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電子工程·91·半導體工程1/5

電子工程 91半導體工程考古題

5 題申論題資料來源:考選部下載 .txt
跨年同科91-115

題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。

試題5
91
1

試列舉並簡要說明三種測量半導體電子或電洞濃度(concentration)的方法。(20 分)

91
2

請解釋下列名詞:(每小題5 分,共20 分) Lightly-doped drain (LDD) Two-dimensional electron gas (2DEG) Quantum Hall effect Negative differential resistance (NDR)

91
3

在CMOS 中為何會發生閉鎖(latch-up)現象?(10 分) 如何解決CMOS 的閉鎖現象?(10 分)

91
4

試列舉並簡要說明三種在矽半導體上成長SiO2 薄膜的方法。(20 分)

91
5

下二圖分別為獨立(尚未連接)的兩個半導體能帶圖,試畫出在熱平衡(thermal equilibrium)下, 圖 中的兩個半導體連接後之能帶圖(10 分) 圖 中的兩個半導體連接後之能帶圖(10 分) (需標出 V C 2 F 1 F 2 V 1 V 2 C 1 C E , E , E , E , E , E , E , E ∆ ∆ ) Vacuum level qχ2 qχ1 EC2 EC1 EF1 EV1 Eg1 Eg2 EF2 EV2 qΦS2 qΦS1 C E ∆ v E ∆ 圖 Vacuum level qχ2 qχ1 EC2 EC1 EF1 EV1 Eg1 Eg2 EF2 EV2 qΦS2 qΦS1 C E ∆ v E ∆ 圖

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