矽pn 接合面已知p 區之摻雜濃度Na = 2 × 1015 cm-3,n 區之摻雜濃度Nd = 1 × 1016 cm-3,
假設摻雜濃度均勻分布(abrupt junction),在常溫熱平衡下矽之本質載子濃度(intrinsic
carrier concentration)為ni = 1 × 1010 cm-3,1kT/e = 0.026 V,1e = 1.6 × 10-19 C,
εsi = 11.7 εo,εo= 8.85 × 10-14 F/cm,請求出:
熱平衡下之內建電位(built-in potential)Vbi =?(5 分)
負偏壓-5 V 時之空乏區(depletion region)寬度為-2 V 時之幾倍?(5 分)
在低位準注入(low level injection)條件下,分別畫出順偏壓及反偏壓時之各區(含
p 區、空乏區及n 區)電子與電洞濃度n(x)與p(x)分布曲線概圖。(5 分)
在低位準注入(low level injection)條件下,加上順偏壓0.13 V,於空乏區邊緣處
注入n 區之電洞濃度為多少?(5 分)