電子工程 91 年半導體工程考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
91 年申
第 1 題試列舉並簡要說明三種測量半導體電子或電洞濃度(concentration)的方法。(20 分)
91 年申
第 2 題請解釋下列名詞:(每小題5 分,共20 分) Lightly-doped drain (LDD) Two-dimensional electron gas (2DEG) Quantum Hall effect Negative differential resistance (NDR)
91 年申
第 3 題在CMOS 中為何會發生閉鎖(latch-up)現象?(10 分) 如何解決CMOS 的閉鎖現象?(10 分)
91 年申
第 4 題試列舉並簡要說明三種在矽半導體上成長SiO2 薄膜的方法。(20 分)
91 年申
第 5 題下二圖分別為獨立(尚未連接)的兩個半導體能帶圖,試畫出在熱平衡(thermal equilibrium)下, 圖 中的兩個半導體連接後之能帶圖(10 分) 圖 中的兩個半導體連接後之能帶圖(10 分) (需標出 V C 2 F 1 F 2 V 1 V 2 C 1 C E , E , E , E , E , E , E , E ∆ ∆ ) Vacuum level qχ2 qχ1 EC2 EC1 EF1 EV1 Eg1 Eg2 EF2 EV2 qΦS2 qΦS1 C E ∆ v E ∆ 圖 Vacuum level qχ2 qχ1 EC2 EC1 EF1 EV1 Eg1 Eg2 EF2 EV2 qΦS2 qΦS1 C E ∆ v E ∆ 圖
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