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資料來源:司法院法令判解系統

函詢保稅工廠接受委託測試 IC、WAFER後產生之不良品處理疑義

會議日期 94 年 10 月 03 日

內文

全文內容:一、本案保稅工廠接受委託測試之 IC、WAFER 若為國外製造而尚未通關進口者,則測試過程產生之不良品,應請全數退回國外,不應於國內廢棄。前開應退回國外之 IC、WAFER 不良品,建請關稅局考量不予以破壞,以避免國外誤以為是我國輸出之廢棄物。

二、若保稅工廠接受委託測試之 IC、WAFER 為國內事業所產生,則測試過程產生之不良品仍屬原委託測試事業所有,若擬廢棄,則應全數退回該事業,由其依廢棄物清理法第 28 條規定,以自行清除處理、共同清除處理、委託清除處理等方式擇一為之。

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