電子工程 96 年半導體工程考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
96 年申
第 1 題半導體製程中於晶圓上製作線路須對光阻曝光,請說明曝光之能量源有那些,並敘 述其優缺點。(24 分)
96 年申
第 2 題請說明並繪圖出晶圓之規格TIR(Total indicated runout),TTV(Total thickness variation)與FPD(Focal plane deviation)之定義。(24 分)
96 年申
第 3 題何謂Lift-off 製程?於元件製作過程中,那一步驟須此製程?(12 分)
96 年申
第 4 題請說明晶圓先烘烤(prebake),光阻軟烤(soft-bake)與光阻硬烤(hard-bake)之功 能為何?(9 分)
96 年申
第 5 題請說明單晶之矽晶圓與砷化鎵晶圓有何不同?並說明此兩種材料之自然斷裂面分別 為那一平面?為何有此差異?(15 分) 六、何為軟性電子?薄膜電晶體與傳統電晶體有何差異?(8 分) 七、浸潤式曝光顯影與傳統曝光顯影有何差異?其主要用途為何?(8 分)
同年其他科目96 · 23 卷
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