電子工程 106 年積體電路技術研究考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
106 年申
第 1 題㈠說明標準CMOS 邏輯閘和pseudo-nMOS 邏輯閘在矽面積(Silicon Area)、功率消 耗及雜訊邊限(Noise Margin)上之差異。(10 分) ㈡比較CMOS 邏輯閘和nMOS 邏輯閘在所使用的電晶體數、功率消耗及雜訊邊限上 之差異。(10 分)
106 年申
第 2 題㈠畫出CMOS 反相器之電路圖。(5 分) ㈡畫出CMOS 反相器之轉移曲線並標示pMOS 和nMOS 電晶體之工作區。(10 分) ㈢說明CMOS 反相器如欲正常工作,其電源電壓之最低值應為何?(5 分)
106 年申
第 3 題請說明使用CMOS n-well 製程技術,製造CMOS 反相器之製造程序。(20 分)
106 年申
第 4 題請試述下列名詞之意涵:(每小題5 分,共20 分) ㈠積體電路之可靠度(Reliability) ㈡電子遷移現象(Electromigration) ㈢基體效應(Body Effect) ㈣交談現象(Crosstalk)
106 年申
第 5 題㈠何謂系統晶片(SOC)?其和一般System on Board(SOB)之差異為何?(10 分) ㈡何謂三維積體電路(3D-IC)?其和一般二維之平面式積體電路之差異為何?(10 分)
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