電子工程 96 年半導體元件考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
96 年申
第 1 題㈠試繪圖說明N-MOS 在順向偏壓時的能帶結構圖。 ㈡試繪圖說明D-MOS(Double-Diffused MOS)之結構圖及其應用。 (20 分)
96 年申
第 2 題㈠若由熱氧化法(Thermal Oxidation)成長二氧化矽(SiO2)之厚度為100nm, 則矽消耗若干? ㈡試說明傳統的雙極性接面電晶體(BJT)與異質接面雙極性電晶體(HBT)之相 異處。 (20 分)
96 年申
第 3 題㈠試說明一面心立方晶體(Face-Center Cubic)之原子結構,並算出整個晶體空間 原子所佔的空間比例為多少? ㈡試說明半導體雷射二極體的發光原理。 (20 分)
96 年申
第 4 題㈠一矽二極體為單一側陡峭接面(One-Side Abrupt Junction),P、N 側之濃度各為 NA=1019cm–3,ND=1016cm–3。試計算空乏層之厚度及在零偏壓下最大的電場 (矽的εr=12,室溫下的本質濃度ni=1.45×1010/cm3)。 ㈡試說明如何以四點探針法(Four-Point Probe)量測半導體特性。 (20 分)
96 年申
第 5 題㈠試說明如何得到白色光源的固態照明。 ㈡試繪圖說明pnp 電晶體的I-V 特性曲線圖。 (20 分)
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