電子工程 99 年半導體工程考古題
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
㈠請分別說明並解釋n 型半導體在高溫與低溫時電子移動率(electron mobility)的 限制因素。(10 分) ㈡請分別繪出室溫時n 型矽與砷化鎵半導體之速度對電場的關係圖。(10 分)
㈠在pn 二極體的電流對電壓的特性曲線中,若電流取對數,電壓為線性,請繪出 對數電流對順向電壓(log(I)-V)的特性曲線圖,並說明各線段的電流物理機 制。(10 分) ㈡有一金屬和n 型半導體形成一個接面(junction),如果金屬的功函數(work function)qφm 大於n 型半導體的功函數qφsc,則此接面為蕭特基接觸(Schottky contact)或歐姆接觸(Ohmic contact)?請說明原因。(10 分)
㈠請繪出npn 雙極性接面電晶體(Bipolar Junction Transistor,BJT)工作於作用區 (active region)的能帶圖,並說明電子的傳輸過程。(10 分) ㈡對於npn 雙極性接面電晶體,如果要得到較高的電流增益(β)值,基極(base) 的濃度與厚度應該如何設計?這樣的設計對元件的高頻響應有什麼影響?請說明 之。(10 分)
㈠在金屬-氧化層-半導體所形成的電容(Metal-Oxide-Semiconductor Capacitor, MOS capacitor)中,若半導體為n 型,試畫出此金屬-氧化層-半導體電容在低頻 與高頻的電容對電壓的(capacitance-voltage,C-V)特性曲線圖,並解釋所繪出 的特性曲線圖。(10 分) ㈡在金屬-氧化層-半導體所形成的空乏型(depletion-mode)金氧半場效應電晶體 (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,MOSFET)中,若半導體為 n 型,它的臨界電壓是正值或負值?請說明理由。(10 分)
㈠請說明在光微影蝕刻(optical lithography)技術中,紫外光所扮演的角色。(10 分) ㈡請說明在光微影蝕刻技術中,比較使用正光阻與負光阻的優缺點。(10 分)