電子工程 99 年電子元件考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
99 年申
第 1 題一個均勻摻雜的pn 接合面濃度是na=1019 cm-3 以及nd=1014 cm-3。若ni=1010 cm-3, kT/q=0.026 V。(每小題5 分,共20 分) ㈠當外加偏壓V=0 時,空乏區兩側邊緣的少數載子濃度分別是多少? ㈡當外加偏壓V=0.6 V 時,空乏區兩側邊緣的少數載子濃度分別是多少? ㈢當外加偏壓V=0.6 V 時,空乏區兩側邊緣的過量少數載子(excess minority carrier) 濃度分別是多少? ㈣當外加偏壓V=0.6 V 時,空乏區兩側邊緣的多數載子濃度分別是多少?
99 年申
第 2 題一個N+複晶矽-二氧化矽-p 型矽基板的MOS 電容器內,當基板摻雜濃度減少時,請 說明下列各參數有何變化,並簡單解釋。(每小題4 分,共20 分) ㈠累積區電容。 ㈡空乏區電容。 ㈢反轉區電容。 ㈣平帶電壓(flat-band voltage)。 ㈤臨界電壓(threshold voltage)。
99 年申
第 3 題㈠什麼是複晶矽閘極空乏現象(poly-Si gate depletion)?(10 分) ㈡它對MOS 元件的各項特性有何影響?(10 分)
99 年申
第 4 題㈠說明BJT 元件的基極採用矽鍺化合半導體有何優點?(10 分) ㈡鍺在基極的濃度須如何設計,為什麼?(10 分)
99 年申
第 5 題㈠畫出pn 接面受不同的光強度照射時的I-V 曲線圖(標明光強度大小)。(6 分) ㈡在上圖中指出p-i-n 光二極體(photodiode)和雪崩光二極體(avalanche photodiode) 的工作區域。(6 分) ㈢p-i-n 光二極體和雪崩光二極體應用在光纖通訊領域時各有何優點?(8 分)
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