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電子工程 105 年半導體工程考古題

民國 105 年(2016)電子工程「半導體工程」考試題目,共 9 題 | 資料來源:考選部

0 題選擇題 + 9 題申論題

回答下列問題:(每小題10 分,共20 分) 在室溫下,具有3.29 × 1017 cm-3電洞濃度的P 型鍺材料,假如它的本質濃度(intrinsic concentration, ni)是2.5 × 1013 cm-3,請計算此材料的電子濃度費米能階與本質 費米能階(intrinsic Fermi level)的能量差距。 關於金屬與半導體的蕭特基接觸(Schottky contact),請解釋為什麼蕭特基接觸不 會展現出擴散電容(diffusion capacitance)的特性?
若有一n 型半導體其熱平衡下之能帶圖(局部)如圖1 所示,其長度為L, 0 ) 0 ( n x n = = 。 求電位差 (0)) - ) ( ( Δ V L V V = 、電場強度分布E(x)與以 0 n 、L與V Δ 為參數表示之電 子濃度分布 ) (x n 。(10 分) 若將此n 型半導體右端接地,左端外接一電壓源 ) Δ ( V VA = ,請繪出此n 型半導體之 能帶圖並求淨電子電流密度分布 ) (x Jn ,已知電子移動率(mobility)為 n μ 。(15 分) 圖1
(0) 10 分
回答下列問題:(每小題10 分,共20 分) 如下圖的兩個相同pnp 雙極性電晶體(Transistor A 與Transistor B),除了它們的射 極(E)與集極(C)摻雜濃度剛好交換之外。請說明那一個電晶體預期具有較高 的射極效率(emitter efficiency)?那一個電晶體預期具有較高的集極-基極崩潰電 壓(collector-base breakdown voltage)? 關於npn 雙極性電晶體,當我們縮小npn 雙極性電晶體的平面結構(planar configuration)尺寸時,接面深度也必須同時縮減。請說明如何做出淺接面(shallow junction)? p n p p n p 105年公務人員特種考試警察人員、一般警察人員 考試及105年特種考試交通事業鐵路人員考試試題 全一張 (背面) 考試別: 鐵路人員考試 等 別: 高員三級考試 類科別: 電子工程 科 目: 半導體工程
若有一理想n 型矽半導體與一理想矽pn 接面二極體,其元件結構如圖2 所示。 (每小題10 分,共20 分) 請繪出此兩個元件於照光(光能量>矽能隙寬度)前與後的I-V 特性曲線。 比較兩個元件於照光下的I-V 曲線,說明其不同處及造成兩者差異之原因。 圖2 I1 I2 V + + - - V 105年公務人員高等考試三級考試試題 全一張 (背面) 類 科:電子工程 科 目:半導體工程
回答下列問題:(每小題10 分,共20 分) 對於一理想的金屬-氧化層-半導體電容(metal-oxide-semiconductor capacitor, MOS capacitor),具有下圖的電容-電壓(capacitance-voltage, C-VG)特性,請說明反轉 (inversion)、空乏(depletion)、平坦能帶(flat band)、VG = VT(VG 為閘極電壓, VT 為臨界電壓)、聚積(accumulation)分別對應至下圖電容-電壓特性曲線中a、b、 c、d、e 的何點? 請比較金屬-氧化層-半導體場效電晶體(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor, MOSFET)與調變摻雜場效電晶體(modulation-doped field-effect transistor, MODFET)在元件結構與特性上的差異。
一理想金氧半場效電晶體(MOSFET),臨界電壓 V 1 = th V ,介電層(SiO2)厚度10 nm, SiO2 介電係數 0 3.9ε , F/cm 10 854 .8 14 0 − × = ε 。(每小題10 分,共20 分) 若汲極飽和電壓與飽和電流分別為 V 5.2 與mA 5 ,請繪出汲極電壓範圍 V Vds 5 0 ≤ ≤ 之輸出特性曲線並求對應此曲線之閘極電壓 gs V 。 求於 V V V gs ds 4.5 = = 偏壓下之汲極電流ds I 以及於源極端與汲極端之單位面積反轉 層電荷量。
回答下列問題:(每小題10 分,共40 分) 一般清洗矽晶圓,都採用RCA cleans 方式,請說明什麼是RCA cleans? 目前在超大型積體(VLSI)電路的金屬化(metallization)製程,多採用銅導線而 不是鋁導線。因為採用鋁導線會產生電子遷移(electromigration)的問題,請說明 什麼是電子遷移(electromigration)? 請說明摻雜的二氧化矽(doped silicon dioxide)用途。 以砷化鎵的磊晶技術為例,請說明化學氣相沉積(chemical vapor deposition, CVD) 與有機金屬化學氣相沉積(metal-organic chemical vapor deposition, MOCVD)兩者 的差異。 a VG b c d e C
請敘述雙極性接面電晶體(BJT)擁有電流放大能力之主因。(15 分)
若以SiO2 為遮罩材料(開口尺寸為 μm 3 μm 3 × )並採用KOH 溶液分別蝕刻(100) 與( 0 1 1 )晶面矽基板。 請繪出蝕刻深度為0.707 μm 時所得蝕刻圖形的剖面圖(須標示蝕刻圖形之尺寸、 蝕刻面及角度)。(15 分) 請說明何以得到此種蝕刻圖案之原因。(5 分)
(100) 15 分

電子工程 105 年其他科目

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