智慧財產法院行政判決

民國102年10月16日辯論終結

原告

致茂電子股份有限公司

代表人

黃欽明（董事長）

訴訟代理人

丁國隆（專利代理人）

複代理人

黃政誠（專利師）

被告

經濟部智慧財產局

代表人

王美花（局長）

訴訟代理人

郭偉齡

參加人

張明輝

上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國102 年4 月25日經訴字第10206100760 號訴願決定，提起行政訴訟，並經本院命參加人獨立參加被告之訴訟，本院判決如下︰

主文

事實及理由

一、程序事項：原告原起訴聲明第2 項聲明為：「被告應對申請第096107571 號『批次檢測待測元件之機台及該測試方法』發明專利案為舉發不成立之審定。」（本院卷第8 頁），嗣原告於民國102 年9 月10日準備程序，在被告為本案之言詞辯論前即撤回之，且經被告同意（本院卷第114 頁之準備程序筆錄），復無礙於公益之維護，依行政訴訟法第113 條第1 項、第2項規定，自應允許。

二、事實概要：原告前於96年3 月5 日，以「批次檢測待測元件之機台及該測試方法」向被告申請發明專利，經被告編為第96107571號審查，原告於99年3 月3 日提出系爭專利申請專利範圍修正本，經被告審查准予專利，並發給發明第I338785 號專利證書（下稱系爭專利）。嗣參加人於101 年8 月10日以系爭專利案有違核准時專利法第22條第4 項規定，對之提起舉發。經被告審查，以同年11月27日（101 ）智專三（二）04119字第10121329790 號專利舉發審定書為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分。原告不服，提起訴願。經經濟部102 年4月25日經訴字第10206100760 號決定駁回，遂向本院提起行政訴訟。

三、原告聲明求為判決：訴願決定、原處分均撤銷。並主張：

㈠證據1 、2 及3 之組合無法證明系爭專利申請專利範圍第1、4 項不具進步性：

⒈證據1 所揭露乃係單純以攝像元件（CCD ）來對待測元件進行外觀檢測，其與系爭專利申請專利範圍第1 、4 項所載之電性測試顯為不同之測試目的與測試領域。再且，證據1 又未揭露系爭專利申請專利範圍第1 、4 項中所載為達成「直接在承載盤上多批次地進行多顆晶片同時電性檢測之移動手段」。

⒉證據2 所揭露乃係一晶圓測試方法，其與系爭專利申請專利範圍第1 、4 項所載之「直接在承載盤上進行批次測試」之技術內容顯為不同之測試手段、目的與測試領域。證據1 又未揭露系爭專利申請專利範圍第1 、4 項中所載為達成「直接在承載盤上多批次地進行多顆晶片同時電性檢測之移動手段」。於證據2 未載明可同時進行多顆晶粒電性測試之具體實施例的情況下，實際晶圓測試產業之現有技術又無法提供相關的技術證據可資佐證，故而原處分單純引用證據2 中僅僅一句的預期功效而據以認定系爭專利不具進步性實屬不洽。退步言，證據2 所揭示之晶圓測試方法實際上與系爭專利所載之「封裝產品的電性功能測試」，不論技術手段、測試方法、以及目的等皆不相同。

⒊證據3 所揭露乃係單純以攝像元件（CCD ）來對待測元件進行外觀檢測，其與系爭專利申請專利範圍第1 、4 項所載之電性測試顯為不同之測試手段、目的與測試領域。證據3 又未揭露系爭專利申請專利範圍第1 、4 項中所載為達成「直接在承載盤上多批次地進行多顆晶片同時電性檢測之移動手段」。

⒋系爭專利所載之測試設備及測試方法實屬封裝後電子元件之最終功能測試，其與證據1 、及證據3 所揭露之電子元件之光學外觀測試方法、以及證據2 所揭示晶圓測試方法屬於截然不同之半導體測試技術領域。又就該等證據間所欲解決之問題而論，若該等證據所揭露之必要技術特徵先天即不相容，即無促使所屬技術領域人士組合該等證據之動機。

㈡證據1 、2 及3 之組合無法證明系爭專利申請專利範圍第2、3 、5 至9 項不具進步性：系爭專利申請專利範圍第1 、4 項具進步性，其所依附之附屬項亦具進步性。又證據1 未揭露系爭專利申請專利範圍第5 項所載之內容，原處分所引用之段落與系爭專利申請專利範圍第5 項所載之內容毫無關連，為不相同又無法相對應的技術內容、手段，實為一錯誤處分。

㈢原處分之部分審定理由、及證據的引用內容完全超出原舉發階段兩造之攻防：

⒈原處分第九項理由第㈤2 、3 、6 、至8 項，其審定理由乃被告自行添具，明顯超出參加人所述之舉發理由及舉發之證據範圍，違反舉發時之專利審查基準第五篇第一章專利權之舉發及依職權審查第5-1-17、5-1-18頁「5.1.2 處分權主義」。再者，原告於舉發期間亦未有任何機會針對此等理由答辯或陳述意見，是被告顯已剝奪原告就被告自行添具之舉發理由予以回應、答辯之機會，違反行政程序法第102 條規定。

⒉縱使上述審定理由係被告所為之職權審查，然查現行專利審查基準第五篇第1 章第4.4.3 節「通知專利權人答辯之義務」，提供有職權審查機制的情況下，專利權人仍得有就專利專責機關所自行引入之證據或理由進行答辯之機會。

⒊經查系爭專利於101 年8 月10日被提起舉發，至同年11月27日舉發審定，期間不過3 個月又17天，扣除原告之答辯期間，其中被告所發之舉發「進行審查通知函」之發文日為同年11月5 日，故實際舉發審查期間僅22日，未能給予兩造當事人充分表達意見、及補充答辯之機會。

四、被告聲明求為判決駁回原告之訴。並抗辯：

㈠證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第1項不具進步性：證據1 、2 及3 皆屬半導體晶片之測試相關的技術領域的發明，且已揭露系爭專利申請專利範圍第1 、4 項之「複數具有複數測試埠之待測元件係被容置於一具有供將該等測試埠暴露開口之待測元件承載盤」、系爭專利申請專利範圍第1項第1 項之步驟2 至4 、及系爭專利申請專利範圍第4 項中與其對應的技術特徵。又證據2 已教示「以探針來進行單一晶片或同時進行多顆晶片的電性測試」之技術特徵，且其與系爭專利申請專利範圍第1 項達成相同功效。故證據1 、2及3 均為元件測試方法，且系爭專利申請專利範圍第1 項與證據1 、2 及3 在測試該電子元件之良莠之目的、功效上相同，是以系爭專利申請專利範圍第1 、4 項為其所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完成者。

㈡系爭專利申請專利範圍第2 項之附屬技術特徵，為證據1 說明書第8 頁所揭示，且未產生功效增進，故證據1 、2 、3之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第2 項不具進步性。

㈢系爭專利申請專利範圍第3 項之附屬技術特徵為證據1 說明書第10頁第15至18行所揭示，且未產生功效增進，故證據1、2 、3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第3 項不具進步性。

㈣證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第4項不具進步性：

⒈證據1 、3 已揭示有系爭專利申請專利範圍第4 項之批次檢測機台所包含：「承載移動裝置」、「驅動該承載移動裝置」及「受該控制裝置驅動、將該等電氣特性不合格待測元件撿取脫離該承載盤之撿取裝置」技術特徵，以及該檢測裝置係於預定檢測位置區域下移對應接觸第一批次待測元件，以批次檢測該等待測元件之電氣特性並回傳至控制裝置，隨後由檢測裝置遠離該待測元件，該承載移動裝置將承載盤相對檢測裝置移動，讓次一批次待測元件移動至對應檢測裝置之位置受檢。

⒉又證據2 揭示「以探針來進行單一晶片或同時進行多顆晶片的電性測試」之技術特徵，此即與系爭專利申請專利範圍第4 項達成相同功效的技術手段。故證據1 、2 、3 皆為元件測試方法，對於所屬技術領域中具有通常知識者，皆可輕易完成組合，且系爭專利申請專利範圍第4 項與證據1 、2 、3 在測試該電子元件之良莠的目的、功效上並無不同，故證據1 、2 、3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第4項不具進步性。

㈤系爭專利申請專利範圍第5 項之附屬技術特徵為證據1 說明書第8 頁所揭示，且未產生功效增進，故證據1 、2 、3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第5 項不具進步性。

㈥系爭專利申請專利範圍第6 項之附屬技術特徵為證據1 之換料機構52的等效變化而未產生功效增進，故證據1 、2 、3之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第6 項不具進步性。

㈦系爭專利申請專利範圍第7 項之附屬技術特徵為證據4 說明書第12頁所揭示，且未產生功效增進，故證據1 、2 、3 、4 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第7 項不具進步性。

㈧系爭專利申請專利範圍第8 項之附屬技術特徵為證據4 之測試室（60）的等效變化，而未產生功效增進，故證據1 、2、3 、4 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第8 項不具進步性。

㈨系爭專利申請專利範圍第9 項之附屬技術特徵為證據4 之預熱裝置（40）的等效變化而未產生功效增進，故證據1 、2、3 、4 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第9 項不具進步性。

㈩有關原告所指超出兩造攻防部分，依92年專利法第69條第1項規定舉發理由應送達專利權人，但無規定專利權人之答辯理由須送達舉發人，舉發人若想知道內容，應自行到被告處閱卷。

五、參加人雖未於準備程序及言詞辯論期日到場，依其所提之書狀為聲明或答辯

㈠證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第1項不具進步性：

⒈一般而言，電子元件檢測設備的領域包括有「電氣特性」及「外觀」的檢測，因此檢測設備的製造業者都會發展「電氣特性」及「外觀」檢測的相關設備，此可由原告本身所申請的專利資料內容獲得印證，因此「電氣特性」及「外觀」的檢測都是屬於相關的檢測領域。又依系爭專利說明書第9 頁第3 段可知系爭專利之技術不但可用於檢測待測物的電氣特性，亦可檢測待測物的外觀發光特性，並沒有限制特定檢驗機台。故證據1 、證據2 、證據3 之組合，對於通常知識者而言應屬明顯。

⒉當證據1 組合證據2 時，可輕易完成證據1 未揭露系爭專利有關「具有複數測試埠之待測元件（80）」、「供將該等測試埠暴露開口之待測元件承載盤（8 ）」、「電性接觸」、「下移對應接觸」、「電氣特性」等技術特徵。又「檢測裝置（14）遠離該待測元件（80）」部份是可以由證據1 第7 圖所推導得知。況且，自動化機台本身之運作必然為多次重複性的批次動作，而具有通常知識者依據證據1 的揭示，進而可輕易完成「檢測裝置遠離該待測元件，該承載移動裝置將承載盤相對檢測裝置移動，讓承載盤之次一批次待測元件移動至對應檢測裝置之位置受檢」的批次化作業。從而證據1 、2 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第1 項不具進步性。

⒊當證據3 組合證據2 時，可輕易完成證據3 未揭露系爭專利有關「具有複數測試埠之待測元件（80）」、「供將該等測試埠暴露開口之待測元件承載盤（8 ）」、「電性接觸」、「下移對應接觸」、「電氣特性」及「承載盤（8）之移動步驟」等技術特徵。從而證據3 、2 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第1 項不具進步性。

㈡證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第2項不具進步性：證據1 揭露其換料器（5 ）將第一料盤A 中之不良品電子元件取出移載至第一容料器（54）後，並由第二容料器（55）中取出良品電子元件補置於第一料盤A 收納，因此證據1 完全揭露系爭專利申請專利範圍第2 項補料的步驟。

㈢證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第3項不具進步性：證據1 揭露其第一移載器（3 ）將第一料盤A 移載至第二暫置區（7 ），第二暫置區（7 ）之推料機構（71）即將盛裝完測電子元件之第一料盤A 移載至換料器（5 ）處，該換料器（5 ）處即為系爭專利所稱之撿取位置（17）；因此，證據1 案完全揭露系爭專利申請專利範圍第3 項搬移至一撿取位置的步驟。

㈣證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第4項不具進步性：

⒈當證據1 組合證據2 時，可輕易完成證據1 未揭露系爭專利有關「檢測具有複數測試埠的待測元件（80）之電氣特性」、「供將該等測試埠暴露開口之待測元件承載盤（8）」、「自該開口接觸該等待測元件測試埠」、「電氣特性」及「下移對應接觸」等技術特徵。又「檢測裝置遠離該待測元件」部分可由證據1 第7 圖所推導得知。況且，自動化機台本身之運作必然為多次重複性的批次動作，而具有通常知識者依據證據1 的揭示，進而可輕易完成「檢測裝置遠離該待測元件，該承載移動裝置將承載盤相對檢測裝置移動，讓次一批次待測元件移動至對應檢測裝置之位置受檢」的批次化作業。從而證據1 、2 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第4 項不具進步性。

⒉當證據3 組合證據2 時，可輕易完成證據3 未揭露系爭專利有關「檢測具有複數測試埠的待測元件（80）之電氣特性」、「自該開口接觸該等待測元件測試埠」、「供將該等測試埠暴露開口之待測元件承載盤（8 ）」、「電氣特性」、「下移對應接觸」及「檢測裝置遠離該待測元件」等技術特徵。況且，自動化機台本身之運作必然為多次重複性的批次動作，而具有通常知識者依據證據1 的揭示，進而可輕易完成「檢測裝置遠離該待測元件，該承載移動裝置將承載盤相對檢測裝置移動，讓次一批次待測元件移動至對應檢測裝置之位置受檢」的批次化作業。從而證據3 、2 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第4 項不具進步性。

㈤證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第5項不具進步性：由於系爭專利申請前之習知技術，已有針對單顆元件進行檢測之裝置，所以檢測裝置中已具有感測單元、驅動單元，因此系爭專利本項所稱之「感測單元、驅動單元」，實為系爭專利所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完成，故證據1 、2 、3 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第5 項不具進步性。

㈥證據1 、2 及3 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第6項不具進步性：由於證據1 完全揭露系爭專利本項之技術特徵，且系爭專利未產生功效增進，而為系爭專利所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完成，故證據1 、2 、3 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第6 項不具進步性。

㈦證據1 、2 、3 及4 之組合足以證明系爭專利申請專利範圍第7 至9 項不具進步性：由於證據4 完全揭露系爭專利申請專利範圍第7 至9 項之技術特徵，且系爭專利未產生功效增進，而為所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完成，故證據1 、2 、3 、4 之組合確實可證明系爭專利申請專利範圍第7 至9 項不具進步性。

六、得心證之理由：

㈠查系爭專利係於96年3 月5 日申請，100 年1 月28日審定准予專利，參加人於101 年8 月10日申請舉發（舉發卷第93頁），被告於同年11月27日就本件專利舉發案為審定，是本件並不適用102 年1 月1 日修正施行後之專利法相關規定（同法第149 條第2 項規定，及最高行政法院102 年度8 月份第1 次庭長法官聯席會議㈠參照），故系爭專利有無撤銷之原因（實體事項），應以核准審定時有效之92年2 月6 日修正公布之專利法為斷。至專利審查基準為專利專責機關為規範內部審查作業而依職權所頒訂之非直接對外發生效力之一般、抽象規定，屬於行政規則（行政程序法第159 條第1 項參照），基於行政自我拘束原則，為專利審查機關自應受其拘束違反相關規定者，即違反行政自我拘束原則，其審定即屬違法（最高行政法院96年度判字第1552號、100 年度判字第2179號判決參照）。有關本件舉發之程序事項是否合法，除應適用舉發審定時即上開專利法舉發程序之規定外，並應審酌原處分作成當時有效之專利審查基準。被告係於101 年11月27日作成原處分，本件即應審酌95年7 月24日經濟部經授智字第0952003710號令修正發布、是日起施行之專利審查基準（下稱2006年版專利審查基準）第五篇舉發及依職權審查第一章有關「專利權之舉發及依職權審查」之規定。

㈡次按利用自然法則之技術思想之創作，且可供產業上利用之發明，得依92年2 月6 日修正公布之專利法第21條、第22條規定申請取得發明專利。又發明為其所屬技術領域中具有通常知識者依申請前之先前技術所能輕易完成時，不得依同法申請取得發明專利，同法第22條第4 項定有明文。而發明有違反第22條第4 項規定之情事者，任何人得附具證據，向專利專責機關提起舉發；專利專責機關接到舉發書後，應將舉發書副本送達專利權人，專利權人應於副本送達後1 個月內答辯，除先行申明理由，准予展期者外，屆期不答辯者，逕予審查（同法第67條第1 項第1 款、第2 項、第69條規定參照）。準此，系爭專利有無違反同法第22條第4 項所定情事而應撤銷其發明專利權，依法應由舉發人（即參加人）附具證據證明之，專利權人（即原告）亦得答辯，供專利專責機關（即被告）審查，倘舉發人所附之證據足以證明系爭專利有違前揭專利法之規定，自應為舉發成立之處分。

㈢2006年版專利審查基準第五篇舉發及依職權審查第一章第5-1-11至5-1-12頁「3.5 答辯」「受理舉發後，專利專責機關應將舉發書副本送達專利權人，限期於副本送達之次日起1個月內答辯，除先行申明理由，准予展期者外，屆期不答辯者，逕予審查。專利權人未於期限內答辯，但於審定前提出答辯者，仍得一併審酌該答辯資料。舉發人於舉發審定前補提理由或證據者，仍應通知專利權人補充答辯。惟於實務上有舉發人藉其不斷補充理由再交付答辯之爭訟程序，延宕審查之進行，對於此等情事，專利專責機關於先行審視該補充理由後，對於爭議事實客觀上已臻明確者，或該補充理由意旨已見於先前之舉發理由者，得不予交付答辯，必要時亦得通知雙方當事人面詢，綜合雙方意見以為處分，並於審定書上敘明此等事項。」另5-1-17至5-1-20頁「5.舉發審查之要點」「5.1 審查之基本原則」規定如下：

⒈「5.1.2 處分權主義」「對於獲准之專利，任何人認有違反專利法規定之情事而提起舉發者，應備具申請書，載明理由及證據向專利專責機關舉發之，其為專利法第67條、第107 條、第128 條所明定，亦即是否提起舉發？舉發之範圍如何？均取決於舉發人之主觀意願，此一原則仿自訴訟法上之處分權主義。原則上，專利專責機關即以舉發當事人所述理由及附具之證據作為審查之依據，若所提理由及證據不能證明系爭專利有違反專利法之規定者，則應審定舉發不成立。在處分權主義下，舉發範圍之決定、舉發之開始、舉發之撤回，均操之於舉發人。」

⒉「5.1.3 爭點整理」「在處分權之架構下，舉發之審查應先釐清爭點。舉發事件兩造當事人於舉發書、答辯書中之爭執包括法律、事實、證據等爭點，係審查之前應優先整理之事項，嗣後舉發程序中之處理及審查，應就所整理之爭點為之。關於爭點之整理，應注意以下幾點：⑴依舉發人所述之舉發理由，其主張之申請專利範圍請求項、專利要件、舉發證據，以決定爭點範圍。......」

⒊「5.1.5 闡明權之行使」「舉發案中，若當事人主張之法條、陳述事實、聲明證據等有關爭議理由之記載不明確，則不能充分瞭解該爭點之內容，且不能據以作正確之判斷。因此，為使其爭議內容明確，乃輔以闡明權之行使，對於當事人所聲明或陳述之內容有不明瞭、不充分、不適當者，應通知當事人『敘明』或『補充說明』（或其他類似用語）之，以確認其真正意思。對於闡明權之行使，不得通知當事人『增加』或『增列』（或其他類似用語）新理由或新證據，以免產生爭議。又當事人申復後，必要時應請對造當事人補充答辯；當事人屆期未申復，則仍就其原主張之理由、法條及證據進行審查。就不明瞭、不充分之內容為適當之闡明或除去不適當主張之闡明，均屬合理程度之闡明。......」

㈣經查參加人係於101 年8 月10日申請舉發（舉發卷第93至80頁），被告於同年月23日通知原告於文到次日起1 個月內依法答辯或更正（舉發卷第95頁），經原告於同年月27日收受（舉發卷第96頁），嗣於同年9 月25日申請延期補呈答辯書（舉發卷第98頁），並於翌日提出答辯（舉發卷第107 至100 頁），被告於同年11月5 日通知原告、參加人即將就本件舉發案進行審查（舉發卷第113 頁），並於同年月7 日指定郭偉齡委員、周汝文委員審查（舉發卷第115 至114 頁），被告隨即於同年月27日作成「舉發成立」之審定（舉發卷第130 至126 頁）。因此，本件舉發案自被告於同年11月5 日通知將進行審查後，至同年月27日作成審定止，參加人未再有任何補充理由證據，原告亦未再為何補充答辯。

㈤經核閱參加人所提之舉發理由，及原處分認定系爭專利不具進步性之理由，其中：

⒈原處分第6 頁第九項理由第㈤⒉項認定證據3 已揭露系爭專利申請專利範圍第1 項所載之「複數具有複數測試埠之待測元件係被容置於一具有供將該等測試埠暴露開口之待測元件承載盤」、以及步驟（1 ）、（3 ）、（4 ）等技術特徵。惟有關證據3 與系爭專利申請專利範圍第1 項之上揭技術特徵差異，未見於參加人之專利舉發申請書第9至13頁第五項「被舉發案之第1 項獨立項與證據案分析比對」部分（舉發卷第87至85頁）。

⒉原處分第7 頁第九項理由第㈤⒊項認定證據2 已教示「以探針來進行單一晶片或同時進行多顆晶片的電性測試」之技術特徵。惟有關證據2 是否有教示系爭專利申請專利範圍第1 項之上揭技術特徵，未見於參加人之專利舉發申請書第9 至13頁第五項「被舉發案之第1 項獨立項與證據案分析比對」部分（舉發卷第87至85頁）。

⒊原處分第8 頁第九項理由第㈤⒍項認定證據1 、3 揭示有「檢測裝置係於預定檢測位置區域下移對應接觸第一批次待測元件，以批次檢測該等待測元件之電氣特性並回傳至控制裝置。」惟參加人之專利舉發申請書第19頁第20至22行係載：「......證據一案雖未揭露被舉發案所稱檢測裝置（14）係於預定檢測位置（15）區域下移對應接觸第一批次待測元件（80）......」（舉發卷第82頁），原處分就此卻為與上述舉發理由相反之認定。

⒋原處分第8 頁第九項理由第㈤⒎項認定證據2 已教示「以探針來進行單一晶片或同時進行多顆晶片的電性測試」之技術特徵。惟有關證據2 是否有教示系爭專利申請專利範圍第4 項之上揭技術特徵，未見於參加人之專利舉發申請書第14至20頁第七項「被舉發案之第4 項獨立項與證據案分析比對」部分（舉發卷第85頁反面至82頁反面）。

⒌原處分第8 至9 頁第九項理由第㈤⒏項認定證據1 說明書第8 頁的「換料機構52係受第一檢測器4 的檢知訊號控制而將料盤中之不良品電子元件取出，並放置於一用以容納不良品電子元件之第一容料器54收置，再由一用以容納良品電子元件之第二容料器55取出良品電子元件，且補置於料盤中」揭示系爭專利申請專利範圍第5 項之附屬技術特徵。惟有關證據1 是否有教示系爭專利申請專利範圍第5項之上揭技術特徵，未見於參加人之專利舉發申請書第20頁第九項「被舉發案之第5 項獨立項與證據案分析比對」部分（舉發卷第82頁反面）。

㈥按原處分之行政程序不合法，並不當然構成撤銷原處分之理由，必該程序違法導致實體違法，或該違法事由違反法律規定之重要原則（如不利益處分賦予當事人陳述意見），始構成撤銷原處分之理由。查參加人所提之舉發是否備具理由及證據，本應由被告就參加人所述之理由及附具之證據、與原告所提之答辯為依據予以實體審查，若參加人有關爭議理由之記載不明確，無法充分瞭解其爭點內容，且不能據以作成正確之判斷，應通知參加人補充說明，於其申復後，再由原告補充答辯（見前揭2006年版專利審查基準第5-1-11至5-11-12 、5-1-17至5-1-19頁），此為專利專責機關所踐行之程序，並明定於專利審查基準中，而為所屬審查人員所應遵循。本件參加人於舉發時，關於證據1 、2 、3 及4 係以各該證據之技術特徵作為舉發系爭專利有得撤銷事由之證據，被告倘認參加人之部分舉發理由不充分，有必要援引參加人所提引證（證據1 、2 、3 或4 ）所揭示之其餘技術內容以為佐證，固仍在參加人所提之證據範圍內，而得採為審定之基礎，惟被告仍應行使闡明權，通知參加人予以敘明或補充說明，且於參加人申復後，通知原告補充答辯。詎被告違反上開規定，逕以參加人未載之舉發內容，遽為「舉發成立」之審定，有違上開專利審查基準所定之處分權主義，亦未行使闡明權以求釐清相關爭點。本件原告固曾於本件舉發審查時曾於101 年9 月26日提出答辯書，惟其係針對參加人同年8月10日所提之舉發理由而為答辯，即令被告認為本件爭議事實客觀上已臻明確，仍應給予原告一補充答辯之機會，以求程序保障之周延，並維「依法行政」之原則。被告於同年11月5 日進行實體審查，並於1 個月內（同年月27日）即作成審定，其行政效率固屬快速，惟妥適程序利益之保障，更為法治國家之基石。因此，被告違反平等原則子原則之行政自我拘束原則，其舉發審定即屬違法。至被告於本院審理時所辯舉發人應自行到局閱卷云云（本院卷第115 頁），與原告所指被告審定逾越兩造攻防部分無涉，要無足取。從而，被告為「舉發成立」之處分，於法即有未洽。而就原處分之程序瑕疵，業經原告記載於訴願書第9 至10、12至13、17、19至20頁（訴願卷第11至12、14至15、19、21至22頁），訴願決定未加指摘原處分之違法而予維持，亦非妥適。是以原告請求撤銷訴願決定及原處分，為有理由，應予准許。

七、本件事證已明，兩造及參加人其餘主張或答辯，已與本院判決結果無涉，爰毋庸一一論列，併此敘明。

據上論結，本件原告之訴為有理由，依智慧財產案件審理法第1條，行政訴訟法第98條第1 項前段，判決如主文。

智慧財產法院第三庭