品管人員想要了解每張電路板之晶片損壞的平均個數。由於每張電路板所包含的晶
片個數不完全相同,且每張電路板上損壞晶片的個數與電路板上的晶片總數有高度
的相關。因此,品管人員依照每張電路板上的晶片個數,利用依大小成比例的機率
抽樣法(sampling with probabilities proportional to size, PPS)抽樣。某天生產的10
張電路板的晶片個數如下:8, 12, 22, 10, 16, 24, 9, 10, 9, 30。
若利用亂數表隨機選取的數字為7, 66, 30, 140,請利用PPS 抽樣法抽出4 張電路
板為集體樣本。(12 分)
若挑選出的電路板為第2, 3, 5, 7 張電路板,其中損壞的晶片數分別為1, 3, 2, 1。估計
每張電路板之晶片損壞的平均個數,並求算此估計式的95%誤差界限。(13 分)
註:
96
.1
025
.0
=
z