電子工程 102 年積體電路技術考古題
跨年同科91-115
題目為考試當年公告版本,實務標準請以現行規範為準。
試題5 題
102 年申
第 1 題依據下列的因素:訊號的處理、製程的需求、佈局的考量、設計的方法等,列表說明 數位積體電路與類比積體電路設計的不同。(20 分)
102 年申
第 2 題以半導體製造廠之污染控制考量: ㈠解釋靜電放電(ESD)。(5 分) ㈡列表與說明三種ESD 的控制方法。(15 分)
102 年申
第 3 題在一P 型矽基板上,如以一2P2M N-well(N-井)CMOS 製程為例,完成以下元件 之相關問題: ㈠如擬完成一N-井層電阻,試繪出此電阻的剖面圖。(5 分) ㈡如擬完成上述電阻之製作,考量到金屬層(M1)的連線,至少需要幾道光罩 (mask)?請按合理的製程先後次序,依序寫下這些光罩層的名稱與其使用目的。 (15 分)
102 年申
第 4 題在MOS 積體電路製程中,以P 型矽基板製作NMOS 電晶體為例: ㈠試繪出此電晶體具有LDD 結構的剖面圖,並說明使用此結構的理由。(10 分) ㈡為了完成此LDD 結構的製作,請說明其製作流程的重點。(10 分)
102 年申
第 5 題在低功率的電路應用,MOS 元件會工作在弱反轉區(Weak inversion)或次臨界區 (Sub-threshold region),說明MOS 元件在次臨界區工作的特點。(20 分)
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