電子工程 110 年積體電路技術考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
110 年申
第 1 題㈠試以數學表示式定義「等效氧化層厚度」(EOT, equivalent oxide thickness)。(10 分) ㈡假設氧化鋁的厚度為20 nm、相對介電常數εr = 9,試求其等效氧化層 厚度(EOT)為?(10 分)
110 年申
第 2 題㈠試繪圖說明何謂CMOS 閂鎖(latch-up)效應。(10 分) ㈡試說明兩種可預防發生CMOS 閂鎖效應之製程設計。(10 分)
110 年申
第 3 題金氧半場效電晶體(MOSFET)以定電場方式縮小元件尺寸(constant-field scaling),如果尺寸縮小參數(scaling factor)k = 0.7,試輔以數學表示式 說明下列元件或電路參數在微型化後之變化:(每小題4 分,共20 分) ㈠通道長度(L) ㈡汲-源極電壓(VDS) ㈢施體或受體摻雜濃度(ND 或NA) ㈣閘極電容(CG) ㈤功率(P)
110 年申
第 4 題㈠試指出濕式蝕刻(wet etching)係具備等向性(isotropic)或非等向性 (anisotropic)蝕刻特性。(5 分) ㈡請列舉三項控制濕式蝕刻速率之因素。(15 分)
110 年申
第 5 題假設樣品A 為被氮化鈦(TiN)黏著層完全包覆之銅(Cu)導線,其正方 形截面積為0.5 μm × 0.5 μm,TiN 之厚度為t;另樣品B 為具有相同正方 形截面積之TiN/鋁(Al)/TiN 堆疊層導線,其上層TiN 厚度為40 nm、 下層TiN 厚度為60 nm。假設Cu 之電阻係數為1.7 μΩ-cm,Al 之電阻 係數為2.7 μΩ-cm,且樣品A 與B 在相同長度之下,具有相同的電阻, 試求樣品A 之TiN 黏著層厚度t =?(20 分)
同年其他科目110 · 22 卷