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電子工程·108·積體電路技術研究1/5

電子工程 108積體電路技術研究考古題

5 題申論題資料來源:考選部下載 .txt
跨年同科91-115
115制度上該年沒有本科114制度上該年沒有本科113制度上該年沒有本科112制度上該年沒有本科111制度上該年沒有本科110制度上該年沒有本科109制度上該年沒有本科10851070 題10651050 題10451030 題10251010 題1000 題990 題98597制度上該年沒有本科96制度上該年沒有本科95制度上該年沒有本科94制度上該年沒有本科93制度上該年沒有本科92制度上該年沒有本科91制度上該年沒有本科

題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。

試題5
108
1

使用深次微米積體電路製程所製造出的電晶體有不可忽略的漏電流 (leakage current)效應,請問一個標準CMOS 邏輯閘的輸出邏輯值, 是否會受到漏電流的影響?請說明理由。(20 分)

108
2

將多個功能不同的晶片,整合成一個系統單晶片(System-on-a-chip, SOC)再封裝成一個積體電路(IC),相較於使用印刷電路板整合多顆積 體電路,請說明其優點為何?(20 分)

108
3

請說明nMOS 電晶體的基底(Body)在正常工作下為何需要接地(GND)? (20 分)

108
4

請分別說明電子遷移現象(Electromigration)和交談現象(Crosstalk) 如何影響電路佈局(layout)之考量?(20 分)

108
5

請說明一個標準CMOS 反相器,當其工作電壓下降成原來的一半時,會 對其動態功率消耗(Dynamic power consumption)造成何影響?又當此 反相器的負載電容加大成原來的兩倍時,又會對其動態功率消耗造成何 影響?(20 分)

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