、被告設計之測試程式指示輸送2.5V電壓、系爭IC燒錄之結果究其緣由乃因被告提供之測試程式執行燒錄功能云云，則若被告所提供測試系爭IC之測試程式有燒錄程式存在，何以並非經測試之所有系爭IC均有E-FUSE經燒錄之情形發生，而僅有經原告數臺測試機臺中之系爭機臺發生系爭IC有E-FUSE燒錄之情形，且亦非全部經系爭機臺測試之系爭IC均有此情形，是原告本件主張上開系爭IC的E-FUSE燒錄係因被告設計之測試程式有燒錄指令，指示輸送2.5V電壓，因被告提供之測試程式執行燒錄功能而發生E-FUSE燒錄情形，而屬可歸責於被告云云，尚難遽採。

⑵、又兩造發生上開系爭IC的E-FUSE燒錄爭議後，原告曾請參加人就其所代理銷售之測試機臺提出分析意見，依參加人所提之分析報告內容略以「分析程序：1.…模擬當DPIN損壞時電子開關導通將2.5V工作電壓輸入IC…。根據以上實驗程序有以下結論。1.電子開關功能失效而將電壓2.5V輸入至IC並不會立即啟動E-FUSE燒錄。2.實驗結果發現E-FUSE是在執行完測試程式中之ATPG才被燒錄。3.電子開關正常時因為2.5V電壓被阻斷，即使ATPG執行燒錄但電壓為供給所以燒錄不成功。電路工作方式：由開關（FET switch）的導通（打開）與否來控制燒錄電壓能不能到達IC，燒錄電壓到達IC後，IC才會進入可以燒錄的模式。可能造成開關導通的原因：有數種可能會導致開關打開，如下：1.開關失效（壞掉）。2.電容C3損害直接短路。3.機臺送出零（或接近零）電壓─此次發生問題的原因，因SD10-21 損壞。開關一旦打開，讓電壓通過到達IC，IC就會處於可以燒錄的狀態（但尚不會被燒錄）。…經檢視威信公司測試程式發現並未將預留電路加入OPEN/SHORT檢驗才讓大量IC被燒錄。五、結論：矽格SD10-21 的DPIN與威信公司的測試電路板上都有電子零件，有一定的使用壽命，而E-FUSE燒錄為破壞性燒錄，誤動作後無法回復，單單靠電子開關來控制E-FUSE動作的測試品質必須承擔很高的風險，正常應用下用戶要有多項檢驗機制來避免大量品質異常。本次爭議的事例在過去並無實際發生的案例，因為機臺在使用中有異常的情況下，都可以從測試IC的結果異常立即發現（如測試量品率突然下降），從而即時修復機臺。此次的案例是當機臺發生問題時，量產程式執行的結果仍然一切正常，所以量產持續，造成後續損失擴大。至於無法立即發現機況有問題的原因，肇因於測試電路板及測試程式並無針對燒錄的動作做檢查但卻預留了燒錄開關電路及程式有燒錄的動作，所以當測試程式對產品誤燒錄時，仍然顯示測試結果為正常…」，此有蔚華科技對「矽格與威信案」問題分析報告一份在卷可參（見本院卷二第13頁至第17頁）。且參加人既然為系爭機臺在臺灣之銷售代理商，其對系爭機臺之構造及應用理應瞭解甚詳，故其所提出之上開分析報告，當有相當之可信性，則依上開分析報告之內容可知，其結論明確提及「矽格SD10-21 （即系爭機臺）的DPIN…有電子零件，有一定的使用壽命」，足佐DPIN屬於原告所使用之系爭機臺之內部電子構造，屬原告所有，而在觀諸該分析報告程式第1 點即為「模擬當DPIN損壞時電子開關導通將2.5V工作電壓輸入IC」，可證本件爭議情形之發生即為原告所有用以測試之系爭機臺之DPIN損壞，致電子開關導通將2.5V工作電壓輸入系爭IC甚明，且前開分析報告亦稱「可能造成開關導通的原因：有數種可能會導致開關打開，如下：…機臺送出零（或接近零）電壓─此次發生問題的原因，因SD10-21 損壞。」，益徵本件原告所有用以測試系爭IC之系爭機臺確實有損壞未能正常運作之情形，又該分析報告之結論明確記載「結論：矽格SD10-21 的DPIN與威信公司的測試電路板上都有電子零件，有一定的使用壽命，而E-FUSE燒錄為破壞性燒錄，誤動作後無法回復，單單靠電子開關來控制E-FUSE動作的測試品質必須承擔很高的風險…」，足證本件應係於102 年7 月間起，因原告所有用以測試之系爭機臺內部之DPIN上之電子零件，其使用逾一定之時間等因素，故有損壞異常之情形，致電子開關未能正常運作，而導通將2.5V工作電壓輸入系爭IC，而導致有部分經系爭機臺測試之系爭IC有E-FUSE錯誤燒錄等情，應堪認定。

⑶、本件兩造間系爭契約既然約定由被告將其所設計之系爭IC及自行編寫之測試程式交給原告，由原告所有之測試機臺搭配原告工廠之測試環境、配置員工進行系爭IC之測試工作，而完成系爭IC良率之測試工作，則原告自應就其所有用以測試之機臺盡其維護之善良管理人注意義務，提供妥善適於測試之測試環境，及提供具測試專業能力之作業人員，則原告疏於注意系爭機臺內之DPIN上電子零件之使用壽命，妥善保養、維護，致系爭機臺內之DPIN於102 年7 月間起，有損壞異常之情形，致電子開關未能正常運作，而導通將2.5V工作電壓輸入系爭IC，而導致有部分經系爭機臺測試之系爭IC有E-FUSE錯誤燒錄，自難認屬符合債務本旨之給付，而屬可歸責於原告。至原告稱本件被告所提供之測試程式有不符合設計常規之處，即測試機臺之電子零件有一定之使用周期，電子零件失去正常效用為一般測試程式設計者可預見之情況，被告測試程式應設置此部分檢測機制，用以測試確定測試環境正常無誤，即檢測系爭機臺上之DPIN能否正常運作，但被告所提供之測試程式無此功能，與設計常規有違云云。然既然測試機臺之電子零件有一定之使用周期，電子零件失去正常效用為一般可預見之情況，則原告為系爭機臺之所有者，並以系爭機臺為被告進行測試工作，其既然能預見電子零件有逾使用年限而使電子零件失去正常效用之情形，其自當更妥善維護、保養系爭機臺之電子零件，以讓系爭機臺正常運作，以提出符合債務本旨之測試工作給付。則原告所有之測試機臺，其保養維護之責任在原告，縱使被告可得預見有可能因測試機臺損害異常之情形致測試工作發生錯誤，然排除測試機臺損害異常之責任理當在原告，被告有何義務要防免測試機臺因電子零件逾使用周期發生異常而生損害之情形，此如同被告亦有可能可以預見原告所提供之測試作業人員亦有可能因欠缺專業能力致測試工作發生錯誤，然因提供具相當專業能力之測試人員為原告符合債務本旨給付之義務，故被告亦無義務需撰寫測試程式以防免原告所提供之測試人員專業能力欠缺之問題。

⑷、又本件前經送臺大嚴慶齡工業研究中心鑑定，其所提出之技術鑑定報告亦認：1.對於「測試機臺之DPIN異常誤送低電壓，導致受測晶片內之E-FUSE燒毀」之情形，經查臺灣的國家標準局及國際電機電子工程師學會（IEEE）都沒有相關的測試程式設計標準，來規範晶片廠商（即測試程式提供者）於測試程式內要設置「立即警示機制」，來通知機臺發生異常或警示晶片損壞。晶片測試通常都是由廠商就受測試的晶片特性及所要測試的項目開發適用的測試程式，警示及異常通知多由廠商自行判斷是否有需要設置於測試程式內，目前並沒有查證到有國際半導體晶片測試標準對此加以規範。2.晶片測試通常都是由廠商就受測試的晶片特性及所要測試的項目開發適用的測試程式，就非委託測試之項目，於測試程式內設置「立即警示機制」（以便警示非委託測試之項目因機臺發生異常而受損），多由廠商自行判斷是否有需要設置於測試程式內。目前並沒有查證到有臺灣或國際半導體晶片測試標準，對非委託測試之項目，於測試程式內設置「立即警示機制」之必要性加以規範的。此有臺大嚴慶齡工業研究中心技術鑑定報告一份在卷可參（見本院卷五第24頁至第28頁），亦足佐本件原告主張部分經系爭機臺測試之系爭IC有E-FUSE錯誤燒錄之情形，因歸責於被告所提供之測試程式有不符合設計常規之處云云，尚難可採。復遍觀卷附工研院鑑定之技術意見書，均未認若在原告所有用以測試之系爭機臺內部DPIN上之電子零件因逾使用年限等因素使電子零件失去正常效用之情形下，被告在編寫測試程式時有義務應編寫測試程式用以測試原告所有之測試機臺是否可正常運作方符設計常規，此有工研院技術意見書在卷可參（見本院卷五第211頁至第225 頁），故本件原告主張被告所設計之測試程式應設置檢測原告所有系爭機臺內部電子零件能否正常運作之機制，用以測試確定測試環境正常無誤，即檢測系爭機臺上之DPIN能否正常運作，但被告所提供之測試程式無此功能，與設計常規有違，本件102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，是否可歸責於被告云云，實難可採。

４、本件原告履行系爭契約，有無不完全給付之情形？被告抗辯以其對原告債務不履行不完全給付之損害賠償債權與本訴原告之報酬請求權在本訴互為抵銷後，被告毋庸給付原告金額，有無理由？

⑴、按因可歸責於債務人之事由，致為不完全給付者，債權人得依關於給付遲延或給付不能之規定行使其權利；因不完全給付而生前項以外之損害者，債權人並得請求賠償，民法第227 條第1 項、第2 項亦有明定。

⑵、經查，本件於102 年7 月間起，因原告所有用以測試系爭IC之系爭機臺內部DPIN上之電子零件，因逾使用年限等因素使電子零件失去正常效用，而有損壞異常之情形，致電子開關未能正常運作，而導通將2.5V工作電壓輸入系爭IC，導致有部分經系爭機臺測試之系爭IC有E-FUSE錯誤燒錄之情形，且兩造間系爭契約既然約定由被告將其所設計之系爭IC及自行編寫之測試程式交給原告，由原告所有之測試機臺搭配原告工廠之測試環境、配置員工進行系爭IC之測試工作，而完成系爭IC良率之測試工作，則原告自應就其所有用以測試之機臺盡其維護之善良管理人注意義務，提供妥善適於測試之測試環境，及提供具測試專業能力之作業人員，則原告疏於注意系爭機臺內之DPIN上電子零件之使用壽命，妥善保養、維護，致系爭機臺內之DPIN於102 年7 月間起，有損壞異常之情形，而發生上情，自難認原告此部分屬符合債務本旨之給付，而屬可歸責於原告，原告對被告因此所受之損害，自應負不完全給付之債務不履行損害賠償責任，應可認定。又查，原告上開不完全給付之情事，致經由系爭機臺測試之被告所有之系爭IC共計251,209 顆發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，此經原告陳報在案（見本院卷一第150 頁），並為被告所不爭執（見本院卷一第190 頁背面），故因原告前開不完全給付之行為致被告所有之系爭IC共計251,209 顆發生E-FUSE錯誤燒錄乙情，應堪認定。又依參加人所提之分析報告內容已稱「五、結論：…E-FUSE燒錄為破壞性燒錄，誤動作後無法回復」，此有蔚華科技對「矽格與威信案」問題分析報告在卷可參（見本院卷二第16頁），且卷附工研院技術意見書亦認「基本上，E-FUSE的燒錄是一次性，不可回復的行為。因此，想要將E-FUSE的狀態由『己燒錄』改變成『未燒錄』並不容易達成」，亦有工研院技術意見書在卷可參（見本院卷五第225 頁），均足佐發生E-FUSE錯誤燒錄之IC晶片，甚難回復，可認無再使用之價值，是被告主張因上開原告不完全給付之情形致其受有毀損251,209 顆發生E-FUSE錯誤燒錄系爭IC之損害，而受有該等系爭IC產品成本之損害，應屬有據。又原告主張該等系爭IC製程所投入之成本為：1.購入每塊晶圓之購入價格為美金3,920 元，此再以被告提起本件反訴時之臺灣銀行新臺幣對美金之現金買入匯率31.292計算，即為122,664.64元（3,920 x 31.292 =122,664.64）。2.針測每塊晶圓針測之費用為1,450 元。3.背面研磨每塊晶圓背面研磨之費用為300 元。此業據被告提出統一發票、購買憑證等為證（見本院卷一第203 頁至第206 頁，本院卷六第67頁至第191 頁），應堪信為真實，可認被告製成一塊晶圓所投入之成本應為124,414.64元（計算式：122,664.64＋1,450＋300= 124,414.64 ）。又被告稱其一塊晶圓切割成晶片，可切割成1,633 片晶片，此部分亦查無不合理之情形，故可認被告自購入晶圓、針測、背面研磨為止，每片晶片之成本應為76.18 元（122,664.64÷1633 = 76.18元，小數點兩位數以下捨去）。又其後被告尚須支出封裝晶片封裝之費用為每片晶片26元，測試晶片各階段之單價分別為0.87元、0.2元、0.1 元、0.2 元，合計整個測試階段每片晶片之費用應總計為1.37元（0.87+ 0.2+ 0.1+ 0.2 = 1.37）等情，亦據被告提出統一發票及對帳單等件為證（見本院卷一第206 頁、第211 頁）。綜上，被告製成每件晶片之成本為103.55元（76.18+26+1.37 = 103.55）。而本件發生E-FUSE錯誤燒錄而損壞之系爭IC雖有251,209 顆，業已認定如前，然因被告交付系爭IC予原告執行測試工作後，良率亦僅為92-93%，即非百分百之系爭IC均有使用之價值，本院經衡量系爭IC經測試後為不良且無法修復之情形應約有百分之五，該等系爭IC本屬被告原本投入成本製成亦屬無價值之情形，故251,209顆之百分之95即238,649 顆（小數點以下四捨五入）方應屬被告因原告不完全給付所受之損害，此部分之損失金額應為24,712,104元（238,649 ×103.55＝24,712,104，元以下四捨五入），被告依民法債務不履行不完全給付損害賠償之法律關係請求原告負此部分損害賠償責任，應有所據。而被告前已於102 年間11月間寄發存證信函，以此對原告之損害賠償債權對原告對被告之報酬請求權主張抵銷，此有存證信函在卷可參（見本院卷一第29頁），且被告於本件本訴中亦執此為主張抵銷及為抵銷抗辯。則按二人互負債務，而其給付種類相同，並均屆清償期者，各得以其債務，與他方之債務，互為抵銷，但依債之性質不能抵銷或依當事人之特約不得抵銷者，不在此限，民法第334 條第1 項定有明文。本件被告對原告上開不完全給付損害賠償債權金額既然已大於原告本件本訴對被告之承攬報酬請求權，原告本訴再據以請求被告給付報酬，即無所據，不應准許。

㈡、反訴部分：被告反訴主張原告履行系爭契約期間，於102 年7 月、8 月時，用以測試系爭IC之系爭機臺，因系爭機臺本身之DPIN異常，而有誤送電壓輸入系爭IC之情形，在執行ATPG檢測時，因2.5V電源開關導通，致未受控制之電流進入部分系爭IC之E-FUSE，而寫入不正確之資料，導致251,209 片系爭IC毀損，原告履行系爭契約對被告所為之加害給付，造成被告受有251,209 片系爭IC產品之成本26,854,242元；銷量減少之損失35,679,338元或65,230,687元或39,804,878元；跌價損失29,813,448元等損害，被告茲依民事訴訟法第244 條第4 項之規定，就銷量減少之損失僅請求35,000,000元，就跌價損失請求14,000,000元，故合計以上被告得依民法第227 條不完全給付損害賠償之法律關係，請求原告賠償之金額總計為75,854,242元（計算式：26,854,242＋35,000,000＋14,000,000＝75,854,242），扣除被告對原告債務不履行不完全給付之損害賠償債權與本訴原告之報酬請求權在本訴互為抵銷後，原告尚應賠償被告總計67,418,178元，故本件被告反訴得依民法債務不履行不完全給付損害賠償之法律關係請求原告給付等節，為原告所否認，並以前詞抗辯，是本件反訴部分之主要爭點為：１、102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，原因為何？是否可歸責於原告？本件原告履行系爭契約，有無不完全給付之情形？２、被告反訴依民法債務不履行不完全給付之法律關係請求原告負損害賠償責任，應賠償之數額為何？茲分述如下：

１、102 年7 月、8 月間部分系爭IC產品於原告為測試工作時發生E-FUSE錯誤燒錄之情形，原因為何？是否可歸責於原告？本件原告履行系爭契約，有無不完全給付之情形？經查，本件於102 年7 月、8 月間起，因原告所有用以測試系爭IC之系爭機臺內部DPIN上之電子零件，因逾使用年限等因素使電子零件失去正常效用，而有損壞異常之情形，致電子開關未能正常運作，而導通將2.5V工作電壓輸入系爭IC，導致有部分經系爭機臺測試之系爭IC有E-FUSE錯誤燒錄之情形，且兩造間系爭契約既然約定由被告將其所設計之系爭IC及編寫之測試程式交給原告，由原告所有之測試機臺搭配原告工廠之測試環境、配置員工進行系爭IC之測試工作，而完成系爭IC良率之測試工作，則原告自應就其所有用以測試之機臺盡其維護之善良管理人注意義務，提供妥善適於測試之測試環境，及提供具測試專業能力之作業人員，則原告疏於注意系爭機臺內DPIN上電子零件之使用壽命，妥善保養、維護或修復，致系爭機臺內之DPIN於102 年7 月間起，有損壞異常之情形，而發生上情，自難認原告此部分屬符合債務本旨之給付，而屬可歸責於原告，原告對被告因此所受之損害，自應負不完全給付之債務不履行損害賠償責任，均已認定如前。

２、被告反訴依民法債務不履行不完全給付之法律關係請求原告負損害賠償責任，應賠償之數額為何？本件因原告履行系爭契約不完全給付致被告因而受有毀損251,209 顆發生E-FUSE錯誤燒錄系爭IC之損害，業如前述，而被告因該等系爭IC毀損所受有製作系爭IC成本之損失金額應為24,712,104元，亦已詳述如前。被告反訴雖另主張其因發生系爭IC之E-FUSE錯誤燒錄之情形另受有銷量減少及價格下跌等數千萬元之損害云云，然因系爭IC發生E-FUSE錯誤燒錄之情形僅始於102 年7 月間，而102 年5 月兩造成立系爭契約後，原告業已為被告完成為數不少之系爭IC測試工作，該等IC均已可讓被告投入市場銷售，且發生系爭IC之E-FUSE錯誤燒錄情形後，被告隨即於102 年8 月初經客戶反應後，被告隨即於102 年8 月13日以電子郵件方式通知原告將部分系爭IC重新測試並提供原告新版測試程式乙情，亦有電子郵件往來紀錄在卷可參（見本院卷一第44頁至第46頁），故可認系爭IC之E-FUSE發生錯誤燒錄之情形，為數甚少，且時間甚短，即經兩造配合修正，則此情形是否足以影響被告公司就此批產品整體市場銷售數量及銷售價格，實非無疑。況依被告此部分所提之相關證據資料，無非為此批系爭IC產品相關之銷售數量及客戶訂單，然此類IC商品之銷售市場價格及銷量變動因素極多，故實難單純僅以該等IC商品之銷售價格及銷售數量之變動即認全導因於為數甚少且時間甚短之部分系爭IC發生錯誤燒錄之情形，且被告亦始終未能提出究竟有何客戶以系爭IC之E-FUSE錯誤燒錄等情形，向其退貨或請其降價甚或致其受有遭廠商求償等損害，是以本件尚難認定被告因上開原告不完全給付之情形除受有系爭IC遭毀損之損失外，另受有何銷量減少之損失或跌價損失之損害。則本件被告因原告不完全給付所受之損害損失金額應僅為24,712,104元，被告得依民法債務不履行不完全給付損害賠償之法律關係請求原告賠償，扣除被告於本件本訴中對原告對其之承攬契約報酬請求權10,394,635元，互為抵銷後，被告反訴請求原告尚應給付其14,317,469元（計算式：24,712,104元－10,394,635元＝14,317,469元），應有理由，逾此部分，則無所據。

六、綜上所述，本訴部分：原告依兩造間測試系爭IC承攬契約之契約關係，請求被告給付測試工作報酬總計10,394,635元，因本件被告對原告上開不完全給付損害賠償債權金額已大於原告對被告之承攬報酬請求權，經被告為抵銷之抗辯，原告本訴再據以請求被告給付報酬，已無所據，從而，原告本訴聲明請求被告應給付原告10,394,635元，其中38,371元自102 年10月10日起、4,457,904 元自102 年11月10日起、1,891,398 元自102 年12月10日起、1,425,921 元自103 年1 月10日起、617,974 元自103 年2 月10日起、4,496 元自103年3 月10日起、1,958,571 元自起訴繕本送達被告之翌日起，均至清償日止，按年息百分之五計算之利息，為無理由，應予駁回；反訴部分：本件被告因原告不完全給付所受之損害損失金額應為24,712,104元，被告得依民法債務不履行不完全給付損害賠償之法律關係請求原告賠償，扣除被告於本件本訴中對原告對其之承攬契約報酬請求權10,394,635元，互為抵銷後，被告反訴請求原告尚應給付其14,317,469元，應屬有據，從而，被告反訴聲明請求原告給付14,317,469元，及自反訴訴狀繕本送達之翌日即103 年12月6 日（見本院卷二第3 頁）起至清償日為止，按年息百分之五計算之利息，為有理由，應予准許，逾此範圍之請求，則屬無由，應予駁回。

七、本訴部分，本訴原告陳明願供擔保聲請宣告假執行，因其訴之駁回而失所依據，不予准許。反訴部分，兩造均陳明願供擔保，請准宣告假執行及免為假執行，就被告即反訴原告勝訴部分，經核無不合，爰酌定相當之金額准許之，就其敗訴部分，其假執行之聲請即失所附麗，應併予駁回。

八、本件事證已臻明確，兩造其餘攻擊防禦方法及所提之證據，經本院審酌後，核與本件結論不生影響，爰不逐一論述，附此敘明。

九、訴訟費用負擔之依據：民事訴訟法第78條、第79條。